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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 4200a-scs

用4200A和矩陣開關(guān)搭建自動(dòng)智能的可靠性評(píng)估平臺(tái)

  • _____在現(xiàn)代ULSI電路中溝道熱載流子（CHC）誘導(dǎo)的退化是一個(gè)重要的與可靠性相關(guān)的問題。載流子在通過MOSFET通道的大電場加速時(shí)獲得動(dòng)能。當(dāng)大多數(shù)載流子到達(dá)漏極時(shí)，熱載流子（動(dòng)能非常高的載流子）由于原子能級(jí)碰撞的沖擊電離，可以在漏極附近產(chǎn)生電子—空穴對。其他的可以注入柵極通道界面，打破Si-H鍵，增加界面態(tài)密度。CHC的影響是器件參數(shù)的時(shí)間相關(guān)的退化，如VT、IDLIN和IDSAT。這種通道熱載流子誘導(dǎo)的退化（也稱為HCI或熱載流子注入）在NMOS和PMOS器件上都可以看到，并會(huì)影響所有區(qū)域的器件
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如何用4200A-SCS進(jìn)行晶圓級(jí)可靠性測試？

  • 每個(gè)芯片上更多器件和更快時(shí)鐘速度的不斷發(fā)展，推動(dòng)了幾何形狀縮小、新材料和新技術(shù)的發(fā)展。由于更脆弱、功率密度更高、器件更復(fù)雜和新的失效機(jī)制，所有這些因素都對單個(gè)器件的壽命和可靠性產(chǎn)生了巨大的影響，曾經(jīng)壽命為100年的器件的生產(chǎn)工藝現(xiàn)在可能只有10年的壽命，這與使用這些器件的預(yù)期工作壽命非常接近。較小的誤差范圍意味著，必須從一開始就考慮器件的壽命和可靠性，從設(shè)備開發(fā)到工藝集成再到生產(chǎn)不斷進(jìn)行監(jiān)控，即使是很小的壽命變化，對今天的設(shè)備來說也可能是災(zāi)難性的。每個(gè)芯片上更多器件和更快時(shí)鐘速度的不斷發(fā)展，推動(dòng)了幾何形狀
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4200A-CVIV多開關(guān)使測試時(shí)間縮短30倍

  • 泰克高性能4200A-SCS 是一個(gè)模塊化、可定制、高度一體化的參數(shù)分析儀，可同時(shí)進(jìn)行電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 電學(xué)測試。
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何為4200-SCS集成ACS軟件？

  • 直接將ACS安裝至4200-SCS的嵌入式PC中能讓功能強(qiáng)大 的ACS集成測試系統(tǒng)兼有兩者優(yōu)點(diǎn)。小尺寸但功能強(qiáng)大的 4200-SCS測量硬件結(jié)合了ACS軟件的全自動(dòng)化特性，能在極小的封裝中實(shí)現(xiàn)令人印象深刻的測試功能和自動(dòng)化。使用
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恩智浦收購Athena SCS

  • 　　恩智浦半導(dǎo)體(NXP Semiconductors N.V.)日前宣布將收購Athena SCS Ltd.，一家致力于保護(hù)快速發(fā)展的互聯(lián)世界安全的解決方案供應(yīng)商。 此次收購將進(jìn)一步增強(qiáng)恩智浦面向物聯(lián)網(wǎng)(IoT)、便攜式和可穿戴以及汽車等眾多應(yīng)用領(lǐng)域提供安全解決方案的實(shí)力。 　　恩智浦半導(dǎo)體全球銷售和市場執(zhí)行副總裁Steve Owen表示：“Athena在各類安全連接解決方案的領(lǐng)先嵌入式軟件和加密技術(shù)開發(fā)方面擁有較強(qiáng)的優(yōu)勢。 恩智浦專注于為智能世界創(chuàng)建安全連接，而Athena的專業(yè)技術(shù)和知
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利用吉時(shí)利4200-SCS型優(yōu)化小電流測量的最佳解決方

  • I分析系統(tǒng)優(yōu)化小電流測量- 引言許多關(guān)鍵應(yīng)用都需要能夠測量小電流的能力——比如pA級(jí)或更小。這些應(yīng)用包括確定FET的柵極漏流、測試敏感的納米電子器件，以及測量絕緣體或電容的漏流。4200-SCS型半導(dǎo)體特性
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可控硅控制開關(guān)（SCS）

  • 硅控制開關(guān)SCS(SILICon ControlLED Switch)亦稱四端小功率晶閘管。它屬于新穎、多功能半導(dǎo)體器件。只要改變 ...
  • 關(guān)鍵字： 可控硅  控制  開關(guān)  SCS  

分析系統(tǒng)優(yōu)化小電流測量

  • ?????? I分析系統(tǒng)優(yōu)化小電流測量- 引言 　　許多關(guān)鍵應(yīng)用都需要能夠測量小電流的能力——比如pA級(jí)或更小。這些應(yīng)用包括確定FET的柵極漏流、測試敏感的納米電子器件，以及測量絕緣體或電容的漏流。 　　4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)配備可選的4200-PA型遠(yuǎn)程前置放大器時(shí)，可提供非常卓越的小電流測量能力，分辨率達(dá)1E–16A。成功測量小電流不僅依賴于使用非常靈敏的安培計(jì)，例如4200-SCS型，而
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吉時(shí)利4200-SCS新增C-V測量模塊4200-CVU

  • 　　吉時(shí)利儀器公司(Keithley)，宣布為其4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)新增一套C-V測量功能—4200-CVU。4200-CVU能以測量模塊的形式插入4200-SCS的任意可用儀器插槽中，能在10KHz到10MHz的頻率范圍內(nèi)快速而方便地測量飛法(fF)和納法(nF)級(jí)電容。在4200-CVU的創(chuàng)新設(shè)計(jì)中采用了先進(jìn)的高性能電路，有8項(xiàng)專利正在申請中。該設(shè)備具有直觀的點(diǎn)擊式配置界面，線纜連接簡單，內(nèi)置的元件模型能夠使用戶直接獲得有效的C-V測量結(jié)果。無論用戶是否具有相關(guān)測量經(jīng)驗(yàn)，都能使用該儀器實(shí)
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吉時(shí)利發(fā)布4200-SCS半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)最新版

  • 　　美國吉時(shí)利（Keithley）儀器公司日前發(fā)布獲獎(jiǎng)產(chǎn)品——4200-SCS半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)的最新硬件和軟件升級(jí)版本，本次升級(jí)引入4200-SCS新一代脈沖測試功能。實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)的應(yīng)用將集成直流和脈沖測量功能與完整的應(yīng)用工具包結(jié)合，為用戶提供完整解決方案。功能增強(qiáng)的脈沖發(fā)生器插卡和新型的示波器插卡，為半導(dǎo)體技術(shù)生產(chǎn)和研究者們提供強(qiáng)大新功能。新升級(jí)版本不僅增強(qiáng)了吉時(shí)利4200-PIV工具包功能，還提供兩種新版應(yīng)用解決方案，將4200-SCS通用直流與脈沖測量功能進(jìn)一步擴(kuò)展到新領(lǐng)域，例如Flash存儲(chǔ)器測試
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