測試 文章 進(jìn)入測試技術(shù)社區(qū)
安捷倫推出適應(yīng)各種安裝的手持式數(shù)字萬用表
- 安捷倫科技發(fā)布其又一全新的手持式數(shù)字萬用表(DMM)產(chǎn)品系列-U1240A系列。通過沿用屢獲殊榮的 U1250 系列的技術(shù)創(chuàng)新,U1240系列數(shù)字萬用表提供了更適合安裝和維護(hù)應(yīng)用的功能。 使用U1240系列數(shù)字萬用表,現(xiàn)場工程師或設(shè)備技術(shù)員所能進(jìn)行的測量遠(yuǎn)不只是電壓、電流和電阻。例如對于典型的開關(guān)電壓測量,用戶可用 U1240 系列觀察間歇性信號(hào)的開關(guān)通斷行為。 用戶也能用該數(shù)字萬用表的雙溫度和溫度差測量能力確定變壓器的溫升范圍或制冷系統(tǒng)的效率。與它的微安測量功能一起,更可容易地查找 HVAC 設(shè)備
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安捷倫推出用于移動(dòng)WiMAX™應(yīng)用的無線網(wǎng)絡(luò)綜合測試儀
- 安捷倫科技公司推出一款無線網(wǎng)絡(luò)測試儀和OFDMA測量應(yīng)用軟件,組成用于移動(dòng)WiMAX設(shè)備的全套發(fā)射機(jī)和接收機(jī)綜合測試解決方案。該解決方案具有出色的技術(shù)指標(biāo)和快速的制造測試速度,可有效地滿足手機(jī)、ODM和CM制造工程師的需求,幫助他們測試使用IEEE 802.16e-2005標(biāo)準(zhǔn)的WiMAX移動(dòng)用戶設(shè)備。 在當(dāng)今的制造環(huán)境中,工程師面臨著把產(chǎn)品快速投放市場的巨大壓力。他們必須趕在競爭對手之前將產(chǎn)品投放市場,同時(shí)保護(hù)盈利潛力并盡量縮短測試時(shí)間。此外,對大量移動(dòng)WiMAX設(shè)備進(jìn)行測試需要符合標(biāo)準(zhǔn)的802.1
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Zetex低成本電流監(jiān)控器提供精確電流測量
- ZetexSemiconductors(捷特科)公司,最新推出ZXCT1020低成本電流監(jiān)控器,它能產(chǎn)生典型誤差低于1%的電流輸出信號(hào)。ZXCT1020采用5引腳SOT23封裝,通用模式電壓范圍寬達(dá)2.5V至20V,能為不同類型的應(yīng)用提供性能完備的電流測量解決方案,無論在低電壓的便攜式設(shè)備還是在汽車電路中均可派上用場。 這款高端電流監(jiān)控器能夠把檢測電阻器產(chǎn)生的電壓轉(zhuǎn)變?yōu)榈鼗鶞?zhǔn)電流輸出,只需兩個(gè)低成本的外部電阻器便可簡單配置。因此,該器件的輸出可以獨(dú)立縮放,而不需受制于檢測電阻器。兩個(gè)外部電阻器一個(gè)用來
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惠瑞捷V93000測試系統(tǒng)推出混合信號(hào)測試解決方案
- 惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司(Verigy Ltd.)的V93000測試系統(tǒng)推出消費(fèi)類電子產(chǎn)品的混合信號(hào)測試解決方案,可針對各種高集成度的消費(fèi)性電子產(chǎn)品組件,進(jìn)行晶圓測試(Wafer Sort)及終程測試(Final Test)。半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司及大量生產(chǎn)制造商經(jīng)常不得不在性能要求的廣度和有效又經(jīng)濟(jì)的測試需求之間努力尋求平衡,尤其是在設(shè)計(jì)和生產(chǎn)對價(jià)格很敏感的消費(fèi)性電子產(chǎn)品內(nèi)的混合信號(hào)組件時(shí),常見于ODD(光驅(qū))、DVD、DTV(數(shù)字電視)及STB(機(jī)頂盒)等應(yīng)用中的。這些組件的集成
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智能車運(yùn)動(dòng)狀態(tài)實(shí)時(shí)監(jiān)測系統(tǒng)的設(shè)計(jì)及實(shí)現(xiàn)
