Agilent分析探針支持533MTps設計和調試
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日前推出的FSI-60075內(nèi)插件分析探針，是Agilent(安捷倫科技)專為下一代DDR2 SDRAM總線分析而設計的產(chǎn)品。該新品為低平外形內(nèi)插件，對DDR2總線影響小，可使用任何Jedec標準的DDR2雙在線存儲模塊(DIMM)在533MTps下進行設計和調試。且其垂直設計還最小化了水平方向的外部區(qū)域，從而允許DIMM緊鄰探針安裝在槽內(nèi)。www.agilent.com
日前推出的FSI-60075內(nèi)插件分析探針，是Agilent(安捷倫科技)專為下一代DDR2 SDRAM總線分析而設計的產(chǎn)品。該新品為低平外形內(nèi)插件，對DDR2總線影響小，可使用任何Jedec標準的DDR2雙在線存儲模塊(DIMM)在533MTps下進行設計和調試。且其垂直設計還最小化了水平方向的外部區(qū)域，從而允許DIMM緊鄰探針安裝在槽內(nèi)。www.agilent.com
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