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更好、更快的開(kāi)環(huán)增益測(cè)試方法

• 　　在使用反饋的系統(tǒng)中，反饋網(wǎng)絡(luò)是一種經(jīng)過(guò)配置而獲得特定增益和相位關(guān)系的電路，比如，一個(gè)可調(diào)節(jié)的比例積分差分(PID)控制器，用于調(diào)整環(huán)路的增益或相位以保證穩(wěn)定性(見(jiàn)圖1)。我們往往需要對(duì)這個(gè)反饋網(wǎng)絡(luò)在特定配置下的性能進(jìn)行測(cè)量，以便對(duì)它的開(kāi)環(huán)特性建立模型。但這樣的測(cè)試通常總是很困難的。例如，積分器的低頻增益可以非常高，一般會(huì)超出常用測(cè)試儀的測(cè)量范圍。所以，這些測(cè)試的目的是，使用現(xiàn)有的工具和少量的專(zhuān)用電路，以最小的工作量，快速地得到網(wǎng)絡(luò)頻率響應(yīng)的特性。 圖1? 一個(gè)基本的反饋系統(tǒng) 　　舉例
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