測(cè)試測(cè)量文章進(jìn)入測(cè)試測(cè)量技術(shù)社區(qū)

面向現(xiàn)代數(shù)據(jù)中心的測(cè)試和測(cè)量

在現(xiàn)代數(shù)據(jù)中心中，需要應(yīng)對(duì)的更棘手的問(wèn)題之一是通過(guò)越來(lái)越多的高速鏈接進(jìn)出數(shù)據(jù)。要測(cè)試這些高速鏈路和PCB，您需要像Rohde & Schwarz R&S ZNB 3000這樣的高端網(wǎng)絡(luò)分析儀。據(jù)說(shuō)它是市場(chǎng)上最快的生產(chǎn)測(cè)試產(chǎn)品之一，具有非常低的本底噪聲。除了速度之外，R&S ZNB3000 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀還具有精度和多功能性，具有行業(yè)領(lǐng)先的動(dòng)態(tài)范圍、快速的測(cè)量速度和可擴(kuò)展的升級(jí)，可應(yīng)對(duì)要求苛刻的應(yīng)用。R&S RTP 高性能示波器是另一個(gè)有用的工具，將高級(jí)信號(hào)完整性與
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DC-DC導(dǎo)致EMI輻射超標(biāo)案例

分享一個(gè)EMI整改文檔，對(duì)于EMC來(lái)說(shuō)，接觸的案例越多，整改的成功率就越高，整改的方法也越多，從案例中吸取教訓(xùn)，總結(jié)經(jīng)驗(yàn)，避免設(shè)計(jì)中出現(xiàn)同樣的問(wèn)題。注意：按照文檔描述，從下面兩張圖片可以看出470MHz和940MHz(二次諧波)左右，這兩個(gè)頻點(diǎn)的功率非常高，可能該產(chǎn)品是一款無(wú)線產(chǎn)品，對(duì)于主頻--有意輻射頻率來(lái)說(shuō)是有豁免權(quán)的，所以只需要注意200MHz之前的頻段，由于頻譜超標(biāo)帶寬較寬，可以肯定非時(shí)鐘、晶振輻射超標(biāo)引起，幾乎肯定輻射源在電源了，不過(guò)最后的結(jié)果，電源部分雖然PASS了，但是后面又引起了其他的頻點(diǎn)
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示波器觸發(fā)方式大全和參數(shù)選型

示波器是最重要也是最基礎(chǔ)的工具?；旧想娮訉I(yè)都會(huì)問(wèn)到這個(gè)問(wèn)題。尤其做硬件測(cè)試的時(shí)候，示波器更是需要如同使用筷子一樣的熟練度。示波器最重要的三個(gè)參數(shù)：帶寬、采樣率、存儲(chǔ)深度。一、示波器的帶寬：輸入信號(hào)衰減 3dB 所在的最低頻率稱為示波器的帶寬。（帶寬定義：示波器帶寬的定義沒(méi)有變，就是輸入一個(gè)正弦波，保持幅度不變，增加信號(hào)頻率，當(dāng)示波器上顯示的信號(hào)是實(shí)際信號(hào)幅度的70.7%(即3dB衰減)的時(shí)候，該對(duì)應(yīng)的頻率就等于示波器帶寬。）使用正弦波信號(hào)發(fā)生器，在掃描頻率上測(cè)試示波器的帶寬和頻率響應(yīng)。信號(hào) -3 dB
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一個(gè)高端電流檢測(cè)方案

隨著過(guò)去傳統(tǒng)的“開(kāi)環(huán)”系統(tǒng)被智能和高效率“閉環(huán)”設(shè)計(jì)所取代，準(zhǔn)確的電流檢測(cè)在多種應(yīng)用中變得越來(lái)越重要。常見(jiàn)的電流檢測(cè)方法，需要將檢流電阻串聯(lián)進(jìn)被測(cè)電流通路，再用放大電路放大檢流電阻上的壓降。這個(gè)放大電路常被稱之為電流檢測(cè)放大器，其越來(lái)越被廣泛地運(yùn)用于汽車、通信、消費(fèi)電子等領(lǐng)域。分立方案集成方案對(duì)于電流檢測(cè)放大器電路設(shè)計(jì)目前主要可以分為分立方案以及集成方案下面小編主要為大家梳理比較一下分立及集成方案的特點(diǎn)基礎(chǔ)知識(shí)01分立運(yùn)放搭建的差分放大器方案這是一個(gè)分立運(yùn)放搭建的差分放大器（下文簡(jiǎn)稱為分立方案）增益當(dāng)滿足
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示波器探頭的作用及工作原理

