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半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)? 文章 最新資訊

STC15F104E的STC單片機(jī)自動(dòng)下載系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 引言
    STC單片機(jī)是我國(guó)宏晶公司研制的一系列51單片機(jī)。STC單片機(jī)以傳統(tǒng)的8051單片機(jī)為基礎(chǔ),經(jīng)過(guò)技術(shù)改進(jìn)和資源擴(kuò)展,具有片內(nèi)資源豐富、運(yùn)算速度快、價(jià)格低等優(yōu)點(diǎn)。STC單片機(jī)下載程序不需要編程器燒寫(xiě),可以通過(guò)
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PIC單片機(jī)在電容測(cè)量模塊中的應(yīng)用

  • 摘要:為提高電容測(cè)量精度,針對(duì)電容式傳感器的工作原理設(shè)計(jì)了基于PICl6LF874單片機(jī)電容測(cè)量模塊。簡(jiǎn)單闡述了電 ...
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Gartner:半導(dǎo)體供應(yīng)鏈庫(kù)存指數(shù)報(bào)警

  •   Gartner最新研究報(bào)告指出,半導(dǎo)體供應(yīng)鏈追蹤庫(kù)存指數(shù)(GIISST)與早先9月公布的1.12相比,在第3季度進(jìn)入警戒區(qū)、增至1.16,顯示市場(chǎng)平均銷售價(jià)格可能面臨下降的壓力。   Gartner分析,GIISST指數(shù)與早先9月公布的1.12相比,在第3季度進(jìn)入警戒區(qū)、增至1.16。GIISST指數(shù)高于1.10代表庫(kù)存過(guò)高,平均銷售價(jià)格可能面臨下降的壓力。   另一方面,若GIISST指數(shù)低于0.95,則顯示庫(kù)存水準(zhǔn)低,零部件可能將實(shí)施配銷,以及開(kāi)始出現(xiàn)重復(fù)下單。   Gartner表示,全球
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2011通訊IC與DRAM境遇兩重天

  •   2011年半導(dǎo)體商營(yíng)收成長(zhǎng)將呈現(xiàn)兩極化局面。根據(jù)ICInsights最新研究預(yù)估,2011年全球半導(dǎo)體市場(chǎng)產(chǎn)值成長(zhǎng)率僅達(dá)2%,但受惠今年智慧型手機(jī)和平板等行動(dòng)裝置熱銷,高通(Qualcomm)、英特爾(Intel)和輝達(dá)(NVIDIA)營(yíng)收仍可擁有33%、26%及11%的亮眼表現(xiàn)。相較之下,今年五家動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取記憶體(DRAM)大廠,則受市況不佳影響,表現(xiàn)大不如前,估計(jì)僅三星(Samsung)和東芝(Toshiba)營(yíng)收可微幅成長(zhǎng),其余均是下跌走勢(shì),其中,爾必達(dá)(Elpida)營(yíng)收衰退幅度恐高達(dá)39%
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富士通半導(dǎo)體采用Titan大幅提高模擬設(shè)計(jì)生產(chǎn)率

  •   微捷碼(Magma)設(shè)計(jì)自動(dòng)化有限公司日前宣布,Titan模擬設(shè)計(jì)加速器(Titan ADX)已為富士通半導(dǎo)體有限公司(Fujitsu Semiconductor)所采用。富士通半導(dǎo)體選擇微捷碼軟件是經(jīng)過(guò)了廣泛的評(píng)估,采用Titan ADX優(yōu)化和移植各種模擬知識(shí)產(chǎn)權(quán)(IP)電路到新的設(shè)計(jì)規(guī)格和工藝。評(píng)估結(jié)果證明了,Titan ADX能夠大幅提高設(shè)計(jì)師生產(chǎn)率,可縮短片上系統(tǒng)(SoC)設(shè)計(jì)周期并降低模擬設(shè)計(jì)及設(shè)計(jì)重復(fù)利用的成本。   “作為全世界25大半導(dǎo)體制造商的一員,富士通半導(dǎo)體生產(chǎn)的半
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無(wú)線自動(dòng)抄表系統(tǒng)設(shè)計(jì)應(yīng)用實(shí)例

  • 近些年信息通信領(lǐng)域中發(fā)展最快、應(yīng)用最廣的就是無(wú)線通信技術(shù)。而無(wú)線通信技術(shù)又有著集成化、低功耗、易操作的發(fā)展趨勢(shì)。微功率短距離無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸技術(shù)作為一種無(wú)線通信實(shí)用技術(shù),一般使用單片射頻收發(fā)芯片,加上微控
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在TD-LTE系統(tǒng)組網(wǎng)中測(cè)試中下行流量