- 系統(tǒng)功能及應(yīng)用本系統(tǒng)主要完成將智能車行駛過程中的各種狀態(tài)信息(如傳感器亮滅,車速,舵機(jī)轉(zhuǎn)角,電池電量等)實(shí)時(shí)地以無線串行通信方式發(fā)送至上位機(jī)處理,并繪制各部分狀態(tài)值關(guān)于時(shí)間的曲線。有了這些曲線就不難看出智能車在賽道各個(gè)位置的狀態(tài),各種控制參數(shù)的優(yōu)劣便一目了然了。尤為重要的是對于電機(jī)控制PID參數(shù)的選取,通過速度—時(shí)間曲線可以很容易發(fā)現(xiàn)各套PID參數(shù)之間的差異。對于采用CCD傳感器的隊(duì)伍來說,該系統(tǒng)便成為了調(diào)試者的眼睛,可以見智能車之所見,相信對編寫循線算法有很大幫助。而且還可以對這些數(shù)據(jù)作進(jìn)一步處理,例如
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電動(dòng)汽車分布式電機(jī)驅(qū)動(dòng)測試系統(tǒng)研究與應(yīng)用
- 提出了一種基于CAN總線、GPIB總線和以太網(wǎng)的分布式電機(jī)驅(qū)動(dòng)測試系統(tǒng),并給出了系統(tǒng)網(wǎng)絡(luò)拓?fù)鋱D,詳細(xì)說明其硬件構(gòu)建和Labview下的軟件實(shí)現(xiàn),給出了系統(tǒng)誤差分析結(jié)果。
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IBM推出全新BladeCenter QS21系統(tǒng)
- 日前,IBM(IBM: NYSE)宣布推出基于Cell/B.E.(Cell Broadband Engine)的新版突破性計(jì)算系統(tǒng)——IBM BladeCenter QS21。它在為新老客戶帶來內(nèi)存、密度和I/O吞吐量翻番的出色性能同時(shí),提高了電源效率,實(shí)現(xiàn)了與現(xiàn)有IT基礎(chǔ)架構(gòu)的協(xié)作。此外,同期還發(fā)布了IBM多內(nèi)核加速軟件開發(fā)工具包(SDK)3.0版,該工具包是Cell/B.E.軟件生態(tài)系統(tǒng)和開發(fā)人員支持計(jì)劃的基石。 IBM BladeCente
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R&S發(fā)布用于復(fù)雜電子電路測試的嶄新測試模塊 TS-PHDT
- 借助羅德與施瓦茨公司基于PXI的生產(chǎn)測試平臺(tái)R&S CompactTSVP的新選件,即使在需要進(jìn)行大量數(shù)據(jù)運(yùn)算的領(lǐng)域,快速數(shù)字功能性測試也可以實(shí)現(xiàn)。全新的高速數(shù)字測試模塊R&S TS-PHDT支持高達(dá)40MHz的數(shù)據(jù)速率以及1.5GB的存儲(chǔ)容量。測試電子組件所需要的激勵(lì)信號(hào)、期望值以及實(shí)測值都可以存儲(chǔ)在本地。由于模塊內(nèi)部能實(shí)時(shí)對比實(shí)測值與期望值,記錄的測試數(shù)據(jù)不再需要傳送到系統(tǒng)控制器,因此節(jié)約了大量的測試時(shí)間。 R&S TS PHDT,這個(gè)小
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安捷倫攜手合作伙伴 推出領(lǐng)先數(shù)字測量技術(shù)
- 全球領(lǐng)先的測量公司安捷倫科技在北京成功舉行了第三屆安捷倫數(shù)字測量論壇(ADMF)。本屆論壇的主題圍繞安捷倫全面的數(shù)字技術(shù)測試解決方案進(jìn)行展開。安捷倫的全球合作伙伴——Xilinx和Allion等都出席了本屆論壇。多達(dá)14場的專題技術(shù)研討會(huì)和產(chǎn)品親身體驗(yàn)等活動(dòng),為電子設(shè)計(jì)工程師、系統(tǒng)設(shè)計(jì)師和技術(shù)管理人員介紹了當(dāng)前的技術(shù)熱點(diǎn)和最新的電子技術(shù)發(fā)展趨勢以及安捷倫所提供的相應(yīng)的測量技術(shù)和調(diào)試方法。 此次論壇期間,安捷倫不僅展出了近兩年推出的35種產(chǎn)品,還隆重推出了一系列擁有領(lǐng)先技術(shù)的產(chǎn)品:業(yè)界首款同時(shí)也是唯一使用傳
