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面向現(xiàn)代數(shù)據(jù)中心的測試和測量

在現(xiàn)代數(shù)據(jù)中心中，需要應(yīng)對的更棘手的問題之一是通過越來越多的高速鏈接進出數(shù)據(jù)。要測試這些高速鏈路和PCB，您需要像Rohde & Schwarz R&S ZNB 3000這樣的高端網(wǎng)絡(luò)分析儀。據(jù)說它是市場上最快的生產(chǎn)測試產(chǎn)品之一，具有非常低的本底噪聲。除了速度之外，R&S ZNB3000 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀還具有精度和多功能性，具有行業(yè)領(lǐng)先的動態(tài)范圍、快速的測量速度和可擴展的升級，可應(yīng)對要求苛刻的應(yīng)用。R&S RTP 高性能示波器是另一個有用的工具，將高級信號完整性與
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DC-DC導致EMI輻射超標案例

分享一個EMI整改文檔，對于EMC來說，接觸的案例越多，整改的成功率就越高，整改的方法也越多，從案例中吸取教訓，總結(jié)經(jīng)驗，避免設(shè)計中出現(xiàn)同樣的問題。注意：按照文檔描述，從下面兩張圖片可以看出470MHz和940MHz(二次諧波)左右，這兩個頻點的功率非常高，可能該產(chǎn)品是一款無線產(chǎn)品，對于主頻--有意輻射頻率來說是有豁免權(quán)的，所以只需要注意200MHz之前的頻段，由于頻譜超標帶寬較寬，可以肯定非時鐘、晶振輻射超標引起，幾乎肯定輻射源在電源了，不過最后的結(jié)果，電源部分雖然PASS了，但是后面又引起了其他的頻點
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示波器觸發(fā)方式大全和參數(shù)選型

示波器是最重要也是最基礎(chǔ)的工具?；旧想娮訉I(yè)都會問到這個問題。尤其做硬件測試的時候，示波器更是需要如同使用筷子一樣的熟練度。示波器最重要的三個參數(shù)：帶寬、采樣率、存儲深度。一、示波器的帶寬：輸入信號衰減 3dB 所在的最低頻率稱為示波器的帶寬。（帶寬定義：示波器帶寬的定義沒有變，就是輸入一個正弦波，保持幅度不變，增加信號頻率，當示波器上顯示的信號是實際信號幅度的70.7%(即3dB衰減)的時候，該對應(yīng)的頻率就等于示波器帶寬。）使用正弦波信號發(fā)生器，在掃描頻率上測試示波器的帶寬和頻率響應(yīng)。信號 -3 dB
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一個高端電流檢測方案

隨著過去傳統(tǒng)的“開環(huán)”系統(tǒng)被智能和高效率“閉環(huán)”設(shè)計所取代，準確的電流檢測在多種應(yīng)用中變得越來越重要。常見的電流檢測方法，需要將檢流電阻串聯(lián)進被測電流通路，再用放大電路放大檢流電阻上的壓降。這個放大電路常被稱之為電流檢測放大器，其越來越被廣泛地運用于汽車、通信、消費電子等領(lǐng)域。分立方案集成方案對于電流檢測放大器電路設(shè)計目前主要可以分為分立方案以及集成方案下面小編主要為大家梳理比較一下分立及集成方案的特點基礎(chǔ)知識01分立運放搭建的差分放大器方案這是一個分立運放搭建的差分放大器（下文簡稱為分立方案）增益當滿足
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示波器探頭的作用及工作原理

示波器因為有探頭的存在而擴展了示波器的應(yīng)用范圍，使得示波器可以在線測試和分析被測電子電路，如下圖：示波器探頭的作用探頭的選擇和使用需要考慮如下兩個方面：其一：因為探頭有負載效應(yīng)，探頭會直接影響被測信號和被測電路；其二：探頭是整個示波器測量系統(tǒng)的一部分，會直接影響儀器的信號保真度和測試結(jié)果。01探頭的負載效應(yīng)當探頭探測到被測電路后，探頭成為了被測電路的一部分。探頭的負載效應(yīng)包括下面3部分：阻性負載效應(yīng)；容性負載效應(yīng)；感性負載效應(yīng)。探頭的負載效應(yīng)阻性負載相當于在被測電路上并聯(lián)了一個電阻，對被測信號有分壓的作用
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使用電流檢測電阻精確測量電流的設(shè)計技巧！原理、選型、設(shè)計都有

