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存儲測試 文章 最新資訊

基于FPGA軟核的參數(shù)可變的壓力測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 在爆炸場壓力測試中，沖擊波超壓峰值隨著彈藥的當(dāng)量和到爆心距離的變化十分顯著。傳統(tǒng)測試系統(tǒng)的測試參數(shù)難以更改，靈活性差，往往需要重新設(shè)計(jì)電路以滿足不同測試要求。為了提高測試系統(tǒng)的靈活性及電路復(fù)用性，設(shè)計(jì)了基于可配置FPGA軟核的測試系統(tǒng)。通過調(diào)用并修改可移植軟核，以實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的快速設(shè)計(jì)，通過靈活設(shè)置測試參數(shù)完成不同測試任務(wù)。對系統(tǒng)準(zhǔn)確性進(jìn)行了驗(yàn)證，應(yīng)用到靜爆試驗(yàn)中，有效獲得了壓力數(shù)據(jù)。
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存儲測試系統(tǒng)的USB接口設(shè)計(jì)

  • 摘要：針對存儲測試系統(tǒng)的高速數(shù)據(jù)傳輸需求，設(shè)計(jì)了以單片機(jī)和FT245R為核心器件的USB接口電路，替代了傳統(tǒng)的并行／串行接口。設(shè)計(jì)的USB接口支持USB 2．0協(xié)議，具有體積小、通用性好、操作簡單、使用方便等特點(diǎn)，數(shù)據(jù)
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基于FPGA的存儲測試系統(tǒng)

  • 針對某些特殊的測試試驗(yàn)要求測試系統(tǒng)高性能、微體積、低功耗，在存儲測試?yán)碚摶A(chǔ)上，進(jìn)行了動態(tài)存儲測試系...
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基于FPGA的存儲測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

  • 摘要：針對某些特殊的測試試驗(yàn)要求測試系統(tǒng)高性能、微體積、低功耗，在存儲測試?yán)碚摶A(chǔ)上，進(jìn)行了動態(tài)存儲測試系統(tǒng)的FPGA設(shè)計(jì)。介紹了該系統(tǒng)的組成，對控制模塊進(jìn)行了詳細(xì)設(shè)計(jì)。針對測試環(huán)境的多樣性設(shè)計(jì)了采樣策略
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基于CPLD的多次重觸發(fā)存儲測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 摘要：提出一種基于CPLD的多次重觸發(fā)存儲測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案，詳細(xì)介紹系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)以及CPLD內(nèi)部控制原理，并對CPLD控制電路仿真。該系統(tǒng)體積小、功耗低，能夠?qū)崟r記錄多次重觸發(fā)信號，每次信號記錄均有負(fù)延遲，讀取出
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存儲測試介紹

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