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降低熱插拔控制電路的電路電流

作者: 時(shí)間:2012-03-17 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
摘要:當(dāng)的輸出發(fā)生短路時(shí),會觸發(fā)內(nèi)部斷路器功能并斷開電路。但在內(nèi)部斷路器做出反應(yīng)之前,剛開始的短路電流可能達(dá)到數(shù)百安培。通常控制器斷路器的延遲時(shí)間是200ns至400ns,再加上柵極下拉電流有限,柵極關(guān)閉時(shí)間可能需要10μs至50μs。在此期間,會產(chǎn)生較大的短路電流。

本應(yīng)用筆記給出了一個(gè)簡單的外部電路,它能將初始電流尖峰降至最小并在200至500ns內(nèi)隔離短路故障。

典型電路

我們來考察采用MAX4272構(gòu)建的+12V、6A典型熱插拔(圖1)。根據(jù)MAX4272的規(guī)格指標(biāo),可知其包含觸發(fā)門限分別為50mV和200mV的低速和快速比較器(整個(gè)溫度范圍內(nèi),容限分別為43.5mV至56mV和180mV至220mV)。觸發(fā)電流大小通常為工作電流的1.5至2.0倍,選擇RSENSE = 5mΩ。RSENSE允許有5%的容限,過載條件下低速比較器的觸發(fā)電流范圍是8.28至11.76A;發(fā)生短路時(shí),快速比較器的觸發(fā)電流范圍是34A至46.2A。

降低熱插拔控制電路的電路電流
圖1. 典型的熱插拔

低速比較器的最低觸發(fā)門限比正常工作電流高38%,快速比較器的短路觸發(fā)門限是工作電流的6至8倍。

快速比較器的延遲時(shí)間為350ns,這一時(shí)段的短路電流尖峰僅受限于電路阻抗。此后電流緩慢下降,直至完全隔離短路故障,3mA柵極下拉電流限制了MOSFET M1柵極電容(3nF至4nF)的放電速率。短路電流在15μs至40μs內(nèi)緩慢減小,與此同時(shí),柵極電壓從19V被拉到接近地電位。

峰值短路電流

最初350ns內(nèi)的峰值電流由以下因素決定:
(a) 電源ESR,(b) 短路狀態(tài),(c) RSENSE阻值,(d) M1的RDS(ON),(e) M1的ID(ON)。

以上參數(shù)均采用最接近實(shí)際情況的取值,可以計(jì)算出短路時(shí)電路的總阻抗:
(電源ESR ≈ 4mΩ) + (短路環(huán)節(jié) ≈ 3mΩ) + (RSENSE = 5mΩ) + (RD(ON) ≈ 4mΩ) ≈ 16mΩ。

這時(shí),短暫的峰值電流為:ISC ≈ 750A,并取決于電源的儲能電容(帶2200μF電容的低ESR背板以750A電流放電時(shí),1μs內(nèi)電壓僅降低340mV)。這種情況下,實(shí)際的峰值ISC會由M1的ID(ON)限制到400A左右。

ID(ON)取決于VGS,因此有必要檢查電路,以確定這一時(shí)段的柵-源電壓。MAX4272包含一個(gè)內(nèi)部電荷泵,可使正常工作時(shí)的柵極電壓高出VIN約7V。因而MOS管導(dǎo)通時(shí)VGS = 7V。

短路的第二個(gè)影響是它實(shí)際上增加了VGS。短路在M1的漏-源之間引入了一個(gè)電壓階躍 -等于總輸入電壓的一部分。由于M1的RD(ON)約為預(yù)估的短路總阻抗的1/3,此時(shí)施加的VDS約為12V階躍電壓的1/3。由漏-柵電容cdg和柵-源電容cgs組成的分壓器會將該階躍電壓的一部分轉(zhuǎn)移到柵極。經(jīng)過適當(dāng)計(jì)算,可知引入的額外ΔVGS為300mV至500mV,但短路期間進(jìn)行的測試表明該值可高達(dá)ΔVGS = +3V。

