如何認(rèn)識(shí)磁粉檢測(cè)在容器檢驗(yàn)中的作用

　　1　問題的提出

　　在實(shí)際工作中,我們常聽到用戶說:“這臺(tái)容器已經(jīng)用X射線做過檢查了,沒發(fā)現(xiàn)缺陷,為什么還要做磁粉檢測(cè)呢?”用戶提出這樣的問題,源于用戶對(duì)X射線檢測(cè)與磁粉檢測(cè)的特點(diǎn)不了解,片面地認(rèn)為X射線檢測(cè)可以代替一切檢驗(yàn)手段,只要X射線檢驗(yàn)合格了,其它檢驗(yàn)方法都可以不用做了,容器肯定是合格的,不會(huì)出現(xiàn)危險(xiǎn),其實(shí)這種認(rèn)識(shí)是錯(cuò)誤的。

　　2　X射線的檢測(cè)范圍及優(yōu)缺點(diǎn)

　　2.1　X射線的檢測(cè)范圍

　　X射線是檢測(cè)內(nèi)部缺陷的無損檢測(cè)方法,它在鍋爐、壓力容器、船體、管道和其它結(jié)構(gòu)的焊縫和鑄件方面應(yīng)用得十分廣泛。

　　2.2　優(yōu)點(diǎn)、缺點(diǎn)

　　X射線檢測(cè)可以顯示缺陷的形狀、平面位置、性質(zhì)和大小,底片可以長(zhǎng)期保留。對(duì)于如氣孔、夾渣、縮孔等體積性缺陷,在X射線透照方向有較明顯的厚度差,即使很小的缺陷也較容易檢查出來。而對(duì)于如裂紋那樣的面狀缺陷,只有與裂紋方向平行的X射線照射時(shí),才能夠檢查出來,而同裂紋面幾乎垂直的射線照射時(shí),就很難查出。這是因?yàn)樵谡丈浞较驇缀鯖]有厚度差的緣故。JB4730-94標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了焊縫的透照厚度比K值的大小,環(huán)縫的A級(jí)和AB級(jí)的K值不大于1.1,B級(jí)的K值不大于1.06;縱縫的A級(jí)和AB級(jí)的K值不大于1.03,B級(jí)的K值不大于1.01。焊縫透照厚度比為(見圖1):K=T′/T

　　式中　T—母材厚度

　　T′—射線束斜向透照最大厚度

　　原因是K值與橫向裂紋檢出角Q有關(guān),Q=cos-1(1/K)。在裂紋開度、裂紋長(zhǎng)度和裂紋深度相同的情況下,K值越小,X射線穿過工件時(shí),由橫向裂紋引起的衰減越小,照射到膠片上的強(qiáng)度越強(qiáng)。經(jīng)暗室處理后,膠片的黑度越黑,發(fā)現(xiàn)裂紋的可能性越大。反之K值越大發(fā)現(xiàn)裂紋的可能性越小。對(duì)懷疑是裂紋而又無法斷定的缺陷,可以通過改變透照方向的方法,獲得最佳的影像,才容易發(fā)現(xiàn)缺陷。例如在圖2管道檢驗(yàn)中,位置1比位置2更容易發(fā)現(xiàn)裂紋。

　　3　磁粉檢測(cè)的范圍及優(yōu)缺點(diǎn)

　　3.1　磁粉的檢測(cè)范圍

　　適用于磁性材料的表面和近表面缺陷檢測(cè),不適用于非磁性材料和工件內(nèi)部缺陷的檢測(cè)。廣泛應(yīng)用于各個(gè)工業(yè)領(lǐng)域,在鑄、鍛件的制造過程中、在焊接件、機(jī)械零件的加工過程中,特別是在鍋爐、壓力容器、管道等的定期維修過程中,磁粉檢測(cè)都是最重要的常用的無損檢測(cè)手段。

　　3.2　優(yōu)點(diǎn)、缺點(diǎn)

　　磁粉探傷具有操作簡(jiǎn)便、檢查迅速、靈敏度高的優(yōu)點(diǎn),根據(jù)磁粉聚集的形狀、寬窄和位置可判斷缺陷的形狀、大小和位置,但不能確定缺陷的深度。