擴(kuò)頻時(shí)鐘發(fā)生器

擴(kuò)頻時(shí)鐘發(fā)生器

　　降低電磁干擾(EMI)是電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員需要考慮的一個(gè)重要因素，擴(kuò)頻時(shí)鐘(CLK) 為降低EMI 提供了一個(gè)有效途徑。本文給出了擴(kuò)頻CLK 的定義和估算EMI 抑制性能的簡(jiǎn)單公式。所提供的公式經(jīng)過(guò)Maxim CLK 發(fā)生器MAX9492 的數(shù)據(jù)驗(yàn)證。

　　數(shù)字信號(hào)有兩種主要形式：數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)和數(shù)字是鐘(CLK)。

　　數(shù)字信號(hào)是當(dāng)前數(shù)字電子產(chǎn)品中的主要信號(hào)形式，通常為單端信號(hào)，CMOS 或TTL 電平。我們觀察到的數(shù)字信號(hào)一般是一串寬度不同的脈沖，時(shí)鐘信號(hào)通常是具有相同脈寬的矩形脈沖。

　　數(shù)字信號(hào)和CLK 信號(hào)的頻譜成份包含有高次諧波，信號(hào)本身及其諧波共同在電子系統(tǒng)內(nèi)部和系統(tǒng)之間產(chǎn)生了電磁干擾(EMI)。降低EMI 的一條簡(jiǎn)單、有效途徑是使CLK 頻率產(chǎn)生抖動(dòng)[1, 2]。本應(yīng)用筆記介紹了擴(kuò)頻CLK (MAX9492),并提供了一種利用時(shí)鐘參數(shù)指標(biāo)快速計(jì)算EMI 抑制的方法。

擴(kuò)頻CLK: 定義和測(cè)量

　　為了考察抖動(dòng)時(shí)鐘的擴(kuò)展頻譜，我們定義了以下擴(kuò)頻CLK 參數(shù)：擴(kuò)展率、擴(kuò)頻類(lèi)型、調(diào)制率和調(diào)制波形。擴(kuò)展率是頻率抖動(dòng)(或擴(kuò)展)范圍與原CLK 頻率(fC)的比值。擴(kuò)頻類(lèi)型指向下擴(kuò)頻、中心擴(kuò)頻或向上擴(kuò)頻。假設(shè)擴(kuò)頻范圍為Δf，則擴(kuò)展率 定義為：

　　向下擴(kuò)頻: = -Δf /fC x 100%

　　中心擴(kuò)頻:  =