什么是電流檢測電阻？在許多通用電子應(yīng)用中，通常都需要電流感應(yīng)來監(jiān)控和控制應(yīng)用。例如：電池充電器電路需要電流感應(yīng)技術(shù)從驅(qū)動器、控制器的角度確定充電電流。不同類型的電流傳感器具有不同的電流傳感技術(shù)，用來測量或者檢測電流。電流檢測最常用且最具成本效益的解決方案是分流電流傳感器，也就是檢測電阻。電流檢測電阻類似于普通電阻，但具有非常低的電阻額定值和高額定功率。這些具有已知電阻值 (R) 的分流電阻放置在電流傳導路徑中，可以讓要測量的全部電流 (I) 流過電阻。電流檢測電阻電流檢測電阻工作原理分流意味著為電路提供不
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拆個示波器無源探頭，看看里面到底有啥秘密

01哪根筋搭錯了要去研究一下無源探頭一切都起源于一個問題：能不能把1X的無源探頭當同軸線去匹配50歐姆或者75歐姆的系統(tǒng)？有經(jīng)驗的人會立刻回答不能，因為就算是1X的探頭上面也串接了一個不小的電阻。我手邊正好有一個報廢的探頭，拿萬用表測了一測，內(nèi)芯的電阻有300多歐姆！外導體倒是正常的零點幾歐姆。這樣一條“同軸線”顯然不能拿去匹配50歐姆或者75歐姆的系統(tǒng)。問題看起來是解決了，可這又加深了我對無源探頭的疑問：問什么探頭上要串那么大的電阻，又為什么1X探頭的帶寬比10X探頭小那么多？02拆根探頭看看里面有啥要
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升維打擊！用示波器排查CAN的各種錯誤幀

摘要：CAN的BusOff源于錯誤幀的積累，而錯誤幀這個東西，是一個接收節(jié)點認為數(shù)據(jù)有誤故意打斷通信，好讓發(fā)送節(jié)點感知到并重發(fā)報文的設(shè)計。注意這里邊有個“我覺得你有病”的認知陷阱，讓CAN的診斷變得近似玄學。本文分享一種用CAN波形的幅度和脈寬信息來精確定位錯誤幀來源的方法，來自知乎的大燈。我們先從基礎(chǔ)的講起。CAN節(jié)點的電路一般如下圖所示，MCU內(nèi)置了CAN控制器用來將MCU的數(shù)據(jù)封裝為CAN幀格式，同時它也負責CAN幀的校驗和錯誤幀的處理。控制器封裝好的邏輯報文經(jīng)TX RX送到CAN收發(fā)器，將邏
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如何用示波器測量串口波特率？

如何確定時基假如要測量的波特率為9600, 則每一比特位的時間為：1/9600 ≈ 104 μs，一般示波器橫向上每個大格子里5個小格子，要想看清一比特位一般需要一個小格子就夠了，則時基為：104 μs * 5 = 520 μs, 也就是說時基要500 μs。注意：測量時選擇的耦合方式為直流，邊沿類型為下降沿，所測串口的電平為TTL 電平，該電平的串口在不傳輸數(shù)據(jù)時電平為高，靠拉低判斷起始位。下圖是測9600波特率，所發(fā)數(shù)據(jù)為0x55:所用示波器為漢泰的 IDSO1070。從光標測量可以看出AB之間的時間
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分析一個電磁兼容，無非從這幾個方面入手

如何分析一個電磁兼容的問題？分析一個電磁兼容的問題需要從三個方面入手：騷擾源敏感源耦合路徑找到這三個因素后，再決定去掉哪一個。只要去掉一個，電磁兼容的問題就解決了。例如，當騷擾源是雷電，敏感源是電子線路時，我們能做的就是消除耦合路徑（因為沒法去掉騷擾源，我們沒法讓自然界不產(chǎn)生雷電吧）。耦合路徑分為傳導耦合路徑和空間耦合路徑。最容易判斷的是電磁騷擾的敏感源，實際上大部分的電磁兼容的問題都是先從發(fā)現(xiàn)干擾的現(xiàn)象起因的，因此，最先關(guān)注的應(yīng)該是敏感源。比較容易判斷的是電磁騷擾源，我們通過實驗和分析，可以確定導致電磁
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關(guān)于EMC輻射發(fā)射整改一些心得體會

當一個產(chǎn)品無法通過EMI 測試﹐首先就要有一個觀念﹐找出無法通過的問題點﹐此時千萬不能有主觀的念頭﹐要在那些地方下對策。常常有許多有經(jīng)驗的 EMI 工程師﹐由于修改過許多相關(guān)產(chǎn)品﹐對于產(chǎn)品可能造成 EMI 問題的地方也非常了解﹐而習慣直接就下藥方﹐當然一般皆可能非常有效﹐但是偶而也會遇到很難修改下來﹐最后發(fā)現(xiàn)問題的關(guān)鍵都是起行認為不可能的地方﹐之所以會種疏失﹐就是由于太主觀了。因此﹐不論產(chǎn)品特性熟不熟﹐我們都要逐一再確認一次﹐甚而多次確認。這是因為造成EMI 的問題往往是錯綜復雜﹐并非單一點所造成。故反
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優(yōu)化簡易PCB電路板的大規(guī)模測試，提高生產(chǎn)效率

