天線測(cè)試方法的選擇及評(píng)估
圖5:一個(gè)用于天線測(cè)試的200MHz至40GHz小型錐形暗室
圖6:從圖中可以看出,在200MHz點(diǎn)測(cè)得的反射率大于30dB
圖7:圖中測(cè)試采用雙脊喇叭作為源
圖8:圖中測(cè)試采用一個(gè)對(duì)數(shù)周期天線來(lái)掃描QZ以測(cè)量反射率
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圖5:一個(gè)用于天線測(cè)試的200MHz至40GHz小型錐形暗室
圖6:從圖中可以看出,在200MHz點(diǎn)測(cè)得的反射率大于30dB
圖7:圖中測(cè)試采用雙脊喇叭作為源
圖8:圖中測(cè)試采用一個(gè)對(duì)數(shù)周期天線來(lái)掃描QZ以測(cè)量反射率
評(píng)論