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測(cè)量
測(cè)量 文章 進(jìn)入測(cè)量 技術(shù)社區(qū)
材料是技術(shù)的增強(qiáng)者
- “綠色產(chǎn)品是未來(lái)電子產(chǎn)業(yè)發(fā)展的趨勢(shì),而綠色材料決定了綠色產(chǎn)品”,Honeywell電子材料部總經(jīng)理李蓓凱(Rebecca Liebert)接受采訪時(shí),簡(jiǎn)單明了地指明了材料對(duì)于整個(gè)電子行業(yè)的決定作用。電子材料廣泛用于整個(gè)半導(dǎo)體行業(yè),而且涉及整個(gè)設(shè)計(jì)和制造流程,在整個(gè)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈的最前端是技術(shù)的增強(qiáng)者。材料技術(shù)的發(fā)展是個(gè)緩慢演變的過(guò)程,不會(huì)出現(xiàn)太大的跨越,但也許一個(gè)微小的變化足以引發(fā)整個(gè)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的革命。設(shè)備的發(fā)展推動(dòng)了半導(dǎo)體工業(yè)前期的迅速發(fā)展,而從現(xiàn)在開始,半導(dǎo)體的發(fā)展需要靠設(shè)備與材料共同發(fā)展來(lái)推動(dòng)。更重要
- 關(guān)鍵字: 0701_A 測(cè)量 測(cè)試 雜志_關(guān)注焦點(diǎn)
顯示技術(shù)在比拼中前進(jìn)
- 五官是人的信息接收端,但據(jù)說(shuō)85%是通過(guò)眼睛的圖像輸入接入信息。統(tǒng)計(jì)顯示人五官接受信息時(shí)的感受細(xì)胞數(shù)量和處理速度如表1所示。從五官接收信息的細(xì)胞數(shù)量方面進(jìn)行比較,視覺最大,觸覺、味覺次之;而從處理速度而言,視覺也最快,達(dá)3Mbps,聽覺要低2個(gè)數(shù)量級(jí)。相比而言,作為人機(jī)接口的顯示器,其重要性可見一斑。此外,表1也告訴我們嗅覺在兩方面都處于前列,或許會(huì)成為未來(lái)重要的人機(jī)接口也未可知。 顯示器已從CRT(陰極射線管)發(fā)展到了今天以FPD(平板顯示器)為主流,應(yīng)用不斷擴(kuò)大,電視機(jī)、監(jiān)視器、筆記本電腦、移動(dòng)電話
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中國(guó)電子信息產(chǎn)業(yè)籌備組建聯(lián)盟
- 日前,由中國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部經(jīng)濟(jì)體制改革與運(yùn)行司主辦的中國(guó)電子信息產(chǎn)品污染控制推進(jìn)大會(huì),在電子制造基地深圳落下帷幕。 近些年來(lái),IT產(chǎn)業(yè)持續(xù)高速發(fā)展,在給人們帶來(lái)便利、快捷和其他福利的同時(shí),對(duì)環(huán)境造成了嚴(yán)重的“電子污染”危機(jī)。電子垃圾對(duì)環(huán)境的危害性和破壞性是巨大的,影響中國(guó)的可持續(xù)發(fā)展戰(zhàn)略;同時(shí)伴隨中國(guó)進(jìn)入WTO五年進(jìn)程,綠色貿(mào)易壁壘已經(jīng)逐漸制約中國(guó)電子信息企業(yè)的國(guó)際化進(jìn)程,已經(jīng)影響到中國(guó)電子信息產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展。 為了促進(jìn)產(chǎn)業(yè)健康發(fā)展、引導(dǎo)企業(yè)積極應(yīng)對(duì)綠色調(diào)貿(mào)易壁壘,信息產(chǎn)業(yè)部聯(lián)合國(guó)家發(fā)改委、商務(wù)部
- 關(guān)鍵字: 測(cè)量 測(cè)試 籌備組 單片機(jī) 電源技術(shù) 工業(yè)控制 聯(lián)盟 模擬技術(shù) 汽車電子 嵌入式系統(tǒng) 通訊 網(wǎng)絡(luò) 無(wú)線 消費(fèi)電子 中國(guó)電子信息產(chǎn)業(yè) 工業(yè)控制
