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8位RISC_CPU可測(cè)性設(shè)計(jì)

  • 8位RISC_CPU可測(cè)性設(shè)計(jì),摘要：本文介紹了一款RISC_CPU的可測(cè)性設(shè)計(jì),為了提高芯片的可測(cè)性,采用了掃描設(shè)計(jì)和存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)試,這些技術(shù)的使用為該芯片提供了方便可靠的測(cè)試方案。1 引言隨著IC設(shè)計(jì)方法與工藝技術(shù)的不斷進(jìn)步，集成電路結(jié)構(gòu)和功
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risc_cpu介紹

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