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PXI Express將PXI平臺(tái)推向新應(yīng)用領(lǐng)域(圖)
- PXI Express將PXI平臺(tái)推向新應(yīng)用領(lǐng)域(圖),
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NI發(fā)布集成PXI監(jiān)視器和鍵盤附件
- 美國國家儀器中國有限公司近日發(fā)布了帶有集成鍵盤的NI PMA-1115便攜監(jiān)測器,該P(yáng)MA可以連接到NI的任何8槽或者PXI Express機(jī)箱。在PXI的不同應(yīng)用領(lǐng)域,該產(chǎn)品與PXI機(jī)箱的配合使用都非常理想,如汽車,自動(dòng)測試設(shè)備以及航空航天和國防等產(chǎn)業(yè)中車輛測試,手機(jī)故障診斷和個(gè)人自動(dòng)測試執(zhí)行程序等應(yīng)用。 “在皇家荷蘭海軍中,PXI是國防應(yīng)用的自然選擇。” Richard van der Weide說道,“我們需要使用獨(dú)立的NI LabVIEW和基于PXI的
- 關(guān)鍵字: NI PXI 觸摸屏
PXI Express:支持高性能混合信號(hào)測試平臺(tái)
- PXI Express的技術(shù)優(yōu)勢 由于PXI標(biāo)準(zhǔn)采用了PCIe技術(shù),PXI自動(dòng)化測試系統(tǒng)提供了前所未有的高性能。在有些情況下,PXI儀器現(xiàn)在可以執(zhí)行一些迄今一直無法完成的測量。 PXI Express是由PXI擴(kuò)展所得。新型PXI Express機(jī)箱提供了支持PXI與PXI Express模塊協(xié)同工作于同一系統(tǒng)的混合兼容的插槽。所以
- 關(guān)鍵字: PXI Express PCIe技術(shù)
PXI在重離子加速器-冷卻存儲(chǔ)環(huán)控制系統(tǒng)的應(yīng)用(04-100)
- HIRFL-CSR工程 蘭州近代物理所HIRFL-CSR(重離子加速器-冷卻存儲(chǔ)環(huán))工程是國家九五重點(diǎn)國家重大科學(xué)工程。HIRFL-CSR是一個(gè)集加速、累積、冷卻 、儲(chǔ)存、內(nèi)靶實(shí)驗(yàn)及高分辨測量于一體的多功能實(shí)驗(yàn)裝置。 蘭州近代物理所HIRFL-CSR包括:主環(huán)(CSRm)、實(shí)驗(yàn)環(huán)(CSRe)、束運(yùn)線、放射性束(RIB)分離器、實(shí)驗(yàn)探測裝置。主環(huán)周長161米,最高加速能量為900MeV/u(12C6+)和400MeV/u(238U72+),試驗(yàn)環(huán)周長129米,最大接收能量為600MeV/u
- 關(guān)鍵字: PXI 重離子加速器 冷卻存儲(chǔ)環(huán)控制系統(tǒng)
PXI模塊在調(diào)試和測試移動(dòng)電話特性中的應(yīng)用
- 引言 測試是成本中應(yīng)避免的支出。移動(dòng)電話的生產(chǎn)測試成本可能會(huì)占項(xiàng)目總成本較大的一部分。在移動(dòng)電話測試中,決定其參數(shù)和功能測試的程度是相當(dāng)復(fù)雜的,必須對(duì)生產(chǎn)線變化以及在測試過程和設(shè)計(jì)成熟時(shí)加以評(píng)估。以調(diào)試為目的進(jìn)行的測試與其它測試略有差別,調(diào)試在生產(chǎn)過程中是重要的增值步驟,而不單只是驗(yàn)證過程。調(diào)試的需求直接與器件的設(shè)計(jì)相關(guān),在此階段采用PXI模塊儀器有助于改進(jìn)生產(chǎn)率和降低對(duì)功能測試的要求。 生產(chǎn)測試過程 印刷電路板(PCB)生產(chǎn)和手機(jī)生產(chǎn)是兩個(gè)分開的制程。測試過程是從PCB生產(chǎn)線已裝滿
- 關(guān)鍵字: 模塊儀器 VXI PXI 移動(dòng)電話
PXI射頻模塊儀表在手機(jī)生產(chǎn)測試上的應(yīng)用
