《射頻混頻器總規(guī)范(GB)》

1 主題內(nèi)容與適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了射頻混頻器的一般技術(shù)要求、質(zhì)量保證規(guī)定以及包裝、貯存和運(yùn)輸?shù)囊蟆?br />
本標(biāo)準(zhǔn)適用于電子和通信設(shè)備中作平衡混頻器、相位檢出器、平衡調(diào)制器、幅度調(diào)制器、脈沖調(diào)制器
和電流控制衰減器之用的射頻混頻器。

2 引用標(biāo)準(zhǔn)

下列標(biāo)準(zhǔn)的有效版本，在本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的范圍內(nèi)構(gòu)成本標(biāo)準(zhǔn)的一部分。

GB 191 包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志
GB 2421 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則
GB 2423. 1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB 2423.2 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GB 2423. 4 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法
GB 2423.5 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ea：沖擊試驗(yàn)方法
GB 2423. 10 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Fc：振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)方法
GB 2423.17 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法
GB 2423.21 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法
GB 2423. 22 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法
GB 2423. 28 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)T:錫焊試驗(yàn)方法
GB 2423.29 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)U：引出端及整體安裝件強(qiáng)度
GB 2423.30 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)XA：在清洗劑中浸漬
GB 2828 逐批檢查計(jì)數(shù)抽樣程序及抽樣表（適用于連續(xù)批的檢查）
GJB 360.4 電子及電氣元件試驗(yàn)方法浸漬試驗(yàn)
GJB 360.12 電子及電氣元件試驗(yàn)方法密封試驗(yàn)

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