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基于DSP的多頻帶混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)

作者: 時(shí)間:2009-11-13 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

1的特點(diǎn)和測(cè)試要求

隨著數(shù)字化浪潮的深入,具有混合信號(hào)功能的芯片越來(lái)越多地出現(xiàn)在人們的生活中。通訊領(lǐng)域的MODEM(如),和飛速發(fā)展的手機(jī)芯片,視頻處理器領(lǐng)域的MPEG,DVD芯片,都是具有混合信號(hào)功能的芯片,其特點(diǎn)是處理速度高、覆蓋的頻率范圍寬,芯片的升級(jí)換代周期日益縮短。這就要求測(cè)試系統(tǒng)具有更高的性能和更寬的頻帶范圍,而且需要靈活的架構(gòu)來(lái)應(yīng)對(duì)不斷升級(jí)的芯片測(cè)試需求,以便有效降低新器件的測(cè)試成本。此外,混合信號(hào)芯片種類繁多,各種具有混合信號(hào)的芯片已經(jīng)廣泛運(yùn)用到生產(chǎn)和生活的各個(gè)領(lǐng)域,而不同的應(yīng)用領(lǐng)域,其工作的頻率和所要求的精度也各不相同,這就要求在對(duì)混合信號(hào)進(jìn)行測(cè)試時(shí),抓住其共性來(lái)提出測(cè)試方案。所有混合信號(hào)芯片的一個(gè)最基本的共性就是其內(nèi)部均具有AD/DA,一些混合信號(hào)芯片還包括PLL模塊。本文所論述的僅涉及到ADC和DAC通路。

一般,對(duì)于ADC通路,測(cè)試系統(tǒng)需要通過(guò)波形發(fā)生器產(chǎn)生適當(dāng)?shù)募?lì)信號(hào),同時(shí),通過(guò)自身的數(shù)字通道采集ADC的輸出信號(hào)并進(jìn)行運(yùn)算以獲得測(cè)試結(jié)果;對(duì)于DAC通路,測(cè)試系統(tǒng)需要通過(guò)數(shù)字通道產(chǎn)生適當(dāng)?shù)募?lì)信號(hào),同時(shí),通過(guò)自身的波形采樣器采集DAC的輸出信號(hào)并進(jìn)行運(yùn)算獲得測(cè)試結(jié)果。但無(wú)論對(duì)于ADC還是DAC測(cè)試,都要求系統(tǒng)的模擬模塊,即波形發(fā)生器和波形采樣器,與系統(tǒng)的數(shù)字通道同步,才能確保測(cè)試的準(zhǔn)確性。此外,系統(tǒng)還需提供豐富的內(nèi)置函數(shù),迅速完成對(duì)采集信號(hào)的運(yùn)算,才能實(shí)現(xiàn)對(duì)ADC/DAC的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)特性的測(cè)試。因此,在對(duì)混合信號(hào)芯片的測(cè)試過(guò)程中,一般需要數(shù)字通道、波形發(fā)生器、波形分析器、直流電源、時(shí)隙分析器、系統(tǒng)時(shí)鐘等模塊,其中波形發(fā)生器和波形分析器是決定系統(tǒng)速度和精度的關(guān)鍵環(huán)節(jié),本文分別在這兩個(gè)方面做較詳盡的論述。

2傳統(tǒng)測(cè)試方法面臨的挑戰(zhàn)

