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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 單片異質(zhì)集成

復(fù)旦大學(xué)在Si CMOS+GaN單片異質(zhì)集成的探索

  • 異質(zhì)異構(gòu)Chiplet正成為后摩爾時(shí)代AI海量數(shù)據(jù)處理的重要技術(shù)路線之一,正引起整個(gè)半導(dǎo)體行業(yè)的廣泛關(guān)注,但這種方法要真正實(shí)現(xiàn)商業(yè)化,仍有賴(lài)于通用標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議、3D建模技術(shù)和方法等。然而,以拓展摩爾定律為標(biāo)注的模擬類(lèi)比芯片技術(shù),在非尺寸依賴(lài)追求應(yīng)用多樣性、多功能特點(diǎn)的現(xiàn)實(shí)需求,正在推動(dòng)不同半導(dǎo)體材料的異質(zhì)集成研究。為此,復(fù)旦大學(xué)微電子學(xué)院張衛(wèi)教授、江南大學(xué)集成電路學(xué)院黃偉教授合作開(kāi)展了Si CMOS+GaN單片異質(zhì)集成的創(chuàng)新研究,并在近期國(guó)內(nèi)重要會(huì)議上進(jìn)行報(bào)道。復(fù)旦大學(xué)微電子學(xué)院研究生杜文張、何漢釗、范文琪等
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單片異質(zhì)集成介紹

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