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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 分析

等離子顯示器（PDP）控制電源設(shè)計(jì)與分析

  • 引言　　隨著人們對(duì)大屏幕彩電的需求不斷增加，等離子顯示器(PDP) 由于其體積小、視角寬、主動(dòng)發(fā)光、亮度高、環(huán)境適應(yīng)性好等獨(dú)特的優(yōu)點(diǎn)，在競(jìng)爭(zhēng)中占有相當(dāng)?shù)膬?yōu)勢(shì)，隨著價(jià)格的降低，它必將進(jìn)入家庭，有著巨大的市場(chǎng)需
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降壓開(kāi)關(guān)電源設(shè)計(jì)過(guò)程中控制技術(shù)分析及選擇

  • 降壓開(kāi)關(guān)電源的設(shè)計(jì)過(guò)程非常簡(jiǎn)單，從最初的規(guī)格說(shuō)明出發(fā)，為設(shè)計(jì)選擇合適的“核心電路”，再配置一些外部元件，最 后仿真和驗(yàn)證以完成設(shè)計(jì)方案。但是目前有很多種控制技術(shù)，如何做出合適的決定很具挑戰(zhàn)性。
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弧焊逆變電源的諧波抑制分析

  • 針對(duì)弧焊逆變電源諧波產(chǎn)生的原因、特點(diǎn)及危害,介紹了無(wú)源濾波器、有源濾波器、軟開(kāi)關(guān)技術(shù)等抑制對(duì)策,以及三種諧波抑制措施特點(diǎn)。通過(guò)分析指出,傳統(tǒng)的無(wú)源濾波方式存在不足,而有源濾波能彌補(bǔ)它的不足,另外,軟開(kāi)關(guān)技術(shù)的應(yīng)用,在一定程度上也可以達(dá)到良好的濾波效果。
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醫(yī)用逆變電源的作用和特點(diǎn)分析

  • 眾所周知，對(duì)醫(yī)療單位而言，電力保障是非常重要的，因此我們常?？吹结t(yī)療單位在電力保障方面都會(huì)予以嚴(yán)格的要求。一臺(tái)醫(yī)療設(shè)備在醫(yī)院是否能夠發(fā)揮其最大效能，除了與機(jī)器本身的技術(shù)性能有直接的關(guān)系外，還和供電電源
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開(kāi)關(guān)電源常規(guī)功能測(cè)試分析

分析電力系統(tǒng)中的時(shí)鐘同步技術(shù)

  • 電力系統(tǒng)是時(shí)間相關(guān)系統(tǒng),無(wú)論電壓、電流、相角、功角變化,都是基于時(shí)間軸的波形。近年來(lái),超臨界、超超臨界機(jī)組相繼并網(wǎng)運(yùn)行,大區(qū)域電網(wǎng)互聯(lián),特高壓輸電技術(shù)得到發(fā)展。電網(wǎng)安全穩(wěn)定運(yùn)行對(duì)電力自動(dòng)化設(shè)備提出了新的要求
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有關(guān)感性無(wú)功補(bǔ)償?shù)膯?wèn)題分析

  • 無(wú)功補(bǔ)償是保證電壓合格的重要因素，無(wú)功補(bǔ)償又為容性補(bǔ)償和感性補(bǔ)償，缺容性無(wú)功，電壓偏低，缺感性無(wú)功，則會(huì)出現(xiàn)電壓偏高。電力系統(tǒng)的容性無(wú)功補(bǔ)償，從高壓到低壓，從變電所的集中補(bǔ)償?shù)接脩舻姆稚⒕偷匮a(bǔ)償，以及
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視頻監(jiān)控卡的主要功能和技術(shù)指標(biāo)分析

  • 標(biāo)簽：視頻采集 監(jiān)控卡監(jiān)控卡也叫視頻采集卡、視頻壓縮卡、視頻卡，通常統(tǒng)稱監(jiān)控卡。監(jiān)控卡是插在PC電腦的PCI接口上，通過(guò)軟件對(duì)視頻監(jiān)控圖像進(jìn)行捕捉，以一定格式進(jìn)行壓縮并保存在PC電腦硬盤(pán)上，通常壓縮格式有MJP
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基于Multisim10的差分放大電路溫漂分析

