測試測量 文章 進(jìn)入測試測量 技術(shù)社區(qū)
邊界掃描與處理器仿真測試(05-100)
- 當(dāng)前,PCB是越來越復(fù)雜,不言而喻,想要獲得滿意的測試覆蓋范圍也更困難了。而且每種測試方法都有其固有的局限性。于是,測試工程師們不得不另辟蹊徑,將幾種技術(shù)組合起來以達(dá)到他們所要求的測試覆蓋范圍。這正是IEEE 1149.1邊界掃描(俗稱JTAG)和微處理器仿真測試所追求的。邊界掃描和處理器基仿真測試有各自的應(yīng)用領(lǐng)域,每種技術(shù)都能達(dá)到某種程度的測試覆蓋范圍。然而將兩種技術(shù)無縫地組合在一起,就有可能達(dá)到更高的總測試覆蓋范圍,是任何一種單獨(dú)技術(shù)無法比擬的。
- 關(guān)鍵字： 測試測量 邊界掃描 處理器
嵌入式邊界掃描(05-100)
- 邊界掃描(IEEE1149.1)逐漸成為板級測試方法,新的開發(fā)使此技術(shù)吸引著嵌入式和系統(tǒng)級測試以及系統(tǒng)內(nèi)編程操作的注意。隨著邊界掃描步入其第2個十年,新的使人興奮的前景即將出現(xiàn)。
- 關(guān)鍵字： 測試測量 IEEE1149.1
新一代開放式儀器接口標(biāo)準(zhǔn)LXI(05-100)
- 在推動電子測量儀器技術(shù)發(fā)展過程中,從70年代初至2000年代初的三十多年中,先后出現(xiàn)GPIB(通用儀器總線,IEEE488標(biāo)準(zhǔn))、VXI(VME總線的儀器擴(kuò)展,IEEE1515標(biāo)準(zhǔn))和PXI(PCI總線的儀器擴(kuò)展)三種開放式儀器總線,2005年9月LXI聯(lián)盟發(fā)布LXI(LAN的儀器擴(kuò)展)標(biāo)準(zhǔn)1.0版本,標(biāo)志著測量儀器的新一代開放總線標(biāo)準(zhǔn)的到來。LXI標(biāo)準(zhǔn)繼承前面三種開放式總線的優(yōu)點(diǎn),在局域網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)(IEEE802.3)基礎(chǔ)上增加測量儀器系統(tǒng)所需的功能,擴(kuò)展成為性能強(qiáng)大的結(jié)構(gòu)靈活的開放式平臺,LXI聯(lián)盟發(fā)
- 關(guān)鍵字： 測試測量 LXI
下一代自動測試系統(tǒng)與合成儀器的發(fā)展(05-100)
- 合成儀器是有望革新測試產(chǎn)品的新型測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)體系,業(yè)已被業(yè)內(nèi)人士逐漸認(rèn)同。 合成儀器這個術(shù)語首先是美國國防部(DoD)下一代自動測試系統(tǒng)(NxTest)集成產(chǎn)品組使用的,用來描述該研制組竭力主張的新型測試結(jié)構(gòu)體系。2002年4月,DoC自動測試系統(tǒng)(ATS)執(zhí)行代理辦公室(EAO)正式成立NxTest IPT,由海、陸、空三軍代表組成。主要目標(biāo)有兩個：降低DoD ATS的采購和支撐成本;改進(jìn)軍事服務(wù)“ATS功能”的內(nèi)、外合作。
- 關(guān)鍵字： 測試測量 自動測試系統(tǒng) 合成儀器
NI發(fā)布2009年測試與測量發(fā)展趨勢
- 軟件定義的儀器系統(tǒng)將是本年度最重要的儀器發(fā)展趨勢，用以提升性能和降低成本 2009年1月，如今全球經(jīng)濟(jì)現(xiàn)狀對于預(yù)算成本有著嚴(yán)格的限制，測試工程師現(xiàn)今面臨的挑戰(zhàn)將是如何尋找更高效的測試方法。美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI），作為全球測試測量行業(yè)的領(lǐng)導(dǎo)者，指出2009年將極大改進(jìn)測試測量系統(tǒng)效率的三大趨勢——軟件定義的儀器系統(tǒng)，并行處理技術(shù)以及無線和半導(dǎo)體測試新方法。它們將幫助工程師在減少測試總成本的條件下，開發(fā)更快、更靈活的自動化測
- 關(guān)鍵字： NI 測試測量
測試測量 介紹
電子測試測量儀器：示波器（數(shù)字、模擬、手持式）、信號發(fā)生器（任意波、調(diào)頻調(diào)幅、音頻、射頻）、頻率計、電源、臺式萬用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐
表、鉗表、功率表、LCR、IC測試儀、耐壓/絕緣測試儀……
通信測試測量儀器：光時域反射儀（OTDR）、光纖熔接機(jī)、光萬用表、光源、光電話、光功率計、2M測試儀、協(xié)議分析儀、無線電綜合測試儀、數(shù)字電纜分析測試
儀、電纜故障測 [ 查看詳細(xì) ]
測試測量 電路
測試測量 相關(guān)帖子
測試測量 資料下載
測試測量 專欄文章
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473