- 如今的手機(jī)生產(chǎn)測試面臨越來越復(fù)雜的環(huán)境,一邊是多種頻段和多制式的挑戰(zhàn),一邊是生產(chǎn)測試速度的壓力,同時(shí)還面臨測試成本的壓力。確定手機(jī)射頻參數(shù)和功能檢驗(yàn)測試的合適的深度和廣度是比較復(fù)雜的,它需要我們隨著生產(chǎn)線的變化,產(chǎn)品本身的成熟度的提升不斷尋找平衡點(diǎn)。射頻校準(zhǔn)在整個(gè)生產(chǎn)流程中,它是一個(gè)增加產(chǎn)品價(jià)值的步驟,它的測試要求直接與產(chǎn)品的設(shè)計(jì)有關(guān)。 生產(chǎn)測試流程 這里的生產(chǎn)測試不包括PCB(印刷電路板)生產(chǎn),當(dāng)PCB投入到手機(jī)組裝線上時(shí),生產(chǎn)測試流程開始,由此手機(jī)將經(jīng)歷5個(gè)操作步驟: &midd
- 關(guān)鍵字: PXI,射頻模塊儀表
基于Labview & PXI的發(fā)動(dòng)機(jī)管理模塊測試
- 介紹:發(fā)動(dòng)機(jī)管理模塊作為汽車傳動(dòng)力控制的核心部件,其生產(chǎn)質(zhì)量檢測是保證整個(gè)產(chǎn)品生產(chǎn)過程完整的重要步驟。為了模擬發(fā)動(dòng)機(jī)特定的實(shí)際工作狀況,需要在同一系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)多輸入輸出信號(hào)的集成控制和采集。為此,我們使用NI公司的基于PXI總線及其部件的硬件平臺(tái),配以虛擬儀器技術(shù)LabVIEW開發(fā)的軟件控制系統(tǒng),設(shè)計(jì)了一套高度集成,穩(wěn)定可靠的自動(dòng)化測試系統(tǒng)。該測試系統(tǒng)由PXI測試儀,配線板,信號(hào)調(diào)理及通訊板,電源,負(fù)載箱,測試夾具組成。測試時(shí)操作員將模塊放入夾具后,掃描條碼后開始自動(dòng)測試。根據(jù)不同的車型編寫配置文件,完成對(duì)康
- 關(guān)鍵字: Labview , PXI,發(fā)動(dòng)機(jī)管理模塊
基于LabVIEW和PXI的轉(zhuǎn)向架測試平臺(tái)
- 在城市軌道車輛轉(zhuǎn)向架測試中,需要測量大量的應(yīng)變、電壓和加速度等信號(hào),這不僅要求數(shù)據(jù)的高速實(shí)時(shí)采集而且也要設(shè)備具有很高的穩(wěn)定性和可靠性。使用美國National Instruments 高效可靠的PXI 總線設(shè)備和LabVIEW 快速圖形開發(fā)環(huán)境,快速建立起的多功能轉(zhuǎn)向架測試平臺(tái)。實(shí)踐應(yīng)用證明,完全達(dá)到了系統(tǒng)設(shè)計(jì)時(shí)的各項(xiàng)要求。
- 關(guān)鍵字: LabVIEW,PXI,測試平臺(tái)
基于LabVIEW和PXI的軋機(jī)振動(dòng)紋在線監(jiān)診系統(tǒng)
- 本文采用PXI體系結(jié)構(gòu),以NI公司的LabVIEW 6i為軟件開發(fā)平臺(tái),結(jié)合Sound and Vibration Toolkit提供的強(qiáng)大的分析功能,對(duì)現(xiàn)場生產(chǎn)過程實(shí)現(xiàn)監(jiān)測診斷功能。該系統(tǒng)能在工業(yè)現(xiàn)場環(huán)境下穩(wěn)定可靠地實(shí)時(shí)采集振動(dòng)、工藝和設(shè)備參數(shù),指導(dǎo)生產(chǎn)操作和設(shè)備維護(hù),為提高鋼鐵產(chǎn)品的質(zhì)量提供手段。
- 關(guān)鍵字: LabVIEW,PXI,SCXI,帶鋼,振動(dòng)紋
基于LabVIEW和PXI的測控平臺(tái)
- 工程設(shè)計(jì)和研究開發(fā)需要大量復(fù)雜的試驗(yàn),常常需要把各種設(shè)備組合在一起構(gòu)成統(tǒng)一的測試平臺(tái)。在實(shí)驗(yàn)室熱工水力學(xué)測控平臺(tái)中不但需要許多設(shè)備,而且需要模擬和仿真許多設(shè)備。這樣做不但可減少投資和運(yùn)行成本,也為加快試驗(yàn)進(jìn)度提供了必要條件,計(jì)算機(jī)和虛擬儀器技術(shù)在構(gòu)建這種平臺(tái)過程中發(fā)揮了巨大作用。
