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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 方法

protel DXP調(diào)用舊庫的方法

  • 其實在pcb設(shè)計中這樣是沒有必要的，但有人想這么做。對Protel DXP的試用版的使用以及對其教程的研究，發(fā)現(xiàn)在Protel DXP中的元件庫已經(jīng)不再是以前的單一的元件庫了，而是使用集成元件庫，即將與原理圖元件庫相關(guān)聯(lián)的用
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用時間戳計數(shù)器測量頻率的方法(下)

  • 頻率測量在倒數(shù)計頻器中，不管有沒有采用內(nèi)插法，頻率測量都有一個規(guī)定的開始點(開始觸發(fā)事件)和結(jié)束點(結(jié)束觸發(fā)事件)。在每個測量的開始點和結(jié)束點之間都必定有一段死時間，用來將結(jié)果傳輸?shù)捷敵鼋涌谏?，并將計度?/li>
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用時間戳計數(shù)器測量頻率的方法(上)

  • 計頻器曾被視為是電壓計級別的基本測量工具，能夠依靠調(diào)制以較高的分辨率測量一個CW信號，并廣泛用于校準(zhǔn)振蕩器。隨著計頻器的發(fā)展，測量儀器具有了測量脈沖的能力，并具備了能夠處理調(diào)制波形上的測量的更寬的測量帶
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汽車電子硬件設(shè)計的方法

  • 在電子工程專輯上看到博主Rocky的一篇關(guān)于通信行業(yè)硬件設(shè)計的一篇文章，感嘆不同行業(yè)之間考慮的問題是相似的，只是環(huán)境條件不同，功能有差異，可靠性要求有差異。甚至是汽車電子內(nèi)部的不同產(chǎn)品之間的硬件設(shè)計，也略有
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JMP統(tǒng)計方法在制藥行業(yè)質(zhì)量管理中的應(yīng)用

  • JMP統(tǒng)計方法在制藥行業(yè)質(zhì)量管理中的應(yīng)用,國內(nèi)制藥行業(yè)有個很好玩的現(xiàn)象，就是從政府部門到企業(yè)都在強調(diào)質(zhì)量的重要性，國外的三字經(jīng)也學(xué)了不少，用了不少，最典型就是GMP了。在一窩蜂的上了GMP、GSP、GXP之后，質(zhì)量卻還是那個質(zhì)量，問題也還是那個問題。
    　
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LED顯示屏單元板故障以及處理方法

  • LED顯示屏單元板故障以及處理方法,LED顯示屏單元板:A．整板不亮1、檢查供電電源與信號線是否連接。2、檢查測試卡是否以識別接口，測試卡紅燈閃動則沒有識別，檢查燈板是否與測試卡同電源地，或燈板接口有信號與地短路導(dǎo)致無法識別接口。（智能測試卡）
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內(nèi)嵌ARM9E內(nèi)核系統(tǒng)級芯片的原型驗證方法

  • 內(nèi)嵌ARM9E內(nèi)核系統(tǒng)級芯片的原型驗證方法,【摘要】隨著大容量高速度的FPGA的出現(xiàn)，在流片前建立一個高性價比的原型驗證系統(tǒng)已經(jīng)成為縮短系統(tǒng)級芯片（SoC）驗證時間，提高首次流片成功率的重要方法。本文著重討論了用FPGA建立原型進(jìn)行驗證的流程、優(yōu)缺點以及常
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FPGA仿真方法介紹及其仿真程序設(shè)計

  • 一、概述

    FPGA仿真方法：

    （1）交互式仿真方法：利用EDA工具的仿真器進(jìn)行仿真，使用方便，但輸入輸出不便于記錄規(guī)檔，當(dāng)輸入量較多時不便于觀察和比較。

    （2）測試平臺法：為設(shè)計模塊專門設(shè)計的仿真程序，可
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利用濕式蝕刻工藝提高LED光萃取效率之產(chǎn)能與良率的方法

  • 近幾年來III族氮化物（III-Nitride）高亮度發(fā)光二極體（High Brightness Light EmissiON Diode; HB-LED）深獲廣大重視，目前廣泛應(yīng)用于交通號志、LCD背光源及各種照明使用上。基本上，GaN LED是以磊晶（Epitaxial）方
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利用80C31單片機串行口實現(xiàn)多個LED顯示的一種簡單方法

  • 在單片機系統(tǒng)中，常常用數(shù)碼管（LED）做顯示器。一般的顯示器為4位或8位，即需要4個或8個LED。實現(xiàn)這種顯示的方法比較多，也比較簡單。但是，對于多個LED顯示，就必須采取必要的措施才能實現(xiàn)。本文介紹一種設(shè)計方法，
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光電旋轉(zhuǎn)編碼器的原理及應(yīng)用方法

  • WinCE下光電編碼器的驅(qū)動程序設(shè)計近年來，嵌入式技術(shù)發(fā)展迅速，嵌入式系統(tǒng)在各行各業(yè)得到了廣泛的應(yīng)用。然而，由于嵌入式計算機的專用性，系統(tǒng)的硬件、軟件結(jié)構(gòu)千差萬別，其輸入設(shè)備也不再像通用計算機那樣單一。嵌入
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如何判斷光源質(zhì)量好與壞的檢測方法

  • 方法如下：（在外形和亮度相同的情況下）用萬能表測量光源的電阻， 電阻小的光衰大，使用壽命短；電阻大的光衰小，使用壽命長。1、辨別食人魚模組：食人魚模組白光和紅光的電阻一般是150歐姆，客戶在測試亮度后用萬能
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設(shè)計合理的高速總線測試方法

  • 設(shè)計合理的高速總線測試方法,就在幾年前，許多設(shè)計工程師還在苦苦掙扎于步履沉重的總線和I/O速度，而每12~18個月各種處理器的運行速度就增加一倍。而后，幾乎是一夜之間，總線和I/O技術(shù)開始發(fā)生變化。速度加倍，而后又增加一倍。緊接著，如源同步
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PIM分析儀測試連接器互調(diào)的新方法介紹

  • 0 引言　　在微波網(wǎng)絡(luò)中，同軸連接器是引起互調(diào)的主要來源。同軸連接器的非線性特性是引起互調(diào)的主要原因。準(zhǔn)確確定同軸連接器的無源互調(diào)對整個射頻系統(tǒng)設(shè)計有重大的意義。目前大多數(shù)的連接器生產(chǎn)廠家采用的測試方法
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瞬態(tài)電磁脈沖對單片機的輻照效應(yīng)實驗及加固方法

  • 靜電放電產(chǎn)生的電磁輻射可產(chǎn)生很強的瞬態(tài)電磁脈沖（ESD EMP）。隨著電子技術(shù)的高速發(fā)展,ESD EMP的危害也日趨嚴(yán)重。ESD EMP具有峰值大、頻帶寬等特點,作為近場危害源,對各種數(shù)字化設(shè)備的危害程序可與核電磁脈沖（NEMP
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方法介紹

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