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基于PXI和LabVIEW的FCT(Functional Circuit Test)

  • 挑戰(zhàn)：通過PXI 控制板卡和LabVIEW軟件，構(gòu)建一套比較完整齊全的PCB板的功能測(cè)試(FCT)系統(tǒng)，利用該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對(duì)音頻視頻以及各種靜態(tài)參數(shù)（電壓、電流、頻率）的綜合性全自動(dòng)測(cè)試，對(duì)于新開發(fā)生產(chǎn)的PCB板，工廠無需頻
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NI今日發(fā)布 Measurement Studio 2009

  • 　　美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)于今日發(fā)布了Measurement Studio 2009，幫助使用Microsoft Visual Studio 2008、Visual Studio 2005或Visual Studio .NET 2003的工程師縮短創(chuàng)建測(cè)試及測(cè)量應(yīng)用的開發(fā)時(shí)間。Measurement Studio 2009通過提供集成 I/O支持、本地庫和用戶界面更新等功能簡(jiǎn)化了數(shù)據(jù)采集、分析和顯示。軟件引入了對(duì)最新PC技術(shù)的支持，包括64位 .NET應(yīng)
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NI發(fā)布Measurement Studio 8.1，進(jìn)一步簡(jiǎn)化遠(yuǎn)程監(jiān)控功能的操作

  •  工程師們現(xiàn)在可以輕松實(shí)現(xiàn)對(duì)于分布式測(cè)試系統(tǒng)的遠(yuǎn)程監(jiān)控 美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱NI）宣布了Measurement Studio8.1版本的發(fā)布，這是一套基于Micorsoft Visual Studio，并專用于測(cè)試、測(cè)量和自動(dòng)化應(yīng)用的完整類庫和用戶界面控件。Measurement Studio 8.1簡(jiǎn)化和加速了使用全新網(wǎng)絡(luò)變量的遠(yuǎn)程監(jiān)控過程，這些網(wǎng)絡(luò)變量幫助工程師在Microsoft&n
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NI發(fā)布Measurement Studio 8.1簡(jiǎn)化遠(yuǎn)程監(jiān)控功能的操作

  • NI發(fā)布Measurement Studio 8.1，進(jìn)一步簡(jiǎn)化遠(yuǎn)程監(jiān)控功能的操作 工程師們現(xiàn)在可以輕松實(shí)現(xiàn)對(duì)于分布式測(cè)試系統(tǒng)的遠(yuǎn)程監(jiān)控 美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱NI）宣布了Measurement Studio8.1版本的發(fā)布，這是一套基于Micorsoft Visual Studio，并專用于測(cè)試、測(cè)量和自動(dòng)化應(yīng)用的完整類庫和用戶界面控件。Measurement Studio 8.
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科利登獲《測(cè)試與測(cè)量世界》Best in Test Award

  • 科利登系統(tǒng)有限公司(Credence Systems Corporation, 納斯達(dá)克代碼：CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系統(tǒng)榮獲2006年度《測(cè)試與測(cè)量世界》雜志授予的”Best in Test award”（譯：最佳測(cè)試獎(jiǎng)）獎(jiǎng)項(xiàng)。 Sapphire D-10是下一代成本敏感型消費(fèi)類芯片測(cè)試系統(tǒng)。Sapphire D-10是一款極緊湊的測(cè)試系統(tǒng)，它采用先進(jìn)科技，集成了更多更好的特性功能。Sapph
  • 關(guān)鍵字： Award  Best  in  Test  測(cè)試與測(cè)量世界  科利登  測(cè)試測(cè)量  
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