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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 可靠性測試

Hold住嗎?最強(qiáng)LED照明可靠性測試詳解!

  • 作為光源中的新興力量，led的發(fā)光方式與傳統(tǒng)光源截然不同。它是利用半導(dǎo)體PN節(jié)中的電子與空穴的復(fù)合來發(fā)光。...
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硅片級可靠性測試詳解

  • 　引言　　硅片級可靠性（WLR）測試最早是為了實(shí)現(xiàn)內(nèi)建（BIR）可靠性而提出的一種測試手段。硅片級可靠性測試的最 ...
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晶圓級可靠性測試:器件開發(fā)的關(guān)鍵步驟（二）

  • 可靠性測試儀器的發(fā)展趨勢　　就像前文所指出的那樣，可靠性測試需要與新器件的設(shè)計(jì)和新材料的使用密切關(guān)聯(lián) ...
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晶圓級可靠性測試:器件開發(fā)的關(guān)鍵步驟（一）

  • 摘要 隨著器件尺寸的持續(xù)減小，以及在器件的制造中不斷使用新材料，對晶圓級可靠性測試的要求越來越高。在器件 ...
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用實(shí)例分析硬件可靠性測試設(shè)計(jì)

  • 從硬件角度出發(fā)，可靠性測試分為兩類：　　以行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或者國家標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)的可靠性測試。比如電磁兼容試驗(yàn)、氣候類環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械類環(huán)境試驗(yàn)和安規(guī)試驗(yàn)等。　　企業(yè)自身根據(jù)其產(chǎn)品特點(diǎn)和對質(zhì)量的認(rèn)識所開發(fā)的測試項(xiàng)目
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LED電源可靠性測試指標(biāo)及規(guī)范

  • 1、描述輸入電壓影響輸出電壓的幾個指標(biāo)形式⑴穩(wěn)壓系數(shù)① 絕對穩(wěn)壓系數(shù)K表示負(fù)載不變時，穩(wěn)壓 ...
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LED電源可靠性測試指標(biāo)及規(guī)范詳解

  • 1、描述輸入電壓影響輸出電壓的幾個指標(biāo)形式⑴穩(wěn)壓系數(shù)①絕對穩(wěn)壓系數(shù)K表示負(fù)載不變時，穩(wěn)壓...
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WLR測試中所面臨的新挑戰(zhàn)

  • 　　就像摩爾定律驅(qū)動半導(dǎo)體幾何尺寸的縮小一樣，有關(guān)解決半導(dǎo)體可靠性問題的活動也遵循一個似乎有點(diǎn)可以預(yù)測的周期。例如，技術(shù)演進(jìn)到VLSI時，為了保持導(dǎo)線的電路速度，引入了鋁線連接。此時，很快就發(fā)現(xiàn)了電子遷移這類的可靠性問題。一旦發(fā)現(xiàn)了問題所在，就會通過實(shí)驗(yàn)來對退化機(jī)制進(jìn)行建模。利用這些模型，工藝工程師努力使新技術(shù)的可靠性指標(biāo)達(dá)到最佳。隨著技術(shù)的進(jìn)一步成熟，焦點(diǎn)轉(zhuǎn)移到缺陷的降低上面。而隨著ULSI的引入，由于使用了應(yīng)力硅、銅和低K介電材料等，又開始一輪新周期。 　　隨著引入的化合物材料的增加，可靠性方面的挑
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利用LabVIEW和IMAQ 進(jìn)行光電設(shè)備的可靠性測試

  • 為了對某光電設(shè)備進(jìn)行可靠性試驗(yàn)，需要由光應(yīng)力源、電應(yīng)力源、光具工作臺、振動試驗(yàn)臺、光度測量設(shè)備和監(jiān)測與記錄部分等組成可靠性試驗(yàn)系統(tǒng)。
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可靠性測試介紹

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