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驅動中國“智”造,美國國家儀器以集成式軟硬件平臺應對工業(yè)物聯(lián)網挑戰(zhàn)
- 2015年9月15日,美國國家儀器有限公司(National Instruments, 簡稱NI)在上海嘉里大酒店舉辦了驅動中國“智”造——走進工業(yè)物聯(lián)網與大數據媒體見面會暨《工業(yè)大數據》新書發(fā)布會。此次會議旨在讓用戶了解工業(yè)物聯(lián)網與大數據應用的最新發(fā)展趨勢,分享NI模塊化、集成式嵌入式軟硬件平臺的獨特優(yōu)勢,同時見證《工業(yè)大數據》新書發(fā)布。 現(xiàn)今工業(yè)4.0、智能硬件、物聯(lián)網已經成為全球熱門話題,并且伴隨著《中國制造2025》規(guī)劃的提出,傳統(tǒng)制造業(yè)正
- 關鍵字: NI 物聯(lián)網
第三屆全國虛擬儀器大賽決勝哈工大

- 由中國儀器儀表學會、教育部高等學校儀器類專業(yè)教學指導委員會主辦,哈爾濱工業(yè)大學承辦,美國國家儀器公司(National Instruments,簡稱NI)協(xié)辦的2015(第三屆)全國虛擬儀器大賽14日在哈爾濱工業(yè)大學舉行頒獎儀式,80支入圍參賽隊最終分享了各個獎項,清華大學代表隊以自平衡自行車設計奪走唯一的特等獎,并已經入圍NI全球學生設計競賽前三名?! ?015(第三屆)全國虛擬儀器大賽大賽分為軟件組、綜合組—基于PC的虛擬儀器平臺、綜合組—嵌入式虛擬儀器平臺和綜合組—模塊化PXI平臺四大組別,共收
- 關鍵字: NI 第三屆全國虛擬儀器大賽 Ray Hsu 201509
NI針對工業(yè)物聯(lián)網(IIoT)推出新一代控制系統(tǒng)
- 美國國家儀器公司(National Instruments,簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來幫助他們應對全球最嚴峻工程挑戰(zhàn)的供應商,今日宣布推出了基于開放、靈活的LabVIEW可重配置I/O (RIO)架構的全新嵌入式系統(tǒng)硬件。該硬件包含了以下三個控制器:高性能CompactRIO控制器,適用于需要系統(tǒng)堅固可靠、環(huán)境嚴苛的工業(yè)應用領域的工程師和系統(tǒng)集成商;FlexRIO控制器,適用于高性能嵌入式應用設計工程師;以及Single-Board RIO控制器,適用于需要提高嵌入式應用靈活
- 關鍵字: NI 物聯(lián)網
NI推出全新CompactDAQ硬件和DIAdem 2015軟件,幫助工程師解決大數據挑戰(zhàn)
- 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來應對全球最嚴峻的工程挑戰(zhàn)的供應商,今日宣布推出了以下全新的硬件和軟件來幫助工程師開發(fā)更智能的測量和數據管理解決方案:具有四核處理功能的全新4槽和8槽CompactDAQ控制器、全新的14槽USB 3.0 CompactDAQ機箱、DIAdem 2015和DataFinder 2015服務器版。 隨著工程數據呈指數級增長,基于軟件的智能化測量系統(tǒng)可幫助用戶在采集過程中添加智能和處理功能
- 關鍵字: NI CompactDAQ
NI助力中國工程人才教育,2015第三屆全國虛擬儀器大賽圓滿落幕

- 新聞發(fā)布—第三屆全國虛擬儀器大賽于2015年7月13日-14日在哈爾濱工業(yè)大學舉行了最終決賽并落下帷幕。來自全國各大高校的80支學生代表隊參與了最終決賽,經過現(xiàn)場的激烈角逐和評委們的嚴格審查,清華大學的“自平衡自行車”摘得桂冠,獲得了本次大賽唯一的特等獎。[圖] 第三屆全國虛擬儀器大賽在哈爾濱工業(yè)大學圓滿落幕2015第三屆全國虛擬儀器大賽由中國儀器儀表學會、教育部高等學校儀器類專業(yè)教學指導委員會主辦,哈爾濱工業(yè)大學承辦,美國國家儀器(NI)有限公司協(xié)辦。全國虛擬儀器大賽自2011年啟動以來,受到了國家相關
- 關鍵字: NI
NI引領動手工程教育,喚醒下一代卓越工程師
- 美國國家儀器有限公司(National Instruments, 簡稱NI)于7月13日在冰城哈爾濱成功舉辦了第十一屆NI全國高校教師交流會(Professor Day 2015)。今年教師交流會的主題圍繞“Do Engineering—喚醒下一代卓越工程師”這一理念展開, 共吸引了來自全國25個省/直轄市、197所高校和25所高職院校的200多名教師參加。 中國正面臨著制造業(yè)改革創(chuàng)新的趨勢,在國務院發(fā)布的《中國制造
- 關鍵字: NI Do Engineering Professor Day
PXI加入戰(zhàn)局,ATE全面模塊化時代到來
- 半導體測試ATE是整個測試系統(tǒng)中最為精密的一個環(huán)節(jié),也是最具市場價值的測試應用領域之一,相比于幾萬塊錢規(guī)模的自動化測試系統(tǒng),動輒百萬的半導體測試ATE從技術上就限制了很多玩家的進入。當然,龐大的系統(tǒng)有自己固有的問題,就是設備的使用成本過于昂貴,基于這樣的需求,NI的PXI技術尋找了市場的切入點技術找到了市場的切入點。 在快速變遷的市場環(huán)境下,設備性能不斷挑戰(zhàn)著ATE系統(tǒng)功能的極限,測試設備的淘汰速度加快,測試成本也隨之增加,因而需要與日益嚴苛的性能需求保持同步。 成本效益是NI吸引半導體測試客戶的最大亮
- 關鍵字: PXI ATE NI 模塊化 半導體測試
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