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仿真方法解決測(cè)量PCB時(shí)電磁輻射

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作者: 時(shí)間:2007-10-23 來(lái)源:電子工程專輯 收藏
  首先,EMI的測(cè)試包括近場(chǎng)探頭和遠(yuǎn)場(chǎng)的輻射測(cè)試,任何仿真工具都不可能替代實(shí)際的測(cè)試;其次,Ansoft的單板噪聲和輻射仿真工具SIwave和任意三維結(jié)構(gòu)的高頻結(jié)構(gòu)仿真器HFSS分別可以仿真單板和系統(tǒng)的近場(chǎng)和遠(yuǎn)場(chǎng)輻射,以及在有限屏蔽環(huán)境下的EMI輻射。 仿真的有效性,取決于你對(duì)自己設(shè)計(jì)的EMI問(wèn)題的考慮以及相應(yīng)的軟件設(shè)置。例如:?jiǎn)伟迳喜钅_€是共模輻射,電流源還是電壓源輻射等等。就我們的一些實(shí)踐和經(jīng)驗(yàn),絕大多數(shù)的EMI問(wèn)題都可以通過(guò)仿真分析解決,而且與實(shí)際測(cè)試比較,效果非常好。


關(guān)鍵詞: PCB IC電路板測(cè)試 PCB

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