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EEPW首頁 >> 主題列表 >> tessent in-system test

基于SYSTEM C的FPGA設(shè)計方法

  • 一、概述  隨著VLSI的集成度越來越高，設(shè)計也越趨復(fù)雜。一個系統(tǒng)的設(shè)計往往不僅需要硬件設(shè)計人員的參與，也需要有軟件設(shè)計人員的參與。軟件設(shè)計人員與硬件設(shè)計人員之間的相互協(xié)調(diào)就變的格外重要，它直接關(guān)系到工作的效率以及整個系統(tǒng)設(shè)計的成敗。傳統(tǒng)的設(shè)計方法沒有使軟件設(shè)計工作與硬件設(shè)計工作協(xié)調(diào)一致，而是將兩者的工作割裂開來。軟件算法的設(shè)計人員在系統(tǒng)設(shè)計后期不能為硬件設(shè)計人員的設(shè)計提供任何的幫助。同時現(xiàn)在有些大規(guī)模集成電路設(shè)計中往往帶有DSP Core或其它CPU Core。這些都使得單
  • 關(guān)鍵字： C  FPGA  SYSTEM  單片機(jī)  嵌入式系統(tǒng)  

On-card power system design

  • It''s no secret that on-card power systems are rapidly increasing in complexity.  Leading edge ICs are demanding lower and lower voltages and multiple voltage rails that must be applied in the correct sequence.  At the same time, the current the
  • 關(guān)鍵字： power  system  嵌入式  

Choosing a power system for portables

  • Manufacturers of portable devices quickly discover that it is difficult to equip a portable device with the right battery pack. The selection of a battery cell will have a major impact on the functionality, size, cost, and success of a portable device. De
  • 關(guān)鍵字： power  protables  system  

科利登獲《測試與測量世界》Best in Test Award

  • 科利登系統(tǒng)有限公司(Credence Systems Corporation, 納斯達(dá)克代碼：CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系統(tǒng)榮獲2006年度《測試與測量世界》雜志授予的”Best in Test award”（譯：最佳測試獎）獎項。 Sapphire D-10是下一代成本敏感型消費(fèi)類芯片測試系統(tǒng)。Sapphire D-10是一款極緊湊的測試系統(tǒng)，它采用先進(jìn)科技，集成了更多更好的特性功能。Sapph
  • 關(guān)鍵字： Award  Best  in  Test  測試與測量世界  科利登  測試測量  
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tessent in-system test介紹

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