胡為東系列文章之十二--參數(shù)測(cè)量中針對(duì)夾具或探頭

接下來(lái)，可以設(shè)置延時(shí)參數(shù)為217ps，去嵌前，S21 曲線應(yīng)該為一條傾斜的曲線，如下圖15 左側(cè)的黃色曲線所示，去嵌后，理論上S21 應(yīng)該為一條損耗為0 的水平直線，如果不是損耗為0 的水平直線，則可以通過(guò)微調(diào)損耗參數(shù)來(lái)達(dá)到，此時(shí)的損耗參數(shù)即可作為去嵌所需要的損耗參數(shù)。

六、使用時(shí)域Gating 方法對(duì)Gigaprobe 的去嵌示例

下面為對(duì)DVT40-1mm Gigaprobe 的去嵌示例。

使用Gigaprobe 對(duì)3inch 的PCB 走線進(jìn)行測(cè)量得到的阻抗曲線圖，從圖中我們可以大致分辨出哪部分是探頭的阻抗曲線，那部分是3inch 走線的阻抗曲線。

將兩個(gè)Gigaprobe 探頭的Tip 和Tip 連接到一起（實(shí)際應(yīng)用中，建議使用一段100mil的PCB 走線以使連接更可靠），如下圖18 所示，白色垂直虛線為兩個(gè)探頭的中心位置（探頭的Tip 的最末端），根據(jù)這個(gè)中心位置，我們可以預(yù)測(cè)出探頭的延時(shí)。然后我們可以通過(guò)S21 來(lái)得到探頭的損耗，將延時(shí)參數(shù)和損耗參數(shù)輸入到去嵌界面中即可實(shí)現(xiàn)對(duì)Gigaprobe 探頭的去嵌。

去嵌結(jié)果如下圖19 所示：

圖19 中，白色曲線為施加Gating 去嵌之前的3inch 走線的測(cè)試結(jié)果，綠色為需要?jiǎng)冸x部分（探頭）的阻抗曲線，粉紅色為使用Gating 去嵌原理剝離掉探頭阻抗曲線的結(jié)果，最下面的橙色曲線為3inch 走線對(duì)應(yīng)的阻抗曲線的放大。

下圖20 所示為使用力科的SPARQ 和時(shí)域Gating 去嵌方法實(shí)現(xiàn)對(duì)Gigaprobe 探頭進(jìn)行去嵌的兩篇技術(shù)白皮書：

七、參考文獻(xiàn)
[1]http://www.google.com.hk/patents/US20120323505?dq=Peter+++Time+Domain+Gating
+++SPARQ&hl=en&sa=X&ei=D83iUYzyAofokAX08IEo&ved=0CDYQ6AEwAA

[2]sparq_de-embedding_gigaprobes_using_time_domain_gating_rev_1.1，Dr.Alan
Blankman，Teledyne