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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 電容失配校正

一種基于最小均方算法的數(shù)字后臺校正方法

  • 摘?要：本文介紹了一種數(shù)字后臺校正方法，針對在小工藝尺寸下，電容匹配精度不高，從而影響ADC性能的問題，提出了一種適用于逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器（SAR ADC）的數(shù)字后臺校正方法。在MATLAB仿真環(huán)境中，給出了該方法的仿真結(jié)果。結(jié)果表明16位的SAR ADC在單位電容為3%的失配情況下，有效位數(shù)（ENOB）由12.1位提升至14.8位，無雜散動態(tài)范圍（SFDR）由81 dB提升至100 dB。
  • 關(guān)鍵字： 202005  SAR ADC  數(shù)字后臺  電容失配校正  
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電容失配校正介紹

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