  • 摘要：在模擬電路的教學(xué)中，差分放大電路的溫漂抑制作用無(wú)疑是一個(gè)難點(diǎn)內(nèi)容。如果在教學(xué)中應(yīng)用Multisim10進(jìn)行仿真分析，可以將復(fù)雜的知識(shí)簡(jiǎn)單化，從而加深學(xué)生對(duì)理論知識(shí)的理解，大大提高課堂教學(xué)效果。
    關(guān)鍵詞：Mu
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工程師分析實(shí)例，帶你走近Xilinx FPGA設(shè)計(jì)

  • 工程師分析實(shí)例，帶你走近Xilinx FPGA設(shè)計(jì),一.概述　　本文主要幫助大家熟悉利用ISE進(jìn)行Xilinx 公司FPGA 代碼開(kāi)發(fā)的基本流程。主要是幫助初學(xué)者了解和初步掌握 ISE 的使用，不需要 FPGA 的開(kāi)發(fā)基礎(chǔ)，所以對(duì)每個(gè)步驟并不進(jìn)行深入的討論?！　”疚慕榻B的內(nèi)容從新
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用實(shí)例分析硬件可靠性測(cè)試設(shè)計(jì)

  • 從硬件角度出發(fā)，可靠性測(cè)試分為兩類(lèi)：　　以行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或者國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)的可靠性測(cè)試。比如電磁兼容試驗(yàn)、氣候類(lèi)環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械類(lèi)環(huán)境試驗(yàn)和安規(guī)試驗(yàn)等。　　企業(yè)自身根據(jù)其產(chǎn)品特點(diǎn)和對(duì)質(zhì)量的認(rèn)識(shí)所開(kāi)發(fā)的測(cè)試項(xiàng)目
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SOC時(shí)序分析中的跳變點(diǎn)介紹

  • SOC時(shí)序分析中的跳變點(diǎn)介紹,　跳變點(diǎn)是所有重要時(shí)序分析工具中的一個(gè)重要概念。跳變點(diǎn)被時(shí)序分析工具用來(lái)計(jì)算設(shè)計(jì)節(jié)點(diǎn)上的時(shí)延與過(guò)渡值。跳變點(diǎn)的有些不同含義可能會(huì)被時(shí)序分析工程師忽略。而這在SOC設(shè)計(jì)后期，也就是要對(duì)時(shí)序簽字時(shí)可能會(huì)導(dǎo)致問(wèn)
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ARM啟動(dòng)代碼的設(shè)計(jì)分析

  • ARM啟動(dòng)代碼的設(shè)計(jì)分析,ARM體系結(jié)構(gòu)　　目前，ARM系列的通用32位RISC微處理器有ARM7、ARM9、ARM9E、ARM10等多個(gè)產(chǎn)品，這些處理器可以工作于7種模式下。除User模式以外的其它模式都叫做特權(quán)模式，除User和System以外的其它5種模式叫做異常模
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C&C08交換機(jī)故障分析與處理

  • 標(biāo)簽：CC08 故障分析1告警系統(tǒng)分析CC08程控交換機(jī)在運(yùn)行過(guò)程中，當(dāng)某些部件出現(xiàn)故障時(shí)，交換機(jī)的告警系統(tǒng)就會(huì)檢測(cè)收集到各種軟、硬件故障，然后經(jīng)維護(hù)軟件處理后在告警臺(tái)輸出告警信息報(bào)告，并通過(guò)告警箱顯示告警級(jí)
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EMC測(cè)試儀器原理分析和應(yīng)用介紹

  • 中心議題：靜電放電測(cè)試儀參數(shù)和應(yīng)用快速瞬變脈沖測(cè)試儀參數(shù)和應(yīng)用雷擊浪涌測(cè)試儀參數(shù)和應(yīng)用EMC測(cè)試儀器完全符合IEC61000-4-2和GB/T17626.2標(biāo)準(zhǔn)的要求，旨在為評(píng)定電氣和電子設(shè)備經(jīng)受靜電放電時(shí)的性能制定一個(gè)共同的
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分析介紹

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