單片機(jī)在絕熱材料導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 1 引言 隨著社會(huì)的發(fā)展,人們環(huán)保意識(shí)的增強(qiáng),對(duì)建筑材料的要求越來(lái)越高,導(dǎo)熱系數(shù)作為衡量建筑材料保溫性能的重要指標(biāo)一直為人們所重視,因而開發(fā)設(shè)計(jì)出高精度絕熱材料導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量?jī)x器十分必要。絕熱材料導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量基于一維穩(wěn)態(tài)傳熱原理,測(cè)出試件冷熱面的平均溫度(TC、TH)和穩(wěn)態(tài)加熱功率(P),由下式即可計(jì)算出導(dǎo)熱系數(shù):λ=Pd/A(TH-TC),其中d為試件厚度,A為試件對(duì)應(yīng)主加熱器部分的橫截面積。整個(gè)測(cè)量系統(tǒng)主要由爐體和溫度、功率測(cè)控系統(tǒng)兩部分組成,爐體按國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的要求加工制造,大同小異,而溫度、功率測(cè)控
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國(guó)外專利06年占全國(guó)發(fā)明專利半壁江山
- 國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局30日召開新聞發(fā)布會(huì)表示,2006年我國(guó)向國(guó)內(nèi)授權(quán)發(fā)明專利達(dá)2.5萬(wàn)件,占發(fā)明專利授權(quán)總量的43.4%,向國(guó)外授權(quán)3.3萬(wàn)件,占總量的56.6%。 國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局新聞發(fā)言人尹新天介紹,2006年我國(guó)對(duì)國(guó)內(nèi)外發(fā)明專利授權(quán)結(jié)構(gòu)發(fā)生了明顯變化,國(guó)內(nèi)授權(quán)數(shù)量同比增長(zhǎng)了21.1%。國(guó)外授權(quán)3.3萬(wàn)件,同比增長(zhǎng)0.3%。 據(jù)專家介紹,一般來(lái)說(shuō),在三種專利申請(qǐng)中,發(fā)明專利比實(shí)用新型、外觀設(shè)計(jì)專利含金量高。近年來(lái),國(guó)外在中國(guó)申請(qǐng)發(fā)明專利一直超過(guò)國(guó)內(nèi)發(fā)明專利的申請(qǐng)量,絕大多
- 關(guān)鍵字: 06年 半壁江山 測(cè)量 測(cè)試 單片機(jī) 電源技術(shù) 工業(yè)控制 國(guó)外專利 模擬技術(shù) 汽車電子 嵌入式系統(tǒng) 全國(guó)發(fā)明專利 通訊 網(wǎng)絡(luò) 無(wú)線 消費(fèi)電子 工業(yè)控制
基于STR-6的數(shù)控機(jī)床狀態(tài)實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)設(shè)計(jì)
- 摘 要:本文設(shè)計(jì)了基于無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸模塊STR-6的數(shù)控機(jī)床狀態(tài)實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu),介紹了數(shù)據(jù)傳輸所采用的時(shí)分多址通信協(xié)議和實(shí)時(shí)接收、處理數(shù)據(jù)的方法,完成了基于多線程技術(shù)的無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸模塊軟件設(shè)計(jì)。關(guān)鍵詞:數(shù)控機(jī)床;無(wú)線通信;時(shí)分多址;多線程 在傳統(tǒng)的CIMS(計(jì)算機(jī)集成制造系統(tǒng))中,數(shù)據(jù)流的采集、傳輸涉及大量的電纜鋪設(shè)等問(wèn)題,限制了分布式工業(yè)制造系統(tǒng)整體控制性能的提高?;赟TR-6的無(wú)線傳輸模塊能滿足對(duì)于數(shù)控機(jī)床實(shí)時(shí)監(jiān)控?cái)?shù)據(jù)的穩(wěn)定高效的傳輸要求。本文介紹了在此基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)的數(shù)控機(jī)床無(wú)線傳
