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SPARQ系列述評之四―― VNA用戶的真實故事

作者: 時間:2010-11-15 來源:網絡 收藏

本文引用地址:http://2s4d.com/article/195228.htm

有一次,卡爾被問到如何提高測量的吞吐率。他說他已經以很快速度采集數據。他將被測器件與他的背板掛鉤起來,并演示了掃頻和產生S參數的速度是多么 之快。他從保存的目錄中回調了校準文件然后很快取得數據。取得S參數數據僅需幾分鐘時間。按照卡爾的觀點是非常容易使用的。

但是當卡爾被問到花了多長時間去測量背板上的8條線路時,他說“整個下午”。很顯然有一些時間是卡爾遺漏的。他意識到他的大部分時間都花在將背板送進 所在的實驗室內,通過痛苦和有時候是不可靠的校準過程以及連接線路。而且,之后還有大量工作去補償夾具對測量的負面影響,這一直是難以理解的過程。

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關鍵詞: SPARQ VNA

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