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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測(cè)試診斷

讓在線測(cè)試儀真正發(fā)揮作用

  • 對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試有多種原因，最重要的是要求在生產(chǎn)過(guò)程中保證質(zhì)量。一切過(guò)程都會(huì)出現(xiàn)某種程度的誤差，它們...
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無(wú)源干擾設(shè)備二線檢測(cè)維修的測(cè)試診斷系統(tǒng)

  • 摘要：基于PXI總線和LabVIEW技術(shù)，構(gòu)建了無(wú)源干擾設(shè)備測(cè)試診斷系統(tǒng)，可完成無(wú)源干擾設(shè)備各種功能、性能參數(shù)快速、準(zhǔn)確地測(cè)試，并依據(jù)測(cè)試結(jié)果，進(jìn)行故障診斷，給出維修策略。硬件平臺(tái)基于高性價(jià)比的PXI，測(cè)試程序采用
  • 關(guān)鍵字： 無(wú)源  干擾  測(cè)試診斷  設(shè)備    
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測(cè)試診斷介紹

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