摘要隨著各行業(yè)對高效完成大批量生產(chǎn)的需求日益增強，構(gòu)建穩(wěn)健的測試策略也變得至關(guān)重要。此篇是德科技署名文章旨在深入探討簡易電路板生產(chǎn)制造領(lǐng)域中適用的創(chuàng)新測試方法，力求在保障質(zhì)量的前提下，實現(xiàn)生產(chǎn)效率的最優(yōu)化。本文探討了制造商在PCBA（印刷電路板組件）電路板批量測試環(huán)節(jié)中所面臨的種種挑戰(zhàn)，并揭示了創(chuàng)新技術(shù)如何重塑電子制造業(yè)的格局。文章通過聚焦前沿測試方法、先進測試裝備及經(jīng)過優(yōu)化的精簡測試流程，系統(tǒng)闡述了促使PCBA測試理念革新的核心要素。通過這些改進，制造商有望提升測試效率、節(jié)約時間與成本、提高工作效率、提
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地線要短——測試開關(guān)電源紋波時

我們在測試的時候，希望能夠測試準確，不希望其他頻段的干擾引入導致測試數(shù)據(jù)異常。所以在用同軸電纜或者探頭測試紋波的時候，地線的處理都尤為關(guān)鍵，否則會通過地線引入不必要的噪聲。探頭的GND和信號兩個探測點的距離也非常重要，當兩點相距較遠，會有很多EMI噪聲輻射到探頭的信號回路中，示波器觀察的波形包括了其他信號分量，導致錯誤的測試結(jié)果。所以要盡量減小探頭的信號與地的探測點間距，減小環(huán)路面積。為避免過多的噪聲耦合到紋波測試，應(yīng)用盡可能小的環(huán)路，避免耦合的噪聲過大。一般的示波器探頭不能直接使用，需用專用示波器探頭或
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一鍵開關(guān)機電路原理分析

買了一個元器件測試儀（又叫晶體管測試儀），型號GM328A：使用9V電池供電：電路板的背面：該元器件測試儀上用到一個“一鍵開關(guān)機電路”（又叫“單按鍵開關(guān)機電路”），簡單實用，可以做到關(guān)機功耗為0，這是原理圖：原理圖和實物的對應(yīng)關(guān)系：注：原理圖中的MCU主控芯片U1，只畫出了和“一鍵開關(guān)機電路”相關(guān)的部分，其他不相關(guān)的部分沒有畫，比如U1的晶振電路就沒有畫。后面來分析這個電路。一、元器件測試儀的功能介紹了解這個元器件測試儀的功能，可以幫助我們理解“一鍵開關(guān)機電路”在它上面的應(yīng)用。下面用幾個例子簡單演示它的功
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從半導體自動化測試撬動更廣泛應(yīng)用場景，ADI多款創(chuàng)新方案樹立電子測試測量技術(shù)標桿

“工欲善其事，必先利其器”?？茖W史上的許多重大突破，往往源于新的觀測手段和測量技術(shù)的進步。在現(xiàn)代電子工業(yè)中，半導體器件作為核心組件，其性能和可靠性直接決定了最終產(chǎn)品的品質(zhì)和功能，對這些器件進行精確全面的測試測量變得尤為重要。近日在行業(yè)重磅展會上，全球領(lǐng)先的半導體公司ADI在現(xiàn)場帶來了儀器儀表應(yīng)用領(lǐng)域的一系列創(chuàng)新方案，如ADI儀器儀表事業(yè)部高級市場經(jīng)理姜海濤所表示，這些板卡級方案以高精度、小型化以及易于集成的優(yōu)勢，契合客戶痛點，是新時代電子測試測量的標桿樣本。激增的市場，如何滿足半導體自動化測試多樣化需求？
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測試測量介紹

電子測試測量儀器：示波器（數(shù)字、模擬、手持式）、信號發(fā)生器（任意波、調(diào)頻調(diào)幅、音頻、射頻）、頻率計、電源、臺式萬用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐　　表、鉗表、功率表、LCR、IC測試儀、耐壓/絕緣測試儀…… 　　通信測試測量儀器：光時域反射儀（OTDR）、光纖熔接機、光萬用表、光源、光電話、光功率計、2M測試儀、協(xié)議分析儀、無線電綜合測試儀、數(shù)字電纜分析測試　　儀、電纜故障測 [ 查看詳細 ]