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光電倒置開關研制及可靠性分析

作者: 時間:2013-09-12 來源:網(wǎng)絡 收藏
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光電倒置開關研制及可靠性分析

  圖6 波形分析程序設計流程圖


3 開關的性能檢測及

  3.1 正常波形分析

  對于一個完好的開關,不論是在常溫、高溫環(huán)境下,還是低溫環(huán)境下,所采集的波形應是已知的,都是占空比是251.5/360 的波形,正常波形如圖7 所示。

  

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  圖7 正常波形圖

  分析波形圖可以得出:

  占空比是Δx2/ Δx1 = 0.6961,和理論上的占空比251.5/360 = 0.6986 是相差很小,基本一致的。

  根據(jù)TI 公司提供的ADC12 內(nèi)核的轉換公式:

  

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  可得,電壓約為1.92V,和實際的2V 相差0.08V。

  3.2 異常波形分析

  在實際的開關檢測系統(tǒng)所得大量實驗數(shù)據(jù)中,不可能每一個開關的波形都和理想的波形一致,總會出現(xiàn)異常的數(shù)據(jù),引起這些異常數(shù)據(jù)的原因也是多樣的。

  1)異常波形如圖8,9 所示。

  

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  圖8 異常波形1

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關鍵詞: 光電倒置 開關研制 可靠性分析

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