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高密度、可見光LED的生產(chǎn)測試

作者: 時間:2011-07-15 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
電探測器的避光外殼

  7. 用于連接數(shù)字源表9針公D型輔助接頭與元件機械手的定制數(shù)字I/O線

  8. 用于連接測試設(shè)備與DUT和光電探測器的定制線束

  配置圖4中的系統(tǒng)需要下列設(shè)備:

  1. 2400型數(shù)字源表

  2. 6517A型靜電計/高電阻系統(tǒng)

  3. 7001型(或7002型)開關(guān)主機

  4. 7011型四1x10多路復用卡(每個卡可支持20對/PD)

  5. 三條8501型Trigger Link線纜

  6. 三條7007型IEEE-488接口線

  7. KPCI-488型IEEE-488計算機PC接口板

  8. 用于連接測試設(shè)備與待測器件的定制線束

  配置圖5中的系統(tǒng)需要下列設(shè)備:

  1. 2400型數(shù)字源表

  2. 兩條8501型Trigger Link線纜

  3. 8505型Trigger Link Y型適配器

  4. 三條7007型IEEE-488接口線

  5. KPCI-488型IEEE-488計算機PC接口板

  6. 安裝在測試夾具中的經(jīng)過校準的光電探測器

  7. 用于連接測試設(shè)備與待測器件的定制線束


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