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邏輯分析儀的基本原理和應(yīng)用
- 摘要: 您需要同時(shí)觀看 16 位計(jì)數(shù)器的輸入和輸出信號(hào),以確定定時(shí)錯(cuò)誤時(shí),選用不正確的工具將會(huì)耗費(fèi)大量時(shí)間。采用邏輯分析儀是對于上述問題的最好解決方案。本文將詳細(xì)講述邏輯分析儀的基本原理以及它的功能。關(guān)鍵詞: 邏輯分析儀;采樣;觸發(fā) 引言一般來說,邏輯分析儀能看到比示波器更多的信號(hào)線。對于觀察總線上的定時(shí)關(guān)系或數(shù)據(jù) ——例如微處理器地址、數(shù)據(jù)或控制總線時(shí),邏輯分析儀是特別有用的。邏輯分析儀能夠解碼微處理器的總線信息,并以有意義的形式顯示??傊?,當(dāng)您通過了參數(shù)設(shè)計(jì)階段,開始關(guān)注許多信號(hào)
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惠瑞捷V93000測試系統(tǒng)推出消費(fèi)類電子產(chǎn)品的混合信號(hào)測試解決方案
- 惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司(Verigy Ltd.)的V93000測試系統(tǒng)推出消費(fèi)類電子產(chǎn)品的混合信號(hào)測試解決方案,可針對各種高集成度的消費(fèi)性電子產(chǎn)品組件,進(jìn)行晶圓測試(Wafer Sort)及終程測試(Final Test)。半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司及大量生產(chǎn)制造商經(jīng)常不得不在性能要求的廣度和有效又經(jīng)濟(jì)的測試需求之間努力尋求平衡,尤其是在設(shè)計(jì)和生產(chǎn)對價(jià)格很敏感的消費(fèi)性電子產(chǎn)品內(nèi)的混合信號(hào)組件時(shí),常見于ODD(光驅(qū))、DVD、DTV(數(shù)字電視)及STB(機(jī)頂盒)等應(yīng)用中的。這些組件的集成
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意法半導(dǎo)體推系列低端單相電表前端測量IC
- 寬產(chǎn)品線半導(dǎo)體供應(yīng)商之一的意法半導(dǎo)體日前推出一個(gè)新系列的電表IC,新IC集成了實(shí)現(xiàn)一個(gè)完整的電表系統(tǒng)所需的全部核心電路,不再需要任何其它的外部有源器件。STPM1x系列產(chǎn)品可以測量有源電能,把結(jié)果以脈沖頻率的形式輸出,并支持快速數(shù)字校準(zhǔn)功能,是一系列功能完整、成本低廉的電表芯片,特別適用于低端電表應(yīng)用。 新的STPM1x系列完全符合單相0.5級(jí)靜態(tài)電表的技術(shù)規(guī)格,具有簡單而快捷的數(shù)字校準(zhǔn)功能,在整個(gè)電流量程內(nèi),只在一個(gè)負(fù)載點(diǎn)即可完成校準(zhǔn)操作,與通過電阻網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行的硬件校準(zhǔn)相比,新產(chǎn)品的制造成本被
- 關(guān)鍵字: 測試 測量 意法半導(dǎo)體 電表 測量IC 測試測量
測試介紹
中文名稱:
測試
英文名稱:
test
定義1:
對在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測。
應(yīng)用學(xué)科:
航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)
定義2:
用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。
應(yīng)用學(xué)科:
通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科)
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