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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測試負載

優(yōu)化測試單元產能：Multitest的MT2168充分利用先進測試儀性能

  • 　　面向集成設備制造商（IDM）和最終測試分包商，設計和制造測試分選機、測試座、測試負載板的領先廠商Multitest公司，日前欣然宣布其MT2168的設計旨在實現(xiàn)最佳測試儀利用率。短Index時間（DUT交換時間）、快速上料與分類以及超大器件預熱能力均支持分選機與新一代測試儀保持同步。 　　理想情況下，如果分選機沒有局限性，增強的測試儀性能從兩方面優(yōu)化了測試單元產能：它們得益于更短測試時間和更高測試并行性的應用。 　　目前很多先進的分選機不能支持增強的測試儀性能，即使它們擁有多個相應的測試位亦是如此
  • 關鍵字： Multitest  測試負載  測試座  

Multitest推出Plug&Yield優(yōu)化測試單元設置

  • 　　面向集成設備制造商（IDM）和最終測試分包商，設計和制造測試分選機、測試座、測試負載板的領先廠商Multitest公司，日前推出Plug&Yield®——一款比其他所謂的“整體”解決方案融合更多元素的獨特產品。Multitest不僅作為整個項目的負責任的合作伙伴優(yōu)化了項目管理，亦確保了最佳上市時間。下面的案例研究描述了一個項目，針對該項目，Multitest結合先進仿真工具成功應用了并行工程方法，旨在針對頗具挑戰(zhàn)性的需要室溫-高溫-低溫測
  • 關鍵字： Multitest  測試負載  
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測試負載介紹

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