Tektronix、Altera和FS2技術(shù)合作
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Tektronix有限公司(NYSE:TEK)、Altera(NASDAQ:ALTR)公司和First Silicon Solutions(FS2)近日發(fā)布了FPGAView?——FS2為Tektronix TLA邏輯分析儀提供的軟件包,可對Altera? FPGA進行實時調(diào)試。采用FPGAView,設(shè)計工程師能夠迅速方便的測量其Altera FPGA設(shè)計內(nèi)部的信號,不必重新編譯設(shè)計便可以選擇探測哪一組內(nèi)部信號。
FS2副總裁兼總經(jīng)理Rick Leatherman說:“我們與Tektronix和Altera合作,幫助用戶在設(shè)計Altera FPGA時提高其效能,縮短調(diào)試時間。通過充分利用我們的調(diào)試知識產(chǎn)權(quán)、探測技術(shù)和PC軟件專門技術(shù)來生成FPGAView,我們?yōu)樵O(shè)計人員提供的工具幫助他們迅速方便的進行信號測量,而不必重新編譯設(shè)計,這實際上節(jié)省了時間和金錢?!?
FPGAView軟件包安裝在Tektronix邏輯分析儀上,由Altera’s Quartus? II設(shè)計軟件5.1引入的邏輯分析儀接口功能提供支持。邏輯分析儀接口功能通過用戶配置復(fù)用器將大量的內(nèi)部信號映射到少量的輸出引腳上。Tektronix邏輯分析儀由JTAG端口連接至FPGA,F(xiàn)PGAView控制哪些內(nèi)部FPGA信號映射至輸出引腳,進行實時顯示和調(diào)試。與其他調(diào)試方法相比,設(shè)計人員將會發(fā)現(xiàn)FPGAView、Altera邏輯分析儀接口功能和Tektronix邏輯分析儀組合方便易用、對系統(tǒng)的干擾較小。
Tektronix邏輯分析儀生產(chǎn)線副總裁David Bennett說:“隨著FPGA密度和復(fù)雜性的不斷提高,設(shè)計人員正在尋求易于使用、效率更高的手段來調(diào)試器件內(nèi)部節(jié)點。Tektronix邏輯分析儀這一新的調(diào)試方案不但使設(shè)計團隊能夠查看其Altera FPGA設(shè)計的內(nèi)部運轉(zhuǎn)情況,還可以將這些內(nèi)部信號與電路板上的其他信號進行關(guān)聯(lián)?!?
Altera產(chǎn)品和公司營銷副總裁Danny Biran說:“隨著FPGA設(shè)計的復(fù)雜化,以及縮短設(shè)計周期壓力的增大,具備迅速調(diào)試FPGA的能力變得越來越關(guān)鍵,推動了對FPGAView等解決方案的需求。設(shè)計人員可以利用Tektronix邏輯分析儀和FPGAView自動調(diào)試過程的高級功能來迅速方便的完成其設(shè)計,達到產(chǎn)品面市的目標(biāo)。”
FPGAView適用于所有的Tektronix TLA邏輯分析儀。此外,F(xiàn)PGAView可采用Altera的ByteBlaster?和USB-Blaster?編程電纜進行工作,而不必向邏輯分析儀手動輸入信號名稱。
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