iNEMI解決電路板的質(zhì)量問題

由公司組成的國際電子制造商聯(lián)盟（iNEMI）啟動(dòng)了三個(gè)項(xiàng)目，旨在幫助制造商改進(jìn)印刷電路板（PCB）的質(zhì)量。其中一個(gè)項(xiàng)目是為了建立一種評(píng)估功能測(cè)試故障覆蓋率的標(biāo)準(zhǔn)方法，第二個(gè)項(xiàng)目是為了鼓勵(lì)元件制造商更廣泛地采用邊界掃描技術(shù)，第三個(gè)項(xiàng)目是為了建立一種測(cè)試印刷電路組裝的機(jī)械性能的方法。

　　iNEMIS表示，其使命是發(fā)現(xiàn)技術(shù)差距，并通過鼓勵(lì)加快部署新技術(shù)、開發(fā)行業(yè)基礎(chǔ)設(shè)施、推廣有效的商業(yè)實(shí)踐及鼓勵(lì)采用標(biāo)準(zhǔn)來彌補(bǔ)這些技術(shù)差距。該聯(lián)盟通過技術(shù)綜合組（TIG）開展項(xiàng)目，這些TIG是圍繞評(píng)估行業(yè)最重要需求的iNEMI路線圖中確定的特定領(lǐng)域組織的。圖1顯示了該路線圖的基本項(xiàng)目模型。電路板級(jí)項(xiàng)目通過惠普的Rosa Reinosa和英特爾的J.J. Grealish主持的電路板和系統(tǒng)生產(chǎn)測(cè)試TIG開展。

　　評(píng)估功能測(cè)試的故障覆蓋率

　　iNEMI的電路板測(cè)試TIG麾下開展的第一個(gè)項(xiàng)目是力求創(chuàng)建一個(gè)量化模型，來估算和預(yù)測(cè)功能測(cè)試的故障覆蓋率。英特爾的測(cè)試開發(fā)工程師Tony Taylor最初于2006年在臺(tái)灣提出了建立電路板制造商和設(shè)備供應(yīng)商論壇的想法。論壇參與者希望得到行業(yè)更廣泛的反饋意見以便制定一致的指導(dǎo)方針，他們還建議Taylor與iNEMI合作。該項(xiàng)目由Taylor主持，涉及大量在其他領(lǐng)域激烈競(jìng)爭(zhēng)的企業(yè)，這些企業(yè)維持著一種合作氛圍，意識(shí)到他們的工作成果將使每一個(gè)人受益?！?