芯片生命周期管理 文章 進(jìn)入芯片生命周期管理技術(shù)社區(qū)

新思科技芯片生命周期管理再升級，加速數(shù)據(jù)傳輸并顯著縮短測試時(shí)間

• 新思科技（Synopsys, Inc.，）近日推出了一項(xiàng)創(chuàng)新的流結(jié)構(gòu)技術(shù)（Streaming fabric technology），能夠?qū)⑿酒瑪?shù)據(jù)訪問和測試的時(shí)間最高縮短80%，并極大程度地降低極限功耗，從而支持日益復(fù)雜的大型設(shè)計(jì)中芯片健康監(jiān)測的實(shí)時(shí)分析。作為新思科技芯片生命周期管理流程的一部分，該創(chuàng)新的流結(jié)構(gòu)是一種獨(dú)特的片上網(wǎng)絡(luò)，由新思科技TestMAX? DFT可測性設(shè)計(jì)工具生成，可以快速地將芯片數(shù)據(jù)傳輸?shù)蕉鄠€(gè)設(shè)計(jì)塊和多裸晶芯片系統(tǒng)中，顯著縮短了測試和分析芯片整體健康狀況以發(fā)現(xiàn)異常和故障的時(shí)間
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