射頻識別（RFID）系統(tǒng)中的電子標(biāo)簽天線
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采用上述使用匹配電路進(jìn)行測試的方案除了可以獲得一定精度的帶寬和回波損耗等參數(shù)之外，對于測試天線的方向圖和增益等輻射特性也是必須的。只有通過阻抗匹配電路才能將天線接收到的絕大部分能量基本無反射地傳遞到測試系統(tǒng)中，從而測試出相應(yīng)的輻射參數(shù)。
5 結(jié)語
隨著射頻識別技術(shù)的應(yīng)用不斷擴(kuò)大，越來越多的場合要求使用射頻識別系統(tǒng)。電子標(biāo)簽天線作為射頻識別系統(tǒng)中不可或缺的重要一環(huán)，其設(shè)計、生產(chǎn)、測試等均是未來研究的主要內(nèi)容之一。由于電磁波的固有特性，在諸如臨近金屬、液體等環(huán)境中，射頻識別系統(tǒng)的性能將大打折扣。在這樣的環(huán)境中除了提高讀寫器的性能之外，電子標(biāo)簽天線的性能的提高更為重要。目前我們正在針對電子標(biāo)簽天線在這些復(fù)雜環(huán)境中的應(yīng)用展開研究。另外，柔性電子標(biāo)簽貼附在非平坦表面時性能也會有所惡化。如何避免柔性標(biāo)簽應(yīng)用到非平坦表面帶來的影響也是目前我們另一個研究重點。隨著射頻識別技術(shù)的不斷推廣和各項研究的深入，相信在不遠(yuǎn)的將來射頻識別的身影將遍布各個應(yīng)用領(lǐng)域。
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