- 半導體制程技術持續(xù)精進，隨之而來的制程偏移(ProcessVariation)及小尺寸效應，恐導致設計結果的不確定性，因此如何建立完善的統(tǒng)計模型(StatisticalModel)，同時在ICDesign的階段能夠正確地應用統(tǒng)計模型，并且可以進行快速準確的良率分析，有效避免電路性能與良率(Yield)遭受影響，可謂當前重大課題。
回顧2012年6月落幕的DesignAutomationConference(DAC)2012大會，個中最大亮點，無疑正是ProPlus領先EDA業(yè)界推出的「整合良率導
- 關鍵字：
ProPlus EDA NanoYield
- 概倫電子科技有限公司今日宣布推出其良率導向設計(DFY)平臺的新產品NanoYield，該產品以IBM授權的專利技術為基礎，旨在通過高效的良率分析和設計優(yōu)化，提升高端芯片設計的競爭力。
- 關鍵字：
概倫 DFY NanoYield
nanoyield介紹
您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條nanoyield!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對nanoyield的理解，并與今后在此搜索nanoyield的朋友們分享。
創(chuàng)建詞條
關于我們 -
廣告服務 -
企業(yè)會員服務 -
網站地圖 -
聯系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網安備11010802012473
