論TD-LTE系統(tǒng)組網(wǎng)測(cè)試中下行流量的測(cè)試

表3-1下行流量在理想信道環(huán)境下的核心測(cè)試案例

表3-2下行流量在非理想信道環(huán)境下的核心測(cè)試案例

　　總結(jié)

　　從測(cè)試?yán)碚搧?lái)看，測(cè)試不是追求100%覆蓋，而是要根據(jù)特定的測(cè)試目的，尋找到一套有效的測(cè)試方法來(lái)保證產(chǎn)品的質(zhì)量。 TD-LTE系統(tǒng)組網(wǎng)測(cè)試應(yīng)該主要是針對(duì)實(shí)際應(yīng)用的網(wǎng)絡(luò)中最常規(guī)和最大量應(yīng)用的場(chǎng)景進(jìn)行測(cè)試。本文從理論上分析了物理層和MAC層對(duì)下行流量的主要影響因素和常用配置，提出了運(yùn)營(yíng)商組網(wǎng)測(cè)試中理想信道環(huán)境下和非理想信道環(huán)境下針對(duì)下行流量的核心測(cè)試案例，其中的系統(tǒng)配置可以根據(jù)運(yùn)營(yíng)商具體的網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用需求作出調(diào)整。這些測(cè)試案例可以作為運(yùn)營(yíng)商TD-LTE網(wǎng)絡(luò)入網(wǎng)測(cè)試時(shí)針對(duì)下行流量測(cè)試的主要測(cè)試案例。

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