至此可以清楚地看出,牢固可靠的短路會在幾微秒至幾十微秒內(nèi)產(chǎn)生數(shù)百安培的電流。

設(shè)計(jì)者可能希望將ISC峰值限制在50A,持續(xù)時(shí)間小于1μs,但如果不增加更快速的比較器和柵極下拉電路的話,這一要求是不切實(shí)際的。然而,可以考慮對電路做一些簡單的修改。
  1. 在內(nèi)部快速比較器最初的350ns響應(yīng)時(shí)間內(nèi),電流會由ID(ON)限制在幾百安以內(nèi),此時(shí)可以通過增加一個(gè)簡單的外部電路來加快柵極放電,從而將短路持續(xù)時(shí)間限制≤ ?μs。
  2. 或者用一個(gè)稍復(fù)雜的外部電路將Isc峰值限制在100A范圍內(nèi),并且持續(xù)時(shí)間≤ 200ns。

快速柵極下拉電路限制大短路電流的持續(xù)時(shí)間

只需增加一個(gè)PNP型達(dá)林頓管Q1,即可極大地縮短大短路電流的持續(xù)時(shí)間,如圖2所示。二極管D1允許柵極在導(dǎo)通狀態(tài)下正常充電,而關(guān)斷時(shí)控制器的3mA柵極放電電流改為直接驅(qū)動Q1的基極。然后Q1在約100ns時(shí)間內(nèi)迅速完成柵極放電。這樣,發(fā)生短路時(shí)的大電流持續(xù)時(shí)間大為縮短,僅略大于快速比較器350ns的延遲時(shí)間。

降低熱插拔控制電路的電路電流
圖2. 具有快速柵極下拉的熱插拔控制器

快速限流電路

借助圖3所示的電路,可以將短路電流限制在約100A以下,持續(xù)時(shí)間小于200ns。當(dāng)RSENSE兩端的電壓差達(dá)到約600mV時(shí),PNP型晶體管Q1a將觸發(fā)并驅(qū)動NPN型晶體管Q1b,從而使M1的柵極電容快速放電。

降低熱插拔控制電路的電路電流
圖3. 具有快速短路峰值電流限制功能的熱插拔控制器

M1柵極和源極之間的C2可進(jìn)一步減小發(fā)生短路時(shí)作用在柵極上的正向瞬態(tài)階躍電壓,該電容的取值范圍為10nF至100nF。

齊納二極管D1用來將VGS限制到7V (MAX4272提供該電壓)以下的某個(gè)值。

雖然齊納二極管D1在偏置電流為5mA時(shí)的額定值為5.1V,但在本電路中,MAX4272僅能輸出100μA的柵極充電電流(齊納二極管偏置電流),因此D1會將VGS限制在3.4V左右。受到限制的VGS可降低ID(ON),當(dāng)然RD(ON)會增大一些。根據(jù)MOS管的數(shù)據(jù)資料可知:VGS為3.4V時(shí)RD(ON)為5mΩ,VGS為7V時(shí)RD(ON)為3mΩ。這樣可以更快地關(guān)斷M1。

