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基于FPGA的錯(cuò)誤檢測(cè)與糾正電路的方案設(shè)計(jì)

- 基于FPGA的錯(cuò)誤檢測(cè)與糾正電路的方案設(shè)計(jì),摘要:針對(duì)一些惡劣的電磁環(huán)境對(duì)隨機(jī)存儲(chǔ)器(RAM)電路誤碼影響的情況,根據(jù)糾錯(cuò)編碼的基本原理,提出簡(jiǎn)單實(shí)用的能檢查兩位錯(cuò)誤并自動(dòng)糾正一位錯(cuò)誤的EDAC算法;通過(guò)VHDL語(yǔ)言編程設(shè)計(jì),由FPGA器件來(lái)實(shí)現(xiàn),并給出仿真結(jié)果。
- 關(guān)鍵字: 電路 方案設(shè)計(jì) 糾正 檢測(cè) FPGA 錯(cuò)誤 基于
基于CMOS探測(cè)器的射線檢測(cè)設(shè)計(jì)應(yīng)用

- 概述:以CMOS探測(cè)器為記錄介質(zhì)的數(shù)字化射線檢測(cè)技術(shù),檢測(cè)精度高、溫度適應(yīng)性好、結(jié)構(gòu)適應(yīng)性強(qiáng)。CMOS射線掃描探測(cè)器探測(cè)單元排成線陣列,需要在檢測(cè)時(shí)進(jìn)行相對(duì)掃描運(yùn)動(dòng),逐線采集并拼成完整的透照投影圖像。介紹了檢測(cè)工裝設(shè)計(jì),完成了探測(cè)器的固定、位置調(diào)節(jié)及實(shí)現(xiàn)與檢測(cè)工件的相對(duì)運(yùn)動(dòng)。介紹了檢測(cè)應(yīng)用中的探測(cè)器配置與校準(zhǔn)、透照方式選取、運(yùn)動(dòng)速度控制、檢測(cè)參數(shù)優(yōu)化、缺陷定量分析和圖像存檔管理等。應(yīng)用結(jié)果表明,經(jīng)過(guò)工藝優(yōu)化,CMOS探測(cè)器能夠?qū)崿F(xiàn)大多數(shù)產(chǎn)品零部件的射線檢測(cè)。最后分析了應(yīng)用中存在的問(wèn)題及后續(xù)研究方向。
- 關(guān)鍵字: 設(shè)計(jì) 應(yīng)用 檢測(cè) 射線 CMOS 探測(cè)器 基于
探頭檢測(cè)到的假噪聲電壓與磁場(chǎng)檢測(cè)器的關(guān)系
- 任何接地環(huán)路,在增加探頭10~90%上升時(shí)間的同時(shí),也會(huì)引入噪聲。附加噪聲通過(guò)探頭接地環(huán)路耦全進(jìn)來(lái),冒充成被測(cè)試信號(hào)節(jié)點(diǎn)的正常噪聲。如果這個(gè)附加噪聲與被測(cè)信號(hào)同步,那么將很難把它與被測(cè)信號(hào)的真實(shí)特征區(qū)分開(kāi)。
- 關(guān)鍵字: 探頭 檢測(cè) 電壓 磁場(chǎng)檢測(cè)器
檢測(cè)介紹
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