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T/R組件波束控制測試方案設(shè)計(jì)

• 　　1引言 　　信息技術(shù)的發(fā)展早已滲透到國民經(jīng)濟(jì)的各個(gè)領(lǐng)域，而雷達(dá)技術(shù)自問世以來就已經(jīng)在軍事領(lǐng)域發(fā)揮著舉足輕重的作用。為適應(yīng)人造地球衛(wèi)星及彈道導(dǎo)彈的觀測要求，有源相控陣?yán)走_(dá)技術(shù)獲得了飛速發(fā)展。 　　T/R組件波束控制電路是有源相控陣?yán)走_(dá)上的關(guān)鍵元器件。波束控制電路一般為定制專用芯片，不同的波控電路差異較大，但是其主要的工作原理及內(nèi)部結(jié)構(gòu)大致相同。由于具有專用性，波束控制電路的測試比較麻煩。本文分析了波束控制電路的主要內(nèi)部結(jié)構(gòu)，找出電路測試中的難點(diǎn)，提出一種解決方案，并給出設(shè)計(jì)原理與結(jié)構(gòu)，為該類電路的測
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