D1和C2也可以用在圖1和圖2的電路中,以降低短路時(shí)的ID(ON)。

測試方法-造成短路

沒有什么比制造短路更簡單了。

但要產(chǎn)生牢固可靠并且重復(fù)性較好的短路情況非常富有挑戰(zhàn)性。本測試對以下幾種制造短路的方法進(jìn)行了評估。
  • 機(jī)械開關(guān)閉合時(shí)總會出現(xiàn)幾毫秒的觸點(diǎn)抖動過程。旋轉(zhuǎn)式多觸點(diǎn)開關(guān)似乎可以避免類似情況發(fā)生,但由于多次大電流閉合所形成的電火花會腐蝕觸點(diǎn),因此開關(guān)的重復(fù)性令人懷疑。
  • 大電流繼電器觸點(diǎn)閉合時(shí)也會產(chǎn)生抖動,并且會表現(xiàn)出不同的閉合電阻。
  • 實(shí)驗(yàn)證明,可控硅整流器的電流上升速率不盡人意。
  • 大電流汞位移繼電器是人們寄予厚望的最佳方法,但結(jié)果并不令人滿意。一個(gè)標(biāo)稱阻抗4mΩ的60A、600V汞繼電器在剛開始接觸時(shí)阻抗為40mΩ,隨著電流脈沖流過15μs后會輕松降至4mΩ。
  • 手工短路操作可提供一種隨意的、斷續(xù)并且非重復(fù)性的短接方式,具有較強(qiáng)的隨機(jī)性!可以獲得非常陡的電流波前沿。綜上所述,盡管觸點(diǎn)腐蝕對每次閉合的重復(fù)性有影響,但這種方法仍是最有效(和最經(jīng)濟(jì))的。
最可行的實(shí)驗(yàn)室方法是采用多個(gè)大輸出CMOS施密特線路驅(qū)動器來驅(qū)動多個(gè)并連、低RD(ON)、NMOS晶體管。由于時(shí)間和資源所限,這一方案未被采納。

如果在實(shí)驗(yàn)室里通過機(jī)械手段,來始終如一地產(chǎn)生帶陡峭電流波前的真正低阻短路故障極為困難。電路工作時(shí)幾乎肯定會經(jīng)歷這種意外短路故障。

通常人為制造短路將產(chǎn)生如圖4所示的電容放電電流和電壓波形。上方曲線是選擇5V/div檔位時(shí)記錄的短路輸出電壓, 可以看出大部分時(shí)間(25μs/div)內(nèi)電容放電不足一半。下方曲線是選擇25A/div檔位時(shí)記錄的短路電流,可清楚地顯示出接觸是斷斷續(xù)續(xù)的。

降低熱插拔控制電路的電路電流
圖4. 不規(guī)則的機(jī)械短路信號波形

構(gòu)建ESR低于5mΩ的電源也不容易。盡管如此,仍竭盡全力構(gòu)建了一個(gè)低ESR (4–5mΩ)的電壓源,經(jīng)細(xì)心測量,可知在100A短路情況下電壓下降440mV。該電壓源的輸入端直接并聯(lián)了1個(gè)5500μF的計(jì)算機(jī)等級電解電容、1個(gè)3.3μF多層陶瓷電容以及6個(gè)100μF專業(yè)聚合物鋁電解電容,并由1個(gè)10A電源驅(qū)動。

短路電流波形

圖1所示電路(未作改進(jìn))的短路電流波形如圖5所示。由于測量的是電流檢測電阻RS兩端的電壓,并且示波器地與測試電路的+12V輸入端相連,因此信號波形看上去是反相的。RS為6mΩ,電壓檔位選擇1V/div,峰值電壓為2400mV或400A。電流波前并不像接觸良好時(shí)一樣陡峭。

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圖5. 電路未作改動時(shí)具有400A峰值短路電流

觀察圖6所示的電壓信號波形有助于加深理解,圖中給出了短路時(shí)的輸出電壓、M1柵極電壓波形以及RS兩端的電壓。所有電壓均以+12V輸入為參考。

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圖6. 電路未作改動時(shí)的短路電壓和電流波形

VOUT - VIN信號波形顯示,短路期間VOUT下降了7V,這表明短路阻抗只略低于總電路阻抗的?。更低阻抗的短路故障會產(chǎn)生高于400A的峰值電流。信號波形還表明在開始的300ns內(nèi)短路不是完全牢固可靠;這導(dǎo)致了VSENSE信號波形緩慢下落。

由VGATE波形可以看出,最初VGS = 7V,由于VOUT下降,1μs后增至10V左右。5μs后VGS僅降至9V,20μs時(shí)降至6V,33μs時(shí)降至4V。由于放電電流僅為3mA,因此柵極放電緩慢。這樣一來,發(fā)生短路故障后27μs內(nèi)短路電流仍為100A。

圖2的快速柵極下拉電路不大會降低最

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