ni-visa 文章 最新資訊
NI 發(fā)布全新視覺開發(fā)模塊8.5版本
- 美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)發(fā)布了最新版本的視覺開發(fā)模塊,是一個用于圖像處理和機器視覺領域功能完整的函數(shù)庫,支持包括NI LabVIEW、LabWindows/CVI、Microsoft C、C++、 Visual Basic 和 .NET在內的多種程序設計語言。通過該模塊升級后的邊緣檢測算法,以及對全新2-D編碼的支持等特點,機械設計師可以更高效地提高圖像質量、核對數(shù)目、定位特征、識別目標以及測量
- 關鍵字: 嵌入式系統(tǒng) 單片機 NI 開發(fā)模塊 圖像處理 MCU和嵌入式微處理器
NI即將于11月1日在北京舉辦NIDays 2007測量、控制和設計年度技術盛會
- 美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)2007至2008年度全球巡回NIDays測量、控制和設計領域技術盛會已經拉開帷幕,中國站的活動將于2007年11月1日在北京長城飯店舉辦。本次NIDays的主題將圍繞“如何幫助您成為‘技術之星’”展開,全天的會議將由技術內容領先、形式新穎的主題演講;5大專題20場技術講座;涵蓋測試、控制和設計3大應用領域的系統(tǒng)演示;ADI、Xilinx、泰克、樂高教育等知名廠商聯(lián)合參與;以及呼應主題的“虛擬儀器奧斯卡頒獎盛典”等亮點組成
- 關鍵字: 消費電子 NI 北京 美國國家儀器有限公司 消費電子
NI發(fā)布以600 MBytes/s速率持續(xù)數(shù)據流盤的PXI設備
- 美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)為工程師最新提供基于PXI的、有史以來持續(xù)流盤速率最高的數(shù)據流盤設備,進一步豐富了工業(yè)標準的PXI測試測量平臺。這批PXI設備(均基于PXI Express規(guī)范)包括模塊化儀器、嵌入式控制器和RAID磁盤陣列,提供高達600 MBytes/s的持續(xù)磁盤記錄和回放速度。通過這些全新的數(shù)據流盤功能,工程師們可以獲得更高的持續(xù)信號采集和生成速率、縮短測試時間,并滿足新應用的挑戰(zhàn)。與此相比,之前采用專用系統(tǒng)的數(shù)
- 關鍵字: 模擬技術 電源技術 NI PXI設備 數(shù)據流 模擬IC
NI發(fā)布LabVIEW 8.5版本,助您自在享受多核時代的到來
- 美國國家儀器有限公司正式推出專用于測試、控制和嵌入式系統(tǒng)開發(fā)的LabVIEW圖形化系統(tǒng)設計平臺的最新版本——LabVIEW 8.5。基于NI近十年來在多線程技術上的投資,LabVIEW 8.5憑借其本質上的并行數(shù)據流特性,簡化了多核以及FPGA應用的開發(fā)。隨著處理器廠商通過并行多核構架獲得性能上的提升,運行在這些新處理器上的LabVIEW 8.5可以提供更高的測試吞吐量、更有效的處理器密集型(processor-intensive)的分析、以及運行在指定處理器核上的、更可靠的
- 關鍵字: 嵌入式系統(tǒng) 單片機 NI LabVIEW 8.5 測試 測量 嵌入式
NI發(fā)布用于高性價比 基于PXI總線的位數(shù)字萬用表
- 美國國家儀器有限公司(National Instruments)發(fā)布全新的PXI總線6½ 位數(shù)字萬用表——NI PXI-4065,繼續(xù)擴展其數(shù)字萬用表產品線。高性價比的PXI-4065數(shù)字萬用表具備6½ 位的性能, 為可靠的、高通道數(shù)據記錄測量系統(tǒng)提供了全新的入門級解決方案。工程師們可以將全新萬用表與150多種現(xiàn)有的NI PXI 開關配置相結合,在集成了控制器的高性價比N
- 關鍵字: 測試 測量 NI PXI總線 數(shù)字萬用表
NI發(fā)布測試管理軟件TestStand 4.0版
- 美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)最新發(fā)布了測試管理軟件TestStand 的最新4.0版本,旨在幫助工程師們更高效地開發(fā)和發(fā)布他們的自動化驗證和生產測試系統(tǒng)。該版本的特點是增加了一個簡化的序列編輯器,從而縮短研發(fā)時間,并提高易用性。工程師們可以通過這一全新的序列編輯器輕松配置NI TestStand開發(fā)環(huán)境,以適應高級系統(tǒng)的功能性要求,或者幫助新手更快地學習使用基本的軟件功能。使用這一序列編輯器中預裝的可復用步驟模版,工程師們可以非常容易地使用這一測試模板,在
- 關鍵字: NI TestStand 測量 測試
泛華測控與NI聯(lián)手舉辦(長春)汽車電子測試技術專題研討會
- 北京中科泛華測控技術有限公司(www.pansino.com.cn)將于6月21日與美國國家儀器有限公司(NI中國)聯(lián)手在長春花園酒店舉辦“汽車電子測試技術專題研討會”。作為虛擬儀器技術的創(chuàng)始人和倡導者,NI公司和泛華測控在汽車電子測試領域擁有多年的經驗和眾多專業(yè)產品,并得到客戶的認可!我們將在此次研討會上與廣大汽車電子工程師們一同分享功能強大的測控產品、成熟完整的解決方案及尖端核心的測試技術! 全天的會議將圍繞“汽車電子測試產品和技術”展開,同時結合國內經典應用案例和專業(yè)汽車電子測試產品介紹,
- 關鍵字: NI 測量 測試 泛華測控 汽車電子 汽車電子
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