探頭是如何加重電路負載

現(xiàn)在我們可以將不同負載的示波器探頭接到測試點上，觀察它們對電路的影響。

圖3.13展示了一個TEKTRONIX P6137探頭連接到測試點時的情形。P6137是一個10倍衰減，10PF的100MΩ類型探頭，應探頭連接到400MHZ的便攜式示波器。第一個波形是沒有加載探頭時的記錄結果；第二個波形是加載了帶有6IN長接地線探頭時記錄的結果；第三個波形是將裸探頭的尖端觸點直接接觸測試點A，探頭外殼用刀片直接接地時得到的結果。

第一個波形的上升時間最好，為600PS，并伴有中等程度的振鈴。第二個波形則在上升時間上有所劣化，并在最初的上升沿后有較大下沖。第一個波形也有波動，但波動保持在漸近線上下半個刻度的范圍之內。最后一個波形的上升時間顯示為800PS，而且波動很小。

讓我們來計算預期的上升時間劣化，然后與這些實驗結果進行比較。

如第三個波形所示，當連接的串聯(lián)電感很小時，探頭等效于一個簡單的電容負載。圖3.12所示的測試點等效信號源端阻抗為25歐，當耦合到10PF的容性負載時，其RC上升時間是：

這個值正好對應了800PS的測量結果，達到了我們預期的精確程度。

當探頭負載使信號上升時間增加了200PS時，信號的延遲僅增加了100PS，這是因為大多數(shù)門電路的轉換時間是在上升沿的中部，而不是10%或90%點的位置。