示波器因?yàn)橛刑筋^的存在而擴(kuò)展了示波器的應(yīng)用范圍，使得示波器可以在線測(cè)試和分析被測(cè)電子電路，如下圖：示波器探頭的作用探頭的選擇和使用需要考慮如下兩個(gè)方面：其一：因?yàn)樘筋^有負(fù)載效應(yīng)，探頭會(huì)直接影響被測(cè)信號(hào)和被測(cè)電路；其二：探頭是整個(gè)示波器測(cè)量系統(tǒng)的一部分，會(huì)直接影響儀器的信號(hào)保真度和測(cè)試結(jié)果。01探頭的負(fù)載效應(yīng)當(dāng)探頭探測(cè)到被測(cè)電路后，探頭成為了被測(cè)電路的一部分。探頭的負(fù)載效應(yīng)包括下面3部分：阻性負(fù)載效應(yīng)；容性負(fù)載效應(yīng)；感性負(fù)載效應(yīng)。探頭的負(fù)載效應(yīng)阻性負(fù)載相當(dāng)于在被測(cè)電路上并聯(lián)了一個(gè)電阻，對(duì)被測(cè)信號(hào)有分壓的作用
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使用電流檢測(cè)電阻精確測(cè)量電流的設(shè)計(jì)技巧！原理、選型、設(shè)計(jì)都有

什么是電流檢測(cè)電阻？在許多通用電子應(yīng)用中，通常都需要電流感應(yīng)來(lái)監(jiān)控和控制應(yīng)用。例如：電池充電器電路需要電流感應(yīng)技術(shù)從驅(qū)動(dòng)器、控制器的角度確定充電電流。不同類型的電流傳感器具有不同的電流傳感技術(shù)，用來(lái)測(cè)量或者檢測(cè)電流。電流檢測(cè)最常用且最具成本效益的解決方案是分流電流傳感器，也就是檢測(cè)電阻。電流檢測(cè)電阻類似于普通電阻，但具有非常低的電阻額定值和高額定功率。這些具有已知電阻值 (R) 的分流電阻放置在電流傳導(dǎo)路徑中，可以讓要測(cè)量的全部電流 (I) 流過(guò)電阻。電流檢測(cè)電阻電流檢測(cè)電阻工作原理分流意味著為電路提供不
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拆個(gè)示波器無(wú)源探頭，看看里面到底有啥秘密

01哪根筋搭錯(cuò)了要去研究一下無(wú)源探頭一切都起源于一個(gè)問(wèn)題：能不能把1X的無(wú)源探頭當(dāng)同軸線去匹配50歐姆或者75歐姆的系統(tǒng)？有經(jīng)驗(yàn)的人會(huì)立刻回答不能，因?yàn)榫退闶?X的探頭上面也串接了一個(gè)不小的電阻。我手邊正好有一個(gè)報(bào)廢的探頭，拿萬(wàn)用表測(cè)了一測(cè)，內(nèi)芯的電阻有300多歐姆！外導(dǎo)體倒是正常的零點(diǎn)幾歐姆。這樣一條“同軸線”顯然不能拿去匹配50歐姆或者75歐姆的系統(tǒng)。問(wèn)題看起來(lái)是解決了，可這又加深了我對(duì)無(wú)源探頭的疑問(wèn)：?jiǎn)柺裁刺筋^上要串那么大的電阻，又為什么1X探頭的帶寬比10X探頭小那么多？02拆根探頭看看里面有啥要
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升維打擊！用示波器排查CAN的各種錯(cuò)誤幀

摘要：CAN的BusOff源于錯(cuò)誤幀的積累，而錯(cuò)誤幀這個(gè)東西，是一個(gè)接收節(jié)點(diǎn) 認(rèn)為數(shù)據(jù)有誤故意打斷通信，好讓發(fā)送節(jié)點(diǎn)感知到并重發(fā)報(bào)文的設(shè)計(jì)。注意這里邊有個(gè)“我覺(jué)得你有病”的認(rèn)知陷阱，讓CAN的診斷變得近似玄學(xué)。本文分享一種用CAN波形的幅度和脈寬信息來(lái)精確定位錯(cuò)誤幀來(lái)源的方法，來(lái)自知乎的大燈。我們先從基礎(chǔ)的講起。CAN節(jié)點(diǎn)的電路一般如下圖所示，MCU內(nèi)置了CAN控制器用來(lái)將MCU的數(shù)據(jù)封裝為CAN幀格式，同時(shí)它也負(fù)責(zé)CAN幀的校驗(yàn)和錯(cuò)誤幀的處理。控制器封裝好的邏輯報(bào)文經(jīng)TX RX送到CAN收發(fā)器，將邏
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如何用示波器測(cè)量串口波特率？

