時間抖動(jitter)的概念及其分析方法
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目前許多示波器生產廠家提供了跟示波器配套的分析軟件，可以按一定模型對Jitter做有效地分解分析。例如：Tektronix提供的TDS JIT3就是用來配套TDS5000以上示波器的Jitter分析套件。
2．誤碼率測試儀測量Jitter
前面提到Jitter會導致接收誤碼，反過來，如果能測得誤碼率的情況也應該能推出Jitter的特性。使用誤碼率分析儀測量Jitter的方法就是基于這種思想而提出的。
采用誤碼率分析儀通常采用兩個通道，將其中一個通道保持在眼圖的中心位置，而使用另一個通道完成誤碼率測試。這樣就不需要知道發(fā)送端碼流的情況，因而不需要重復發(fā)送某種模式的編碼。同時還能很好的解決同步問題。
通過對誤碼率分析儀可以對眼圖各個方向上進行掃描，得到眼圖的清晰輪廓，對于分析Jitter可以提供很多有價值的數據。
3．通過相位噪聲間接測量Jitter
如前所述，抖動和相位噪聲所描述的是同一現象的特征，因此，如果能從相位噪聲的測量結果中導出抖動的值將是有意義的。在對晶振測量時經常會給出相位噪聲這一指標，可以推到出該晶振可能帶來的抖動。
圖9 相位噪聲圖
每個振蕩器都有其相位噪聲圖，圖9給出一個例子。該圖中繪出的是從12kHz到10MHz這個頻帶范圍內，某振蕩器的相位噪聲情況。圖中，L(f)以功率譜密度函數的形式給出了邊帶噪聲的分布，單位為dBc。中心頻率的功率并不重要，因為抖動只反映了相位噪聲（即調制）與“純”中心頻率處的相對功率值。邊帶的總噪聲功率N可以由L(f)函數在整個感興趣頻段內（在本例中，即12KHz到10MHz頻段內）積分得到。
計算得到的是相位調制噪聲在該頻段內的功率，而相位調制正是造成抖動的原因。由此，我們還能用如下的定積分推出RMS抖動的值。
下式可求得該噪聲功率造成的RMS抖動：
總結
本文詳細介紹了時間抖動（Jitter）的定義，并分析了其產生的原因，給出的分析手段和測量方法。相信通過這篇文檔，用戶可以對Jitter有一個比較深刻的認識，希望本文可以對您的實際工作有所幫助。由于學識有限，文中難免有些紕漏，歡迎讀者和作者聯(lián)系指出。
參考文獻
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[3]電子發(fā)燒友，抖動的概念和抖動的測量方法,2008.11.27.
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