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新思科技芯片生命周期管理再升級,加速數據傳輸并顯著縮短測試時間
- 新思科技(Synopsys, Inc.,)近日推出了一項創(chuàng)新的流結構技術(Streaming fabric technology),能夠將芯片數據訪問和測試的時間最高縮短80%,并極大程度地降低極限功耗,從而支持日益復雜的大型設計中芯片健康監(jiān)測的實時分析。作為新思科技芯片生命周期管理流程的一部分,該創(chuàng)新的流結構是一種獨特的片上網絡,由新思科技TestMAX? DFT可測性設計工具生成,可以快速地將芯片數據傳輸到多個設計塊和多裸晶芯片系統中,顯著縮短了測試和分析芯片整體健康狀況以發(fā)現異常和故障的時間
- 關鍵字: 新思科技 芯片生命周期管理 數據傳輸 測試時間
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測試時間介紹
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