如何確定時(shí)基假如要測(cè)量的波特率為9600, 則每一比特位的時(shí)間為：1/9600 ≈ 104 μs，一般示波器橫向上每個(gè)大格子里5個(gè)小格子，要想看清一比特位一般需要一個(gè)小格子就夠了，則時(shí)基為：104 μs * 5 = 520 μs, 也就是說(shuō)時(shí)基要500 μs。注意：測(cè)量時(shí)選擇的耦合方式為直流，邊沿類型為下降沿，所測(cè)串口的電平為TTL 電平，該電平的串口在不傳輸數(shù)據(jù)時(shí)電平為高，靠拉低判斷起始位。下圖是測(cè)9600波特率，所發(fā)數(shù)據(jù)為0x55:所用示波器為漢泰的 IDSO1070。從光標(biāo)測(cè)量可以看出AB之間的時(shí)間
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分析一個(gè)電磁兼容，無(wú)非從這幾個(gè)方面入手

如何分析一個(gè)電磁兼容的問(wèn)題？分析一個(gè)電磁兼容的問(wèn)題需要從三個(gè)方面入手：騷擾源敏感源耦合路徑找到這三個(gè)因素后，再?zèng)Q定去掉哪一個(gè)。只要去掉一個(gè)，電磁兼容的問(wèn)題就解決了。例如，當(dāng)騷擾源是雷電，敏感源是電子線路時(shí)，我們能做的就是消除耦合路徑（因?yàn)闆](méi)法去掉騷擾源，我們沒(méi)法讓自然界不產(chǎn)生雷電吧）。耦合路徑分為傳導(dǎo)耦合路徑和空間耦合路徑。最容易判斷的是電磁騷擾的敏感源，實(shí)際上大部分的電磁兼容的問(wèn)題都是先從發(fā)現(xiàn)干擾的現(xiàn)象起因的，因此，最先關(guān)注的應(yīng)該是敏感源。比較容易判斷的是電磁騷擾源，我們通過(guò)實(shí)驗(yàn)和分析，可以確定導(dǎo)致電磁
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關(guān)于EMC輻射發(fā)射整改一些心得體會(huì)

當(dāng)一個(gè)產(chǎn)品無(wú)法通過(guò)EMI 測(cè)試﹐首先就要有一個(gè)觀念﹐找出無(wú)法通過(guò)的問(wèn)題點(diǎn)﹐此時(shí)千萬(wàn)不能有主觀的念頭﹐要在那些地方下對(duì)策。常常有許多有經(jīng)驗(yàn)的 EMI 工程師﹐由于修改過(guò)許多相關(guān)產(chǎn)品﹐對(duì)于產(chǎn)品可能造成 EMI 問(wèn)題的地方也非常了解﹐而習(xí)慣直接就下藥方﹐當(dāng)然一般皆可能非常有效﹐但是偶而也會(huì)遇到很難修改下來(lái)﹐最后發(fā)現(xiàn)問(wèn)題的關(guān)鍵都是起行認(rèn)為不可能的地方﹐之所以會(huì)種疏失﹐就是由于太主觀了。因此﹐不論產(chǎn)品特性熟不熟﹐我們都要逐一再確認(rèn)一次﹐甚而多次確認(rèn)。這是因?yàn)樵斐蒃MI 的問(wèn)題往往是錯(cuò)綜復(fù)雜﹐并非單一點(diǎn)所造成。故反
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優(yōu)化簡(jiǎn)易PCB電路板的大規(guī)模測(cè)試，提高生產(chǎn)效率

摘要隨著各行業(yè)對(duì)高效完成大批量生產(chǎn)的需求日益增強(qiáng)，構(gòu)建穩(wěn)健的測(cè)試策略也變得至關(guān)重要。此篇是德科技署名文章旨在深入探討簡(jiǎn)易電路板生產(chǎn)制造領(lǐng)域中適用的創(chuàng)新測(cè)試方法，力求在保障質(zhì)量的前提下，實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)效率的最優(yōu)化。本文探討了制造商在PCBA（印刷電路板組件）電路板批量測(cè)試環(huán)節(jié)中所面臨的種種挑戰(zhàn)，并揭示了創(chuàng)新技術(shù)如何重塑電子制造業(yè)的格局。文章通過(guò)聚焦前沿測(cè)試方法、先進(jìn)測(cè)試裝備及經(jīng)過(guò)優(yōu)化的精簡(jiǎn)測(cè)試流程，系統(tǒng)闡述了促使PCBA測(cè)試?yán)砟罡镄碌暮诵囊?。通過(guò)這些改進(jìn)，制造商有望提升測(cè)試效率、節(jié)約時(shí)間與成本、提高工作效率、提
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地線要短——測(cè)試開(kāi)關(guān)電源紋波時(shí)

