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【系統(tǒng)解析】LTE測(cè)試的難點(diǎn)

【系統(tǒng)解析】LTE測(cè)試的難點(diǎn)-測(cè)試技術(shù)是LTE發(fā)展產(chǎn)業(yè)鏈上十分關(guān)鍵的一環(huán)，面對(duì)LTE產(chǎn)業(yè)多模多頻的終端發(fā)展方向以及移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)時(shí)代復(fù)雜的網(wǎng)絡(luò)環(huán)境，LTE測(cè)試還有哪些測(cè)試難點(diǎn)待解？
關(guān)鍵字： TD-LTE終端 MIMO系統(tǒng) LTE產(chǎn)業(yè) LTE測(cè)試

用于MIMO系統(tǒng)的三頻段天線陣設(shè)計(jì)

每天都有新的用戶對(duì)服務(wù)和數(shù)據(jù)傳輸速度提出新的要求。多頻天線的發(fā)展已成為擴(kuò)展手機(jī)性能的一種通用方法...
關(guān)鍵字： MIMO系統(tǒng) 三頻段天線陣設(shè)計(jì)

用于MIMO系統(tǒng)的三頻段天線陣

電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
關(guān)鍵字： MIMO系統(tǒng) 天線陣 PIFA 隔離度

球形檢測(cè)器在MIMO通信系統(tǒng)中的應(yīng)用及FPGA實(shí)現(xiàn)

關(guān)鍵字：空分復(fù)用球形檢測(cè)器 MIMO系統(tǒng) FPGA

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mimo系統(tǒng)介紹

　　下一代移動(dòng)通信系統(tǒng)必須具有更高的傳輸速率和更好的傳輸性能,需要更高網(wǎng)絡(luò)容量和更高無(wú)線網(wǎng)絡(luò)性能的需求。多輸入多輸出(MIMO)系統(tǒng)能極大地改善頻譜效率，因此MIMO將在很多未來(lái)的無(wú)線通信系統(tǒng)中扮演重要角色?！　∈街?，γ＝P／σ2為發(fā)送端的總功率P與每個(gè)接收天線的噪聲方差的比值，也就是每根接收天線端的平均信噪比。對(duì)于nR×nT矩陣H，秩的最大值為m＝min（nR，nT），也就是說(shuō)，至多 [ 查看詳細(xì) ]