一種安全計算機板級測試系統(tǒng)的設(shè)計與實現(xiàn)
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1．2 系統(tǒng)硬件設(shè)計
測試控制器1的原理框圖如2所示，對應(yīng)于輸入／輸出板測試，主要包括電源控制、按鈕輸入信號轉(zhuǎn)換、動態(tài)信號轉(zhuǎn)換、輸出通道激勵信號轉(zhuǎn)換、輸入通道測試反饋、輸出通道測試反饋等模塊。對應(yīng)于邏輯板測試，主要包括電源控制、測試激勵信號轉(zhuǎn)換、測試反饋信號轉(zhuǎn)換和雙向數(shù)據(jù)信號防護等模塊。本文引用地址：http://2s4d.com/article/195005.htm
雙向數(shù)據(jù)信號防護模塊的原理框圖如圖3所示。邏輯板為ISA總線從設(shè)備，ISA總線的8位數(shù)據(jù)總線為雙向總線，其讀、寫信號不能同時為低。而對于數(shù)據(jù)采集卡而言，其輸入數(shù)據(jù)和輸出數(shù)據(jù)只能分開設(shè)置，因此設(shè)置該模塊完成讀、寫信號同時為低保護邏輯。當(dāng)數(shù)據(jù)采集卡輸出的讀、寫信號同時為低時，該單元輸出的ISA總線讀信號強制為高，只要讀、寫信號不同時為低，該單元輸出的ISA總線讀信號為直通邏輯。同時通過設(shè)置輸入緩沖和輸出緩沖單元，8位測試激勵數(shù)據(jù)只有在該單元輸出的ISA總線讀信號為低時由輸入緩沖單元輸出到ISA總線上，否則輸出緩沖單元將其輸出置成三態(tài)而不影響對寫信號的測試。
測試控制器2的原理框圖如圖4所示，對應(yīng)于3U組件測試，主要包括電源控制、輸入信號轉(zhuǎn)換、輸出信號轉(zhuǎn)換等模塊。對應(yīng)于AC 220 V-DC 12 V電源組件和通信板測試，主要包括電源控制模塊。對應(yīng)于安全電源板和繼電器組件測試，主要包括電源控制、輸入信號轉(zhuǎn)換等模塊。
需要指出的是DAC輸入、輸出信號(即測試激勵信號、測試輸出信號，TTL／CMOS電平信號)首先需要進行電平緩沖，其電源優(yōu)選來自于數(shù)據(jù)采集卡輸出電源。該電路也可用于測試控制器和待測電路板之間的電平緩沖。
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