- 關(guān)鍵字: 測(cè)量 測(cè)試 工業(yè)控制 數(shù)控機(jī)床 無(wú)線通信 時(shí)分多址 多線程 工業(yè)控制
適用于圖像檢測(cè)壓縮系統(tǒng)的內(nèi)存存取方式
- 為了兼具可擴(kuò)展性和數(shù)據(jù)處理速度,對(duì)于各種應(yīng)用,如圖像數(shù)據(jù)偵錯(cuò)、視頻數(shù)據(jù)壓縮、音頻數(shù)據(jù)增益、馬達(dá)控制等,可編程數(shù)據(jù)處理模塊(Programmable Data Processing Module)是時(shí)勢(shì)所需。在處理的數(shù)據(jù)量越來(lái)越大的情況下,所需的內(nèi)存容量隨之增大,以往的先進(jìn)先出隊(duì)列(First-In-First-Out, FIFO)無(wú)法滿足其高速度與大容量的需求,許多硬件工程師開始考慮使用DRAM的可能性。DRAM具備可快速存取、可依照設(shè)計(jì)者規(guī)劃使用空間、大容量等優(yōu)點(diǎn),但是內(nèi)存數(shù)組需要重新充電,而雙倍數(shù)據(jù)速
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新型電壓監(jiān)控芯片TPS383X的特性與應(yīng)用
- 在用電池供電的系統(tǒng)中,功耗要求、電源電壓監(jiān)控、系統(tǒng)復(fù)位電路的可靠性等對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定起著非常重要的作用。本文主要介紹美國(guó)TI公司最新TPS383X系列電壓監(jiān)控芯片的特性,并以此作為電池供電系統(tǒng)的電壓監(jiān)視電路作了進(jìn)一步的探討。美國(guó)TI公司最近推出的TPS383x系列產(chǎn)品是一些體積小、耗電極低的電壓監(jiān)控電路,特別適用于由電池供電、低功耗的應(yīng)用系統(tǒng)中,可提供系統(tǒng)復(fù)位、精確電壓監(jiān)控等功能。 一、產(chǎn)品特性
- 關(guān)鍵字: TPS383X 測(cè)量 測(cè)試 電壓監(jiān)控 電源技術(shù) 模擬技術(shù)
基于人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的遙感圖像去條帶方法
- 引言紅外焦平面探測(cè)是一種兼具輻射敏感和信號(hào)處理功能的新一代紅外探測(cè)技術(shù),但是由于制造過(guò)程和工作環(huán)境的影響, 使得焦平面陣列(FPA ) 各個(gè)陣列元即使在相同的輻射通量照射下,也會(huì)輸出不相同的響應(yīng)電壓。這種紅外響應(yīng)引起的遙感圖像的失真被稱作紅外圖像的非均勻性。為了提高觀測(cè)頻率、掃描范圍和空間分辨率,航天遙感一般采用推掃式的多元敏感線陣列對(duì)地物成像,通過(guò)觀察發(fā)現(xiàn),推掃得到的遙感圖像出現(xiàn)有規(guī)律的條帶失真,條帶寬度與遙感器多元敏感元個(gè)數(shù)的掃描線寬度一致,而且隨著時(shí)間的推移,條帶現(xiàn)象日趨嚴(yán)重,與單敏感元掃描圖像中的
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NI PCI和PCI Express總線的高性價(jià)比6½位數(shù)字萬(wàn)用表
- 業(yè)界首款PCI Express DMM問(wèn)世 美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱NI)宣布推出新的基于PCI和PCI Express總線的高性價(jià)比6½位數(shù)字萬(wàn)用表(DMM)PCIe-4065,擴(kuò)展了其DMM產(chǎn)品線。NI PCIe-4065 DMM是業(yè)界首款基于PCI Express總線的DMM;PCI-4065 DMM可以測(cè)量DC或AC電壓/電流、2-線和4-線電阻,也
- 關(guān)鍵字: 6½ 位數(shù)字萬(wàn)用表 Express總線 NI PCI 測(cè)量 測(cè)試 測(cè)試測(cè)量