- 關(guān)鍵字: LabVIEW,PXI,測控平臺(tái)
基于PXI Express的高速混合信號(hào)測試系統(tǒng)
- PXI Express為PXI儀器平臺(tái)增添了眾多的技術(shù)優(yōu)勢,開辟了許多新興測量領(lǐng)域。PXI Express儀器系統(tǒng)提供的高達(dá)2GB/s的數(shù)據(jù)吞吐量使得以前只能通過定制硬件或是昂貴的專用儀器才能實(shí)現(xiàn)的高速測量應(yīng)用變?yōu)榭赡堋? PXI Express技術(shù)概覽 基于最新的PCI Express技術(shù),PXI Express使PXI背板帶寬從132 MB/s 增加至6 GB/s,提升幅度超過45倍。除了PXI現(xiàn)有的定時(shí)和同步功能,PXI Express還提供了附加的定時(shí)和觸發(fā)總線,包括100 MHz差
- 關(guān)鍵字: 測試 測量 0711_A 雜志_專題 PXI 信號(hào)測試 測量工具
NI推出業(yè)界首款PXI Express系統(tǒng)定時(shí)控制器
- 美國國家儀器有限公司(National Instruments ,簡稱NI)宣布推出全新NI定時(shí)工具,包括:業(yè)內(nèi)首款PXI Express定時(shí)與同步控制器,以及能夠在GPS、IRIG(Inter-Range Instrumentation Group)和IEEE 1588上同步PXI系統(tǒng)的PXI模塊。有了這些全新工具,工程師們可獲得PXI系統(tǒng)中更優(yōu)質(zhì)的同步和時(shí)間碼功能,這對(duì)于自動(dòng)化測試和數(shù)據(jù)采集應(yīng)用中多種系統(tǒng)的同步、事件的準(zhǔn)確時(shí)間標(biāo)注、測量精度的提升而言,意義重大。 這些新的定時(shí)特性在大型分布式系統(tǒng)(
- 關(guān)鍵字: 工業(yè)控制 美國國家儀器 定時(shí)控制器 PXI 傳感器
用開放測試平臺(tái)R&S CompactTSVP快速實(shí)現(xiàn)數(shù)字功能性測試
- 借助羅德與施瓦茨公司基于PXI的生產(chǎn)測試平臺(tái)R&S CompactTSVP的新選件,即使在需要進(jìn)行大量數(shù)據(jù)運(yùn)算的領(lǐng)域,快速數(shù)字功能性測試也可以實(shí)現(xiàn)。全新的高速數(shù)字測試模塊R&S TS-PHDT支持高達(dá)40MHz的數(shù)據(jù)速率以及1.5GB的存儲(chǔ)容量。測試電子組件所需要的激勵(lì)信號(hào)、期望值以及實(shí)測值都可以存儲(chǔ)在本地。由于模塊內(nèi)部能實(shí)時(shí)對(duì)比實(shí)測值與期望值,記錄的測試數(shù)據(jù)不再需要傳送到系統(tǒng)控制器,因此節(jié)約了大量的測試時(shí)間。 R&S TS PHDT,這個(gè)小
- 關(guān)鍵字: 嵌入式系統(tǒng) 單片機(jī) R&S CompactTSVP PXI 嵌入式
NI發(fā)布基于PXI總線的數(shù)字萬用表PXI-4065
- 美國國家儀器有限公司(NationalInstruments,簡稱NI)發(fā)布全新的PXI總線61/2位數(shù)字萬用表——NIPXI-4065。用戶可以將全新萬用表與150多種現(xiàn)有的NIPXI開關(guān)配置相結(jié)合,在集成了控制器的高性價(jià)比NIPXI-1033機(jī)箱中創(chuàng)建高通道數(shù)、高達(dá)48或784通道的61/2位數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng)能提供。為了系統(tǒng)的進(jìn)一步擴(kuò)展,用戶還可使用18槽機(jī)箱來實(shí)現(xiàn)3,000個(gè)通道的加量。 使用NI-
- 關(guān)鍵字: 測試 測量 NI PXI 數(shù)字萬用表 PXI-4065 測試測量
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