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效率最好的內存測試電路開發(fā)環(huán)境

作者: 時間:2017-02-14 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

 

本文引用地址:http://2s4d.com/article/201702/343955.htm

  4.5 產(chǎn)生并設定 BFL 檔案

  unix% cd integratr/top_down_lab

  unix% brains --tempgen

  執(zhí)行上述指令,并選擇第三個選項,即可產(chǎn)生 brains_template.bfl 檔案。

  圖4-2. 產(chǎn)生 BFL 檔案范例

  BFL 檔案包含BIST 電路相關規(guī)格設定。使用者可根據(jù)實際project需求,來設定。圖4-3及圖4-4為一BFL設定范例。使用者亦可在example case中的reference文件夾找到相關范例檔案。

  n set verilog_path : ./run.f

  n set top_module_name : top

  n set top_hierarchy : top

  n set clock_trace : no

  n set auto_group : yes

  n set insertion : yes

  n set integrator_mode : yes

  n set work_path : ./mbist

  In define{BIST}:

  n set bist_interface : ieee1500

  n set clock_switch_of_memory : yes

  圖4-3. BFL 檔案范例 (1)

  圖4-4. BFL 檔案范例 (2)

  4.6 引用BFL檔案來執(zhí)行

  當BFL檔案設定完成時,用戶可執(zhí)行下列指令來運行。圖4-5和圖4-6為執(zhí)行過程圖。而相關執(zhí)行結果和輸出檔,則會輸出至mbist文件夾。其中,包含BIST電路design,合成相關script及模擬所需之testbench。

  unix% cd multi_lab/top_down_lab

  unix% brains -bfl brains_template.bfl

  圖4-5. Grouping 信息

  圖4-6. BIST Auto Insertion 信息

  4.7 設定 Memory Info 檔案

  Memory info 檔案提供使用者自行規(guī)劃grouping架構。使用者可根據(jù)實際project之需求,規(guī)劃想要的grouping架構。該檔案包含下列信息:

  n Memory module : Memory module name

  n Clock domain : Memory clock domain and working period

  n Group : Brians will group the memories

  n Diagnosis : To decide if the memory needs the full diagnosis feature

  n Hierarchy instance : Including hierarchy path and instance name of the memory

  在example case中也提供一范例檔案給用戶參考。請參考reference文件夾中的 BRAINS_memory_spec.meminfo 檔案。

  圖4-7. Memory Info設定范例

  4.8 引用Memory Info檔案來執(zhí)行

  若使用者想引用編寫好的memory info檔案,則可透過設定BFL檔案中的 memory_list 選項來指定該檔案路徑,并將auto_group 選項設定為no。如圖4-8所示。

  設定完后,同樣依據(jù)下列指令來執(zhí)行Brains。

  unix% cd multi_lab/top_dow_lab

  unix% brains -bfl brains_template.bfl

  圖4-8. 設定 auto_group 及 memory_list 選項

  圖4-9. Grouping 信息

  圖4-10. BIST Auto Insertion 信息



關鍵詞: 內存測試 Brains

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