  • 無(wú)線網(wǎng)絡(luò)側(cè)用戶數(shù)據(jù)處理的流程 圖1-1 3GPP LTE網(wǎng)絡(luò)的用戶面協(xié)議?! D1-1是3GPP LTE網(wǎng)絡(luò)的用戶面協(xié)議棧 [1]。左邊藍(lán)色框內(nèi)是無(wú)線網(wǎng)絡(luò)側(cè)的用戶面協(xié)議棧。下行數(shù)據(jù)從核心網(wǎng)傳輸?shù)交緜?cè)后,經(jīng)過(guò)PDCP層、RLC層和MAC層
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ADI榮膺2011全球100大最具創(chuàng)新力企業(yè)

  • 近日,湯姆森路透評(píng)選出了2011全球100大最具創(chuàng)新力的企業(yè)。全球領(lǐng)先的高性能信號(hào)處理解決方案供應(yīng)商和數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器市場(chǎng)份額領(lǐng)先者*Analog Devices, Inc. (ADI)憑借卓越的創(chuàng)新能力被評(píng)為全球最具創(chuàng)新力企業(yè)100強(qiáng) Thomson Reuters 2011 Top 100 Global Innovator(SM) program。同時(shí),ADI 也是14家獲得此項(xiàng)殊榮的半導(dǎo)體及電子元器件生產(chǎn)企業(yè)中唯一的模擬半導(dǎo)體公司。
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北美半導(dǎo)體設(shè)備制造商2011年10月訂單出貨比為0.74

  •   國(guó)際半導(dǎo)體設(shè)備與材料協(xié)會(huì) (SEMI)于11月17日公布的十月份訂單出貨比報(bào)告顯示,2011年10月份北美半導(dǎo)體設(shè)備制造商接獲訂單的3個(gè)月平均金額為9.394億美元,訂單出貨比為0.74。0.74意味著當(dāng)月設(shè)備出貨總金額與當(dāng)月新增訂單總金額的比值為100:74。   2011年10月北美半導(dǎo)體設(shè)備制造商接獲全球訂單的3個(gè)月平均金額為9.394億美元,較9月上修值(9.265億美元)增長(zhǎng)1.4%,但是較2010年同期的15.9億美元短少41.1%。   2011年10月3個(gè)月平均出貨金額為12.7億
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采用CPLD的多次重觸發(fā)存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)解決方案

  • 采用CPLD的多次重觸發(fā)存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)解決方案概述:提出一種基于CPLD的多次重觸發(fā)存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案,詳細(xì)介 ...
  • 關(guān)鍵字: CPLD  觸發(fā)存儲(chǔ)  測(cè)試  

μC/OS-II定時(shí)器算法分析與測(cè)試

  • 引 言
    mu;C/OS-II操作系統(tǒng)是建立在微內(nèi)核基礎(chǔ)上的實(shí)時(shí)操作系統(tǒng),搶占式多任務(wù)、微內(nèi)核、移植性好等特點(diǎn),使其在諸多領(lǐng)域都有較好的應(yīng)用。
    在mu;C/OS-II 2.83及其以后的版本中,一個(gè)較大的變化就是增加
  • 關(guān)鍵字: OS-II  定時(shí)器  測(cè)試  算法分析    

單片機(jī)系統(tǒng)抗干擾應(yīng)用實(shí)例

  • 本文在分析MAX813L工作原理的基礎(chǔ)上,結(jié)合實(shí)踐給出了其在51單片機(jī)系統(tǒng)中的具體抗干擾應(yīng)用實(shí)例。詳細(xì)介紹了硬件電路的工作原理和相應(yīng)的系統(tǒng)程序抗干擾編程方法。
    [摘 要] 文章介紹了MAX813L的性能特點(diǎn)和工作原理,
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UPS電源系統(tǒng)的防雷措施

  • 中心議題: 雷電對(duì)于UPS電源的危害 UPS電源的雷電防護(hù) 避雷器的選擇與安裝解決方案: 完善外部防雷設(shè)施,做好機(jī)房接地 采取多級(jí)雷電防護(hù)措施 安裝適當(dāng)規(guī)格的避雷器
    UPS電源的主要工作過(guò)程是濾波整
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電池溫度智能監(jiān)測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 摘要:針對(duì)采用熱敏電阻測(cè)溫和有線溫度測(cè)量系統(tǒng)的不足,提出了采用單總線數(shù)字溫度傳感器DS18B20、單片機(jī)和無(wú)線收發(fā)模塊等組成智能無(wú)線溫度監(jiān)測(cè)系統(tǒng)。DS18B20具有體積小,精度高,采用一線總線,可組網(wǎng)等優(yōu)點(diǎn),短距離
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CMOS電路IDDQ測(cè)試電路設(shè)計(jì)

  • 摘要:針對(duì)CMOS集成電路的故障檢測(cè),提出了一種簡(jiǎn)單的IDDQ靜態(tài)電流測(cè)試方法,并對(duì)測(cè)試電路進(jìn)行了設(shè)計(jì)。所設(shè)計(jì)的IDDQ電流測(cè)試電路對(duì)CMOS被測(cè)電路進(jìn)行檢測(cè),通過(guò)觀察測(cè)試電路輸出的高低電平可知被測(cè)電路是否存在物理缺
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半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)?介紹

您好,目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)?!
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