我們?cè)跍y(cè)試的時(shí)候，希望能夠測(cè)試準(zhǔn)確，不希望其他頻段的干擾引入導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)異常。所以在用同軸電纜或者探頭測(cè)試紋波的時(shí)候，地線的處理都尤為關(guān)鍵，否則會(huì)通過(guò)地線引入不必要的噪聲。探頭的GND和信號(hào)兩個(gè)探測(cè)點(diǎn)的距離也非常重要，當(dāng)兩點(diǎn)相距較遠(yuǎn)，會(huì)有很多EMI噪聲輻射到探頭的信號(hào)回路中，示波器觀察的波形包括了其他信號(hào)分量，導(dǎo)致錯(cuò)誤的測(cè)試結(jié)果。所以要盡量減小探頭的信號(hào)與地的探測(cè)點(diǎn)間距，減小環(huán)路面積。為避免過(guò)多的噪聲耦合到紋波測(cè)試，應(yīng)用盡可能小的環(huán)路，避免耦合的噪聲過(guò)大。一般的示波器探頭不能直接使用，需用專用示波器探頭或
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一鍵開(kāi)關(guān)機(jī)電路原理分析

買了一個(gè)元器件測(cè)試儀（又叫晶體管測(cè)試儀），型號(hào)GM328A：使用9V電池供電：電路板的背面：該元器件測(cè)試儀上用到一個(gè)“一鍵開(kāi)關(guān)機(jī)電路”（又叫“單按鍵開(kāi)關(guān)機(jī)電路”），簡(jiǎn)單實(shí)用，可以做到關(guān)機(jī)功耗為0，這是原理圖：原理圖和實(shí)物的對(duì)應(yīng)關(guān)系：注：原理圖中的MCU主控芯片U1，只畫出了和“一鍵開(kāi)關(guān)機(jī)電路”相關(guān)的部分，其他不相關(guān)的部分沒(méi)有畫，比如U1的晶振電路就沒(méi)有畫。后面來(lái)分析這個(gè)電路。一、元器件測(cè)試儀的功能介紹了解這個(gè)元器件測(cè)試儀的功能，可以幫助我們理解“一鍵開(kāi)關(guān)機(jī)電路”在它上面的應(yīng)用。下面用幾個(gè)例子簡(jiǎn)單演示它的功
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從半導(dǎo)體自動(dòng)化測(cè)試撬動(dòng)更廣泛應(yīng)用場(chǎng)景，ADI多款創(chuàng)新方案樹(shù)立電子測(cè)試測(cè)量技術(shù)標(biāo)桿

“工欲善其事，必先利其器”?？茖W(xué)史上的許多重大突破，往往源于新的觀測(cè)手段和測(cè)量技術(shù)的進(jìn)步。在現(xiàn)代電子工業(yè)中，半導(dǎo)體器件作為核心組件，其性能和可靠性直接決定了最終產(chǎn)品的品質(zhì)和功能，對(duì)這些器件進(jìn)行精確全面的測(cè)試測(cè)量變得尤為重要。近日在行業(yè)重磅展會(huì)上，全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體公司ADI在現(xiàn)場(chǎng)帶來(lái)了儀器儀表應(yīng)用領(lǐng)域的一系列創(chuàng)新方案，如ADI儀器儀表事業(yè)部高級(jí)市場(chǎng)經(jīng)理姜海濤所表示，這些板卡級(jí)方案以高精度、小型化以及易于集成的優(yōu)勢(shì)，契合客戶痛點(diǎn)，是新時(shí)代電子測(cè)試測(cè)量的標(biāo)桿樣本。激增的市場(chǎng)，如何滿足半導(dǎo)體自動(dòng)化測(cè)試多樣化需求？
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測(cè)試測(cè)量介紹

電子測(cè)試測(cè)量?jī)x器：示波器（數(shù)字、模擬、手持式）、信號(hào)發(fā)生器（任意波、調(diào)頻調(diào)幅、音頻、射頻）、頻率計(jì)、電源、臺(tái)式萬(wàn)用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐　　表、鉗表、功率表、LCR、IC測(cè)試儀、耐壓/絕緣測(cè)試儀…… 　　通信測(cè)試測(cè)量?jī)x器：光時(shí)域反射儀（OTDR）、光纖熔接機(jī)、光萬(wàn)用表、光源、光電話、光功率計(jì)、2M測(cè)試儀、協(xié)議分析儀、無(wú)線電綜合測(cè)試儀、數(shù)字電纜分析測(cè)試　　儀、電纜故障測(cè) [ 查看詳細(xì) ]