首頁　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會(huì)展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊(cè) 　 Datasheet　 100例 　 活動(dòng)中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請(qǐng)
EEPW首頁 >> 主題列表 >> tessent in-system test

On-card power system design

  • It''s no secret that on-card power systems are rapidly increasing in complexity.  Leading edge ICs are demanding lower and lower voltages and multiple voltage rails that must be applied in the correct sequence.  At the same time, the current the
  • 關(guān)鍵字： power  system  嵌入式  

Choosing a power system for portables

  • Manufacturers of portable devices quickly discover that it is difficult to equip a portable device with the right battery pack. The selection of a battery cell will have a major impact on the functionality, size, cost, and success of a portable device. De
  • 關(guān)鍵字： power  protables  system  

科利登獲《測(cè)試與測(cè)量世界》Best in Test Award

  • 科利登系統(tǒng)有限公司(Credence Systems Corporation, 納斯達(dá)克代碼：CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系統(tǒng)榮獲2006年度《測(cè)試與測(cè)量世界》雜志授予的”Best in Test award”（譯：最佳測(cè)試獎(jiǎng)）獎(jiǎng)項(xiàng)。 Sapphire D-10是下一代成本敏感型消費(fèi)類芯片測(cè)試系統(tǒng)。Sapphire D-10是一款極緊湊的測(cè)試系統(tǒng)，它采用先進(jìn)科技，集成了更多更好的特性功能。Sapph
  • 關(guān)鍵字： Award  Best  in  Test  測(cè)試與測(cè)量世界  科利登  測(cè)試測(cè)量  
共48條 4/4 |‹ « 1 2 3 4

tessent in-system test介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條tessent in-system test!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)tessent in-system test的理解，并與今后在此搜索tessent in-system test的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473