NI專用于LEGO® MINDSTORMS® NXT玩具機(jī)器人的LabVIEW工具包
- 幫助LabVIEW用戶開發(fā)第三方的新一代機(jī)器人系統(tǒng) 美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱NI)正式宣布推出專用于LEGO® MINDSTORMS® NXT玩具機(jī)器人的LabVIEW工具包。通過(guò)這個(gè)最新的工具包,LabVIEW用戶可以創(chuàng)建并下載VI,來(lái)操作和控制MINDSTORMS NXT機(jī)器人平臺(tái),第三方軟硬件開發(fā)者也可以使用這一工具為MINDSTORMS NXT軟件創(chuàng)建本地模塊。LEGO MIND
- 關(guān)鍵字: LabVIEW工具包 LEGO® MINDSTORMS® NI NXT 測(cè)量 測(cè)試 玩具機(jī)器人 消費(fèi)電子 測(cè)試測(cè)量 消費(fèi)電子
NI推出配合LabVIEW觸摸屏模塊的12英寸全新HMI
- 為系統(tǒng)工程師構(gòu)建LabVIEW邏輯和HMI提供了全新工具 美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱NI)最新發(fā)布NI TPC-2012 12英寸觸摸屏計(jì)算機(jī),可與LabVIEW 8.20觸摸屏模塊(LabVIEW 8.20 Touch Panel Module)協(xié)同工作,將LabVIEW 圖形化開發(fā)環(huán)境發(fā)布到Windows CE HMI設(shè)備,更好地幫助控制設(shè)計(jì)工程師進(jìn)行
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基于e語(yǔ)言的驗(yàn)證自動(dòng)化系統(tǒng)
- 驗(yàn)證技術(shù)的發(fā)展在目前的集成電路設(shè)計(jì)中,芯片的規(guī)模和復(fù)雜程度正呈指數(shù)增加,為保證所設(shè)計(jì)芯片功能的正確性,需要花費(fèi)比以往更多的時(shí)間和人力,困難度大幅增加。而且,目前的功能驗(yàn)證能力已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)落后于設(shè)計(jì)能力,功能驗(yàn)證正成為大規(guī)模芯片設(shè)計(jì)的瓶頸。設(shè)計(jì)人員通常需要花費(fèi)50%~70%的時(shí)間去驗(yàn)證他們的設(shè)計(jì)。雖然有形式驗(yàn)證等多種驗(yàn)證方法可供選擇,但是設(shè)計(jì)者還是偏好基于仿真的驗(yàn)證,本文中的驗(yàn)證主要是指仿真。為了降低驗(yàn)證的工作量和提高驗(yàn)證的效率,越來(lái)越多的設(shè)計(jì)人員采用高級(jí)驗(yàn)證語(yǔ)言(HLV)來(lái)進(jìn)行芯片驗(yàn)證。 &
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運(yùn)算放大器電路中固有噪聲的分析與測(cè)量(一)
- 本系列文章將介紹如何通過(guò)計(jì)算來(lái)預(yù)測(cè)電路的固有噪聲大小,如何采用 SPICE模擬技術(shù),以及噪聲測(cè)量技術(shù)等。
- 關(guān)鍵字: 運(yùn)算放大器電路 固有噪聲 分析 測(cè)量
測(cè)量 介紹
測(cè)量的概念
所謂測(cè)量,是指用實(shí)驗(yàn)的方法,將被測(cè)量(未知量)與已知的標(biāo)準(zhǔn)量進(jìn)行比較,以得到被測(cè)量大小的過(guò)程;是對(duì)被測(cè)量定量認(rèn)識(shí)的過(guò)程。
測(cè)量的定義
1.早期的定義:研究地球的形狀和大小,確定地面點(diǎn)的坐標(biāo)的學(xué)科。
2.當(dāng)前的定義:研究三維空間中各種物體的形狀、大小、位置、方向和其分布的學(xué)科。
測(cè)量學(xué)的內(nèi)容包括測(cè)定和測(cè)設(shè)兩個(gè)部分。測(cè)定是指使用測(cè)量?jī)x器和工具,通過(guò)測(cè) [ 查看詳細(xì) ]
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