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AVR內(nèi)部EEPROM讀寫范例

作者: 時間:2013-12-12 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

注意:

1、在CPU 寫Flash 存儲器的時候不能對EEPROM 進(jìn)行編程。

在啟動EEPROM 寫操作之前軟件必須檢查 Flash 寫操作是否已經(jīng)完成

步驟(2) 僅在軟件包含引導(dǎo)程序并允許CPU對Flash 進(jìn)行編程時才有用。

如果CPU 永遠(yuǎn)都不會寫Flash,步驟(2) 可省略。

2、如果在步驟5 和6 之間發(fā)生了中斷,寫操作將失敗。

因為此時EEPROM 寫使能操作將超時。

如果一個操作EEPROM的中斷打斷了另一個EEPROM操作,EEAR 或EEDR寄存器可能被修改,引起EEPROM 操作失敗。

建議此時關(guān)閉全局中斷標(biāo)志I。

經(jīng)過寫訪問時間之后,EEWE 硬件清零。用戶可以憑借這一位判斷寫時序是否已經(jīng)完成。

EEWE 置位后,CPU要停止兩個時鐘周期才會運(yùn)行下一條指令。

在掉電休眠模式下的EEPROM寫操作:

若程序執(zhí)行掉電指令時EEPROM 的寫操作正在進(jìn)行, EEPROM 的寫操作將繼續(xù),并在指定的寫訪問時間之前完成。

但寫操作結(jié)束后,振蕩器還將繼續(xù)運(yùn)行,單片機(jī)并非處于完全的掉電模式。因此在執(zhí)行掉電指令之前應(yīng)結(jié)束EEPROM 的寫操作。

防止EEPROM數(shù)據(jù)丟失:

若電源電壓過低,CPU和EEPROM有可能工作不正常,造成EEPROM數(shù)據(jù)的毀壞(丟失)。

**這種情況在使用獨(dú)立的EEPROM 器件時也會遇到。因而需要使用相同的保護(hù)方案。

由于電壓過低造成EEPROM 數(shù)據(jù)損壞有兩種可能:一是電壓低于EEPROM 寫操作所需要的最低電壓;二是CPU本身已經(jīng)無法正常工作。

EEPROM 數(shù)據(jù)損壞的問題可以通過以下方法解決:當(dāng)電壓過低時保持 RESET信號為低。這可以通過使能芯片的掉電檢測電路BOD來實現(xiàn)。如果BOD電平無法滿足要求則可以使用外部復(fù)位電路。若寫操作過程當(dāng)中發(fā)生了復(fù)位,只要電壓足夠高,寫操作仍將正常結(jié)束。(EEPROM在2V低壓下也能進(jìn)行寫操作---有可以工作到1.8V的芯片)

掉電檢測BOD的誤解:

自帶的BOD(Brown-out Detection)電路,作用是在電壓過低(低于設(shè)定值)時產(chǎn)生復(fù)位信號,防止CPU意外動作。

對EEPROM的保護(hù)作用是當(dāng)電壓過低時保持RESET信號為低,防止CPU意外動作,錯誤修改了EEPROM的內(nèi)容

而我們所理解的掉電檢測功能是指 具有預(yù)測功能的可以進(jìn)行軟件處理的功能。

例如,用戶想在電源掉電時把SRAM數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)存到EEPROM,可行的方法是外接一個在4.5V翻轉(zhuǎn)的電壓比較器(VCC=5.0V,BOD=2.7V),輸出接到外部中斷引腳(或其他中斷)一但電壓低于4.5V,馬上觸發(fā)中斷,在中斷服務(wù)程序中把數(shù)據(jù)寫到EEPROM中保護(hù)起來。

注意:寫一個字節(jié)的EEPROM時間長達(dá)8mS,所以不能寫入太多數(shù)據(jù),電源濾波電容也要選大一些。

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