傳統(tǒng)的基于純軟件的測(cè)試方法已經(jīng)難于應(yīng)對(duì)新型混合信號(hào)器件的測(cè)試需求,對(duì)于混合信號(hào)器件,通常要通過(guò)測(cè)試其互調(diào)失真(IMD)、多音頻功率比率(MTPR)等參數(shù),以獲得器件的非線性特性,測(cè)試這些參數(shù),需要采集大量的數(shù)據(jù),并進(jìn)行大量的運(yùn)算,傳統(tǒng)的測(cè)試儀器通常采用基于軟件的方法在主機(jī)中實(shí)現(xiàn),其缺點(diǎn)在于,一方面限制了運(yùn)算速度的提高;另一方面,主機(jī)和測(cè)試臺(tái)之間存在大量的數(shù)據(jù)交互,容易造成總線沖突,因而測(cè)試效率不高。針對(duì)這個(gè)情況,一種切實(shí)可行的方案是在測(cè)試系統(tǒng)前端建立本地儀器子系統(tǒng),將原來(lái)基于軟件的信號(hào)處理庫(kù)移植到本地處理器中來(lái)完成,儀器子系統(tǒng)集成信號(hào)產(chǎn)生和采集的功能,并采用高速進(jìn)行大量的數(shù)學(xué)運(yùn)算,以減少主機(jī)處理的時(shí)間,消除總線沖突。而且前端子系統(tǒng)與被測(cè)器件(DUT)間結(jié)構(gòu)緊湊,可以取得很高的時(shí)鐘頻率,便于靈活地處理多種測(cè)試問(wèn)題,例如,在傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)中,要產(chǎn)生具有測(cè)試所需的動(dòng)態(tài)范圍的音頻很困難,現(xiàn)在,使用基于的任意波形發(fā)生器,這一任務(wù)就變得非常容易。這里最新研制的BC3192V50數(shù)?;旌霞呻娐窚y(cè)試系統(tǒng)基于VXI總線設(shè)計(jì),其最大優(yōu)點(diǎn)是軟件和硬件都具有開放性和標(biāo)準(zhǔn)化的結(jié)構(gòu),這種結(jié)構(gòu)允許開發(fā)新的模塊和子系統(tǒng)來(lái)加強(qiáng)系統(tǒng)的測(cè)試能力,以滿足高速發(fā)展的集成電路產(chǎn)業(yè)的測(cè)試需求,針對(duì)多頻帶混合信號(hào)IC的測(cè)試需要,利用基于的測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)復(fù)雜的多頻帶混合信號(hào)芯片測(cè)試。

3國(guó)內(nèi)外現(xiàn)狀

近幾年,國(guó)內(nèi)外的測(cè)試行業(yè)都緊隨著IT技術(shù)的發(fā)展步伐,不斷地研究新器件的測(cè)試方法,開發(fā)、更新測(cè)試儀器,以適應(yīng)市場(chǎng)的需要。

由于國(guó)外對(duì)IC測(cè)試重視比較早,測(cè)試儀器的開發(fā)規(guī)模大、技術(shù)成熟,典型的如Credence公司的ASL系列大型測(cè)試系統(tǒng),采用了數(shù)字信號(hào)處理技術(shù),使IC制造商可以在單一平臺(tái)上測(cè)試所有用于消費(fèi)類音頻和視頻應(yīng)用的器件。我國(guó)在IC測(cè)試方面起步比較晚,雖然也研制出一些大型的具有混合IC測(cè)試功能的測(cè)試系統(tǒng),但對(duì)多種頻率范圍的混合信號(hào)芯片測(cè)試還沒有實(shí)用化。此外,大型的測(cè)試儀器尤其是進(jìn)口的測(cè)試儀器,價(jià)格非常昂貴,測(cè)試程序的開發(fā)和儀器的維護(hù)、維修費(fèi)用都非常高,目前國(guó)內(nèi)的測(cè)試儀市場(chǎng)主要集中于中、小型測(cè)試儀,因此,通過(guò)基于數(shù)字信號(hào)處理的儀器系統(tǒng)來(lái)實(shí)現(xiàn)多頻帶混合信號(hào)芯片的測(cè)試很有意義,其市場(chǎng)前景也非常好。目前,混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展方向,一個(gè)是要提高對(duì)高速和多頻帶IC的測(cè)試能力和測(cè)試效率,一個(gè)是要盡可能降低測(cè)試成本,因此,現(xiàn)今的測(cè)試系統(tǒng)必須以靈活的架構(gòu)來(lái)滿足多種混合信號(hào)測(cè)試的需求。業(yè)界主流的做法是將測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)一步模塊化,通過(guò)儀器子系統(tǒng)來(lái)獨(dú)立地處理信號(hào)和輸出測(cè)試結(jié)果,并在儀器子系統(tǒng)中集成高速信號(hào)處理模塊。此外,為了提高測(cè)試效率,合理利用資源,利用同一測(cè)試系統(tǒng)做多芯片并行測(cè)試也是一個(gè)發(fā)展趨勢(shì)。



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