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針對(duì)SMD晶體器件檢測(cè)的機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
- SMD(晶體諧振器)晶體器件檢測(cè)是在晶體器件生產(chǎn)流程中一道至關(guān)重要的工序,晶體器件的所有電性能指標(biāo)經(jīng)過(guò)該道工序的檢測(cè)后,合格品即可包裝出廠。由于其是最后一道檢測(cè)工序,因此其檢測(cè)的正確率直接影響到出廠產(chǎn)品的品質(zhì)。一般來(lái)說(shuō),在批量生產(chǎn)中同一批次的產(chǎn)品中誤測(cè)率必須小于2ppm,即一百萬(wàn)個(gè)出廠產(chǎn)品中,不能出現(xiàn)2個(gè)不合格品,否則購(gòu)買該批次產(chǎn)品的用戶就會(huì)要求退貨。而對(duì)于出口產(chǎn)品,用戶的要求則會(huì)更加嚴(yán)格,除了要求電性能指標(biāo)要符合要求外,印制在SMD器件外殼上的標(biāo)記的方向也必須保持一致。因此,為了提高產(chǎn)品的出廠品質(zhì),除了
- 關(guān)鍵字: SMD 晶體 201107
PTC熱敏電阻-通訊設(shè)備配線架過(guò)流過(guò)載保護(hù)
- PTC熱敏電阻-通訊設(shè)備配線架過(guò)流過(guò)載保護(hù)
- 關(guān)鍵字: PTC 熱敏電阻 過(guò)載保護(hù)
PTC熱敏電阻-馬達(dá)啟動(dòng)
- PTC熱敏電阻-馬達(dá)啟動(dòng)
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PTC熱敏電阻-過(guò)熱保護(hù)
- PTC熱敏電阻-過(guò)熱保護(hù)
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